[發明專利]一種適用同一天線的大批量有源測試方法

有效

• 申請號: 201610038871.1
• 申請日: 2016-01-21
• 公開（公告）號: CN105704281B
• 公開（公告）日: 2019-02-19
• 發明（設計）人: 陳張軍;涂赫
• 申請（專利權）人: 上海煜鵬通訊電子股份有限公司
• 主分類號: H04M1/24
• 分類號: H04M1/24
• 代理公司: 上海三方專利事務所 31127
• 代理人: 吳瑋;楊懿

本發明涉及一種適用同一天線的大批量有源測試方法，利用Satimo測試系統實施TRP測試及TIS測試，(1)將移動終端開機放置到Satimo測試系統的暗室轉臺固定位置；(2)在所有頻段按常規TRP/TIS測試進行，實現對一部手機進行全方向性能測試，并實時記錄相應數據；(3)經過對一部手機進行全方向性能測試，獲得最佳方向角度值；(4)以最佳方向角度的值作為恒定參數組對同種天線型的手機依次進行測量，以此判斷驗證同種天線的手機性能的一致性；(5)測試完后用Satenv計算軟件導出并輸出測試結果。以最佳方向角度的值來判斷同種天線型試的手機性能的一致性，將原有測試時長，用此方法有效的減少在測試所花的時間，在原有測試環境的基礎上提高了測試效率，解決了測試資源上的壓力。

[技術領域]

本發明屬于天線檢測測試方法技術領域，具體涉及有源OTA測試技術。

[背景技術]

目前隨著我國通訊行業飛速發展，消費者對手機的需求越來越大，各大手機廠商對手機的性能測試也越來越多及手機的測試頻段范圍也越來越廣，各種手機的批量性入庫測試及認證前的一致性測試增多，測試頻段多、任務重、時間長，僅有的暗室無法保障大量的測試。

[發明內容]

為了克服現有的測試資源緊張，對大批量手機測試的測試方法進行優化，針對同種天線型式的手機進行批量測試，可在短時間內驗證這批手機的一致性。

為實現上述目的，設計一種適用同一天線的大批量有源測試方法，其特征在于，利用Satimo測試系統實施TRP測試及TIS測試，包括以下步驟：

(1)將移動終端開機放置到Satimo測試系統的暗室轉臺固定位置，通過暗室測量天線連接到基站仿真器；基站仿真器的發射信號通過暗室測量天線發送給移動終端，移動終端的接收系統接收所述基站仿真器的發射信號并解碼，基站仿真器的工作信道設為任意一個待測信道；

(2)將移動終端依次運動到不同的轉臺方位角Phi角度和Theta角度，通過切換環天線，來達到Theta的角度運動；每個Theta/Phi角度上，切換測量天線水平極化和垂直極化，來實現對一部手機進行全方向性能 測試，并實時記錄相應數據；

(3)經過對一部手機進行全方向性能測試，獲得最佳方向角度值；

(4)測試參數恒定設置為最佳方向角度值，以最佳方向角度的值作為恒定參數組對同種天線型的手機依次進行測量，以此判斷驗證同種天線的手機性能的一致性；

(5)測試完后用Satenv計算軟件導出并輸出測試結果。

快速測試具體步驟如下：

(1)測試TRP時，通過外部輸入設備向計算機控制模塊輸入功率掃描指令；測試TIS時，通過外部輸入設備向計算機控制模塊輸入靈敏度掃描指定；

(2)計算機控制模塊將所述功率掃描指令或靈敏度掃描指定通過信號線傳輸至基站仿真器儀表內的信號接收/發射端，經由基站仿真器儀表內的信號接收/發射端傳輸至暗室轉臺的通訊天線及測試天線，進行最佳方向角度測試；

(3)測試完成后，基站仿真器儀表內的信號接收/發射端反饋至計算機計算存儲模塊，測試完成。

satenv數據導出步驟如下：

(1)基站仿真器儀表內的信號接收/發射端反饋至計算機計算存儲模塊后，計算機計算存儲模塊內生成測試結果信號；

(2)彈出選項，選擇導出指令，導出所述測試結果。

本測試方法的有益效果為:通過在天線型式一樣的情況，天線方輻射圖基本一致，我們對最佳方向角度進行測試，以最佳方向角度的值來判斷同種天線型試的手機性能的一致性，將原有測試時長，用此方法有效的減少在測試所花的時間，在原有測試環境的基礎上提高了測試效率，解決了測試資源上的壓力。