[發明專利]一種脈沖波形測試方法

有效

• 申請號: 201610035027.3
• 申請日: 2016-01-19
• 公開（公告）號: CN105675985B
• 公開（公告）日: 2019-03-29
• 發明（設計）人: 鄭云龍;桑澤華;林敏;楊根慶;鄒世昌
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海微系統與信息技術研究所
• 主分類號: G01R23/16
• 分類號: G01R23/16
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 余明偉

1.一種脈沖波形測試方法，其特征在于，所述脈沖波形測試方法至少包括：

收集單粒子轟擊信息，并產生單粒子瞬態脈沖；

采用不同閾值的緩沖器分別檢測所述單粒子瞬態脈沖在不同電壓值時的脈沖寬度，并產生相應寬度的脈沖信號；

根據不同電壓值時產生的相應寬度的脈沖信號標定當前電壓值時所述單粒子瞬態脈沖的脈沖寬度；

將不同電壓值時標定的脈沖寬度整合并還原所述單粒子瞬態脈沖的波形。

2.根據權利要求1所述的脈沖波形測試方法，其特征在于：產生所述單粒子瞬態脈沖的方法如下：在待測輻射環境中對待測器件采用粒子轟擊。

3.根據權利要求2所述的脈沖波形測試方法，其特征在于：粒子轟擊反相器的MOS管漏端。

4.根據權利要求1所述的脈沖波形測試方法，其特征在于：通過調節MOS管的閾值以及寬長比來設定緩沖器的閾值。

5.根據權利要求1所述的脈沖波形測試方法，其特征在于：標定不同電壓值時所述單粒子瞬態脈沖的脈沖寬度的方法如下：在當前電壓值時未檢測到所述單粒子瞬態脈沖時，通過反相器鏈對輸入信號進行逐級反相處理，在當前電壓值時檢測到所述單粒子瞬態脈沖時，所述反相器鏈受到所述單粒子瞬態脈沖的影響，部分反相器的輸出狀態發生翻轉，通過輸出狀態發生翻轉的反相器的數量來標定當前電壓值時所述單粒子瞬態脈沖的脈沖寬度。

6.根據權利要求5所述的脈沖波形測試方法，其特征在于：當前電壓值時所述單粒子瞬態脈沖的脈沖寬度滿足如下關系式：

T_W＝ΔT×N±ΔT/2，

其中，T_W為當前電壓值時所述單粒子瞬態脈沖的脈沖寬度，ΔT為一級反相器的延時時間，N為輸出狀態發生翻轉的反相器的數量，ΔT/2為當前電壓值時所述單粒子瞬態脈沖的脈沖寬度估算精度。