[發明專利]一種用于激光粒度分析儀的可調孔徑防風套筒

有效

• 申請號: 201610038813.9
• 申請日: 2016-01-20
• 公開（公告）號: CN105758771B
• 公開（公告）日: 2018-09-28
• 發明（設計）人: 朱孔軍;魏敬晨;張建輝;陳悅
• 申請（專利權）人: 南京航空航天大學
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 南京經緯專利商標代理有限公司 32200
• 代理人: 葉連生

本發明公開了一種激光粒度分析儀可調孔徑防風套筒，包括主筒，其兩端分別設置有可在主筒內伸縮的第一副筒和第二副筒，并且主筒設有通霧量調整裝置，所述的通霧量調整裝置包括至少一個通霧量調整單元，所述的通霧量調整單元包括基板、葉片組、驅動圈和壓板。本發明采用了特殊結構的通霧量調整裝置和長度伸縮裝置，阻擋了激光粒度分析儀工作過程中霧化物二次回落到激光束測量區域，降低了測量環境的空氣擾動對測量準確性的影響，減小了激光粒度分析儀的測量誤差，提高了激光粒度分析儀的測量準確度，并可精確地調節通霧量。

技術領域

本發明涉及一種激光粒度分析儀的防風套筒，尤其涉及一種具有可調孔徑的激光粒度分析儀防風套筒。

背景技術

激光粒度分析儀采用夫瑯禾費衍射原理，并利用大功率激光器，用于測量環境復雜、粒徑分布較大的測試需求，測試結果以粒度分布數據表、分布曲線、比表面積、D10、D50、D90等方式顯示，方便用戶打印和記錄。被廣泛應用于消防、森林植被、農藥、發動機、噴霧造粒、各種噴霧機械等研究領域。

由于激光粒度分析儀的測量對象是微納霧化物，對這類霧化物在有流動空氣擾動的環境中測量時，微納霧化物本身很容易受到空氣流動的影響而造成測量誤差。尤其對于垂直方向噴射的微納霧化物，當有空氣流動擾動時，不易控制霧化物在激光束測量區域內；再加之霧化物的自身重力作用，霧化物會二次回落到激光束測量區域，對原測量數據的準確性產生影響。

發明內容

技術問題

本發明要解決的技術問題是提供一種用于激光粒度分析儀的可調孔徑防風套筒，該可調孔徑防風套筒的通霧量調整裝置根據霧化裝置的霧化量調節所需的通霧量調整口孔徑，從而防止第一次經過激光束測量區域的霧化物再次回落到激光束測量區域，可滿足不同工作環境的需求；同時采用可調節長度的防風套筒伸縮結構，可以適應激光發射裝置與接收裝置之間的測量區域，使經過激光束測量區域的測量對象與外部測量環境隔離，從而降低測量環境的空氣擾動對測量準確性的影響。

技術方案

為了解決上述的技術問題，本發明的用于激光粒度分析儀的可調孔徑防風套筒包括主筒，主筒兩端分別設置有可在主筒內伸縮的第一副筒和第二副筒，所述的主筒設有通霧量調整裝置，所述的通霧量調整裝置包括至少一個通霧量調整單元，所述的通霧量調整單元包括基板、葉片組、驅動圈和壓板，所述的基板固定在主筒上并開設有第一通霧開口；所述的葉片組由一組具有相同形狀的葉片組成，通過驅動圈可開閉地固定于基板上；所述的驅動圈設置于壓板和葉片組之間，并具有與第一通霧開口相對應的第二通霧開口；所述壓板具有與第一通霧開口、第二通霧開口位置對應的第三通霧開口，壓板朝向驅動圈的一側設有支撐環，壓板通過所述支撐環支撐在基板上。

更進一步地，所述的基板朝向葉片組一面的開口邊緣具有葉片支撐面，所述葉片支撐面上設有一組限位孔，所述的限位孔用于對葉片組中的葉片進行限位。

更進一步地，所述的驅動圈端面上設有導向槽，所述的導向槽由一組貫通孔構成；所述的驅動圈外圓周面上設有驅動桿，用于將外部驅動轉矩傳遞給驅動圈。

更進一步地，所述的葉片組中，各葉片呈月牙狀，其具有葉片基板和形成通霧量調整口直徑部分的葉片端面，葉片基板的基端部設有限位銷，所述限位銷設于所述基板的限位孔內，葉片基板的端頭部設有導向銷，所述導向銷設于所述驅動圏的導向槽內。

更進一步地，所述的主筒截面呈矩形，其上下端面分別設有第一通霧口和第二通霧口，所述的第一通霧口設有第一通霧量調整單元，第二通霧口設有第二通霧量調整單元。

更進一步地，所述的第一副筒和第二副筒的截面形狀與主筒截面形狀相適應，所述第一副筒上設有第一彈簧片，所述第一彈簧片朝向主筒的一端設有第一圓柱凸起，所述的第一圓柱凸起與設于主筒一端的第一副筒限位孔相配合；所述第二副筒上設有第二彈簧片，所述第二彈簧片朝向主筒的一端設有第二圓柱凸起，所述的第二圓柱凸起與設于主筒另一端的第二副筒限位孔相配合。