[發(fā)明專利]一種脈沖波形測試電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610033983.8
• 申請日: 2016-01-19
• 公開（公告）號: CN105675984B
• 公開（公告）日: 2019-03-29
• 發(fā)明（設計）人: 鄭云龍;桑澤華;林敏;楊根慶;鄒世昌
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所
• 主分類號: G01R23/16
• 分類號: G01R23/16
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 余明偉

1.一種脈沖波形測試電路，其特征在于，所述脈沖波形測試電路至少包括：

脈沖收集模塊，用于收集單粒子轟擊信息，產(chǎn)生單粒子瞬態(tài)脈沖；

脈沖寬度檢測模塊，與所述脈沖收集模塊相連，用于檢測所述單粒子瞬態(tài)脈沖在不同電壓值時的脈沖寬度，并產(chǎn)生相應寬度的脈沖信號，其中，所述脈沖寬度檢測模塊包括多個不同閾值的緩沖器，通過各緩沖器分別檢測所述單粒子瞬態(tài)脈沖在不同電壓值時的脈沖寬度；

脈沖捕捉模塊，與所述脈沖寬度檢測模塊相連，用于將不同電壓值時檢測到的脈沖寬度轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號；

脈沖波形還原模塊，與所述脈沖捕捉模塊相連，用于將不同電壓值時的脈沖寬度進行整合以對所述單粒子瞬態(tài)脈沖的波形進行還原。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的脈沖波形測試電路，其特征在于：所述脈沖收集模塊為單個反相器。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的脈沖波形測試電路，其特征在于：所述緩沖器包括串聯(lián)的第一反相器和第二反相器，所述第一反相器的翻轉(zhuǎn)電平為需要檢測的脈沖寬度所處的電壓值，所述第二反相器的翻轉(zhuǎn)電平為電源電壓的一半。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的脈沖波形測試電路，其特征在于：所述第一反相器包括PMOS和NMOS，PMOS與NMOS的漏端相連作為輸出端，PMOS和NMOS的柵端相連作為輸入端，PMOS的源端連接電源電壓，NMOS的源端接地；通過調(diào)節(jié)PMOS、NMOS的閾值以及寬長比來設定所述第一反相器的翻轉(zhuǎn)電平。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的脈沖波形測試電路，其特征在于：所述脈沖捕捉模塊包括多個脈沖寬度轉(zhuǎn)換器，分別與不同閾值的緩沖器連接，對不同電壓值時的脈沖寬度進行捕捉；各脈沖寬度轉(zhuǎn)換器包括觸發(fā)控制單元、延時單元鏈路以及讀出單元，當未接收到所述單粒子瞬態(tài)脈沖時，所述觸發(fā)控制單元控制所述延時單元鏈路中的延時單元逐級反相傳輸，當接收到所述單粒子瞬態(tài)脈沖時，所述觸發(fā)控制單元控制所述延時單元鏈路中的延時單元鎖存并通過所述讀出單元將各延時單元的存儲狀態(tài)輸出。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的脈沖波形測試電路，其特征在于：所述觸發(fā)控制單元包括與或門、以及RS觸發(fā)器；所述與或門的一端連接所述脈沖寬度檢測模塊的輸出端、另一端連接一復位信號；所述RS觸發(fā)器的置位端連接所述復位信號、復位端連接所述與或門的輸出端，所述RS觸發(fā)器的正相輸出端通過第一輸出級緩沖器輸出第一控制信號，所述RS觸發(fā)器的反相輸出端通過第二輸出級緩沖器輸出第二控制信號。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的脈沖波形測試電路，其特征在于：所述延時單元鏈路包括依次串聯(lián)的多個延時單元，所述延時單元包括第一傳輸門、第二傳輸門、第一反相器以及第二反相器；所述第一傳輸門的一端連接所述脈沖寬度檢測模塊、另一端連接所述第一反相器的輸入端，所述第一反相器的輸出端連接所述第二反相器的輸入端，所述第一反相器的輸出端作為所述延時單元的輸出端，所述第二反相器的輸出端連接所述第二傳輸門的一端，所述第二傳輸門的另一端連接于所述第一傳輸門與所述第一反相器之間。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的脈沖波形測試電路，其特征在于：所述讀出單元包括多個DFF觸發(fā)器，各DFF觸發(fā)器的輸入端連接各延時單元，時鐘端連接同一時鐘信號，將各延時單元的狀態(tài)并行輸出。

9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的脈沖波形測試電路，其特征在于：所述讀出單元包括多個DFF觸發(fā)器，各DFF觸發(fā)器的輸入端連接各延時單元及前一級DFF觸發(fā)器的輸出端，時鐘端連接同一時鐘信號，將各延時單元的狀態(tài)串行輸出。