[發明專利]一種用于紗線瑕疵檢測的雙光源檢測方法在審
| 申請號: | 201610033875.0 | 申請日: | 2016-01-19 |
| 公開(公告)號: | CN105675618A | 公開(公告)日: | 2016-06-15 |
| 發明(設計)人: | 付明磊;沈敏烽;劉玉玲 | 申請(專利權)人: | 浙江工業大學義烏科學技術研究院有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/89 | 分類號: | G01N21/89 |
| 代理公司: | 杭州斯可睿專利事務所有限公司 33241 | 代理人: | 王利強 |
| 地址: | 322000 浙江省金*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 紗線 瑕疵 檢測 光源 方法 | ||
1.一種用于紗線瑕疵檢測的雙光源檢測方法,其特征在于:實現該檢 測方法的檢測系統包括第一光源檢測單元和第二光源檢測單元,第一 光源和第二光源的光線顏色不同,所述第一光源檢測單元和第二光源 檢測單元的檢測光軸與待檢測紗線的運動方向垂直,同時第一光源檢 測單元和第二光源檢測單元檢測光軸正交;所述雙光源檢測方法包括 如下步驟:
1).計算第一光源檢測單元輸出電壓UR和第二光源檢測單元輸 出電壓UG,所述第一光源檢測單元輸出電壓UR按照公式(1)計算,
UR=hE0-Kd1(1)
所述第二光源檢測單元輸出電壓UG按照公式(2)計算,
UG=hE0-Kd2(2)
其中,d1,d2分別為紗線水平方向和豎直方向的直徑,E0為無紗 線時光電轉換電路吸收的光強總量,所述K=λhE0/y,所述λ為遮擋的 光強占被遮擋面積內光強總量比例系數,h為光電轉換系數
檢測紗線設定的標準直徑為d0,紗線檢測中標準電壓U0按照公 式(3)計算,
U0=hE0-Kd0(3);
2).計算紗線水平方向直徑變化電壓輸出量△UR和紗線豎直方 向直徑變化電壓輸出量△UG,所述紗線水平方向直徑變化輸出量△UR按照公式(4)計算,
ΔUR=UR-U0=-K(d1-d0)=-KΔd(4)
所述紗線豎直方向直徑變化電壓輸出量△UG按照公式(5)計算,
ΔUG=UG-U0=-K(d2-d0)=-KΔd(5)
3).通過ΔUR和ΔUG判斷瑕疵類別。
2.如權利要求1所述的用于紗線瑕疵檢測的雙光源檢測方法,其特征 在于:所述步驟3)中,瑕疵類別判斷方法如下:當ΔUR>0,ΔUG>0時, 該紗線瑕疵為細瑕疵;當ΔUR<0,ΔUG<0時,該紗線瑕疵為粗瑕疵;當 ΔUR>0,ΔUG≤0時,該紗線瑕疵為豎直方向扁平瑕疵;當ΔUR≤0,ΔUG>0 時,該紗線瑕疵為水平方向扁平瑕疵。
3.如權利要求1或2所述的用于紗線瑕疵檢測的雙光源檢測方法,其 特征在于:所述第一光源檢測單元為紅光檢測單元,所述第二光源檢 測單元為綠光檢測單元。
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