[發(fā)明專(zhuān)利]電子束箍縮過(guò)程診斷系統(tǒng)及其診斷方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610037587.2 | 申請(qǐng)日: | 2016-01-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105676260A | 公開(kāi)(公告)日: | 2016-06-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張鵬飛;孫劍鋒;孫江;胡楊;叢培天;邱愛(ài)慈 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 西北核技術(shù)研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01T1/203 | 分類(lèi)號(hào): | G01T1/203 |
| 代理公司: | 西安智邦專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 61211 | 代理人: | 陳廣民 |
| 地址: | 710024 陜*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子束 過(guò)程 診斷 系統(tǒng) 及其 方法 | ||
1.一種電子束箍縮過(guò)程診斷系統(tǒng),其特征在于:包括沿電子束入射方向依次設(shè)置的復(fù)合陽(yáng)極和圖像采集系統(tǒng);所述復(fù)合陽(yáng)極包括相互貼合的導(dǎo)電膜和閃爍體,所述導(dǎo)電膜朝向電子束入射端;所述圖像采集系統(tǒng)設(shè)置于閃爍體一側(cè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子束箍縮過(guò)程診斷系統(tǒng),其特征在于:所述導(dǎo)電膜和閃爍體的結(jié)構(gòu)參數(shù)是通過(guò)蒙特卡洛模型對(duì)閃爍體材料中電子能量沉積情況的預(yù)估結(jié)果來(lái)確定的,所述結(jié)構(gòu)參數(shù)包括材質(zhì)和厚度。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子束箍縮過(guò)程診斷系統(tǒng),其特征在于:所述導(dǎo)電膜是厚度為10~100μm的金屬箔。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子束箍縮過(guò)程診斷系統(tǒng),其特征在于:所述金屬箔為低Z材料。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一所述的電子束箍縮過(guò)程診斷系統(tǒng),其特征在于:所述閃爍體是厚度為0.2-1mm的薄片狀塑料閃爍體。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電子束箍縮過(guò)程診斷系統(tǒng),其特征在于:所述圖像采集系統(tǒng)為光纖陣列、ICCD相機(jī)或者分幅相機(jī)。
7.一種基于權(quán)利要求1-6中任一所述的電子束箍縮過(guò)程診斷系統(tǒng)的電子束箍縮過(guò)程診斷方法,其特征在于:包括以下步驟:
1】將導(dǎo)電膜與閃爍體緊密粘貼固定,制成復(fù)合陽(yáng)極;
2】沿電子束入射方向依次安裝復(fù)合陽(yáng)極和圖像采集系統(tǒng);復(fù)合陽(yáng)極的導(dǎo)電膜朝向電子束入射端;
3】使用圖像采集系統(tǒng)采集可見(jiàn)光分布信息,所述可見(jiàn)光分布信息包括空間分布、強(qiáng)度和時(shí)間信息;
4】根據(jù)閃爍體能量沉積和可見(jiàn)光輻射之間的確定關(guān)系,獲得電子束到達(dá)陽(yáng)極的空間分布和強(qiáng)度分布信息。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電子束箍縮過(guò)程診斷方法,其特征在于:所述步驟1】的具體實(shí)現(xiàn)方式為:
1.1】根據(jù)二極管工作參數(shù)預(yù)估電子束的能量分布情況,所述工作參數(shù)包括脈沖電壓和電流波形;
1.2】建立蒙特卡洛模型預(yù)估閃爍體材料中的電子能量沉積情況;
1.3】根據(jù)預(yù)估結(jié)果確定導(dǎo)電膜和閃爍體的結(jié)構(gòu)參數(shù),所述結(jié)構(gòu)參數(shù)包括材質(zhì)和厚度;
1.4】將符合步驟1.3】中的結(jié)構(gòu)參數(shù)的導(dǎo)電膜與閃爍體緊密粘貼固定,制成復(fù)合陽(yáng)極。
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