[發明專利]位移測量裝置和位移測量方法有效
| 申請號： | 201610035807.8 | 申請日： | 2016-01-19 |
| 公開（公告）號： | CN105806201B | 公開（公告）日： | 2019-07-26 |
| 發明（設計）人： | 安達聰;徳洋平;長谷川年洋 | 申請（專利權）人： | 株式會社三豐 |
| 主分類號： | G01B7/02 | 分類號： | G01B7/02 |
| 代理公司： | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 劉新宇 |
| 地址： | 日本神*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 位移 測量 裝置 測量方法 | ||
【說明書】：
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