[發明專利]一種面向相參矢量信號產生系統的時延校準裝置及方法有效
| 申請號: | 201610038358.2 | 申請日: | 2016-01-20 |
| 公開(公告)號: | CN105721076B | 公開(公告)日: | 2018-03-09 |
| 發明(設計)人: | 白新躍;鹿珊珊 | 申請(專利權)人: | 電子科技大學 |
| 主分類號: | H04B17/364 | 分類號: | H04B17/364 |
| 代理公司: | 成都行之專利代理事務所(普通合伙)51220 | 代理人: | 溫利平 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 面向 矢量 信號 產生 系統 校準 裝置 方法 | ||
1.一種面向相參矢量信號產生系統的時延校準裝置,其特征在于,包括:一高采樣率示波器、一待校準的相參矢量信號產生系統;
其中,所述的相參矢量信號產生系統的多路射頻相參信號輸出端口1接高采樣率示波器的CH1端口,作為參考通道;其余多路射頻相參信號輸出端口2-4依次接高采樣率示波器的CH2至CH4端口;相參矢量信號產生系統的同步脈沖輸出端口接高采樣率示波器的AUX IN端口,并作為高采樣率示波器的觸發信號來源;
通過控制相參矢量信號產生系統輸出多路相參步進調頻信號,控制該信號的中心頻率、幅度、帶寬、脈沖寬度和重復周期;以高采樣率示波器CH1為參考通道,首先利用示波器自身的脈沖間時延測量功能,測量CH2、CH3、CH4和CH1間的相參步進調頻信號包絡間的時延,控制相參矢量信號產生系統對這些時延進行修正并再次輸出相參步進調頻信號,利用高采樣率示波器分別測量相參步進調頻信號ON段的T/4和3T/4兩個位置處各相參步進調頻信號和參考通道CH1內信號間的相位差,而后利用相位差和時延的關系,計算得到各路相參信號輸出通道間的精確時延,并控制相參矢量信號產生系統對各路相參信號輸出通道和通道CH1間的時延做補償,從而消除相參矢量信號產生系統的各路相參信號輸出通道間的時延差,實現相參矢量信號產生系統時延精確校準的目標。
2.利用權利要求1所述的時延校準裝置進行時延精確校準的方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)、設置相參矢量信號產生系統的載波頻率Fc和輸出幅度Ao,控制相參矢量信號產生系統產生多路相參步進調頻信號,設置相參步進調頻信號的步進階數為2,步進頻率間隔Δf,脈沖周期T和重復周期P,相參步進調頻信號ON段的瞬時頻率f(t)和時間t的關系為;
其中,fc為相參步進調頻信號的中心頻率,Δf為頻率步進間隔;
(2)、啟用高采樣率示波器的包絡解調或幅度解調功能,對各路相參步進調頻信號做包絡解調分析;
(3)、利用高采樣率示波器沿到沿時間測量功能,分別測量各路相參步進調頻信號包絡與CH1間信號包絡的時延,記為Dci,i=2,3,4,分別代表通道CH2、CH3、CH4和參考通道CH1間的時延;
(4)、依據步驟(3)所測得的時延量Dci,i=2,3,4,控制相參矢量信號產生系統對各相參信號輸出通道做時延補償,補償完畢后控制相參矢量信號產生系統再次輸出相參步進調頻信號;
(5)、調整高采樣率示波器,將相參步進調頻信號ON段T/4處移至高采樣率示波器時間軸中心點,測量此時多路相參步進調頻信號與通道CH1間的相位差,記為
(6)、調整高采樣率示波器,將相參步進調頻信號ON段3T/4處移至高采樣率示波器時間軸中心點,測量此時多路相參步進調頻信號與通道CH1間的相位差,記為
(7)、根據公式(2)計算出相參矢量信號產生系統各相參信號輸出通道和參考通道CH1間的時延;
(8)、依據步驟(7)所測得的時延量,控制相參矢量信號產生系統對各相參信號輸出通道做時延補償,完成相參矢量信號產生系統的時延校準。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于電子科技大學,未經電子科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610038358.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種基于認知無線技術的無線信道“指紋”特征使用方法
- 下一篇:彎管胎模裝置





