[發(fā)明專利]用于內(nèi)部缺陷檢測的檢測電路及系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610035782.1 | 申請日： | 2016-01-20 |
| 公開（公告）號： | CN106990163A | 公開（公告）日： | 2017-07-28 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 石桂芬;何永輝;吳首民;梁爽;楊水山;彭鐵根;宗德祥 | 申請（專利權(quán)）人： | 寶山鋼鐵股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N27/83 | 分類號： | G01N27/83 |
| 代理公司： | 上海集信知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司31254 | 代理人： | 肖祎 |
| 地址： | 201900 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 內(nèi)部 缺陷 檢測 電路 系統(tǒng) | ||
1.一種用于內(nèi)部缺陷檢測的檢測電路，其特征在于，包括：
傳感器、減法電路、低通濾波電路、第一信號放大器、高通濾波電路；
所述傳感器包括補(bǔ)償線圈；
所述傳感器的信號傳輸至所述減法電路，所述減法電路的輸出信號傳輸至所述低通濾波電路，所述低通濾波電路的輸出信號經(jīng)過第一信號放大器放大之后，反向輸入至所述補(bǔ)償線圈，形成負(fù)反饋電路；
之后，所述傳感器的信號傳輸至所述高通濾波電路，濾波后得到缺陷信號。
2.如權(quán)利要求1所述的用于內(nèi)部缺陷檢測的檢測電路，其特征在于，所述高通濾波電路連接第二信號放大器，將所述缺陷信號傳輸至第二信號放大器。
3.如權(quán)利要求2所述的用于內(nèi)部缺陷檢測的檢測電路，其特征在于，所述第二信號放大器連接偏置電路，將放大后的缺陷信號傳輸至所述偏置電路。
4.如權(quán)利要求3所述的用于內(nèi)部缺陷檢測的檢測電路，其特征在于，所述偏置電路與信號采集卡、數(shù)據(jù)處理單元依次連接。
5.如權(quán)利要求1所述的用于內(nèi)部缺陷檢測的檢測電路，其特征在于，所述傳感器為磁敏探頭，所述磁敏探頭安裝于磁化裝置上，且位于標(biāo)定樣板的下方。
6.如權(quán)利要求1所述的用于內(nèi)部缺陷檢測的檢測電路，其特征在于，所述高通濾波電路的截止頻率由被檢測的鋼板速度來控制。
7.一種用于內(nèi)部缺陷檢測的檢測系統(tǒng)，其特征在于，包括：
多個(gè)傳感器、多個(gè)減法器、多個(gè)濾波器及信號采集卡；
所述多個(gè)傳感器進(jìn)行兩兩配對，每一對傳感器分別將輸出信號傳輸至減法器；
每一個(gè)減法器將輸出信號傳輸至濾波器；
所有濾波器將輸出信號傳輸至所述信號采集卡。
8.如權(quán)利要求7所述的用于內(nèi)部缺陷檢測的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述減法器的數(shù)量與濾波器的數(shù)量相同。
9.如權(quán)利要求7所述的用于內(nèi)部缺陷檢測的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述信號采集卡連接至數(shù)據(jù)處理單元。
10.如權(quán)利要求7所述的用于內(nèi)部缺陷檢測的檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述傳感器為磁敏探頭，所述磁敏探頭安裝于磁化裝置上，且位于標(biāo)定樣板的下方。
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