[發(fā)明專利]一種柱狀物檢測(cè)設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610030761.0
• 申請(qǐng)日: 2016-01-18
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN105466954B
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-03-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 賀慶;胡友盼;周俊明;楊威棣;王月屏;李雄
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 湖南遠(yuǎn)見(jiàn)視覺(jué)科技有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G01N21/952
• 分類號(hào): G01N21/952
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

本發(fā)明公開(kāi)了一種柱狀物檢測(cè)設(shè)備，包括用于放置柱狀物的檢測(cè)臺(tái)和用于照亮柱狀物的照明光源，還包括能夠接收柱狀物多個(gè)表面圖像的成像裝置光路轉(zhuǎn)向裝置光路轉(zhuǎn)向裝置光路轉(zhuǎn)向裝置光路轉(zhuǎn)向裝置。如此只設(shè)置較少的成像裝置即可將柱狀物多個(gè)表面的圖像傳送至圖像處理設(shè)備，以實(shí)現(xiàn)對(duì)柱狀物的檢測(cè)。有效地減少了柱狀物檢測(cè)設(shè)備中成像裝置的數(shù)量，節(jié)約成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及檢測(cè)領(lǐng)域，特別是涉及一種柱狀物檢測(cè)設(shè)備。

背景技術(shù)

目前的柱狀物制作過(guò)程中，無(wú)法避免地出現(xiàn)一些表面質(zhì)量問(wèn)題，如體積顏色不符合標(biāo)準(zhǔn)、邊沿部位不規(guī)則、表面平整度不符合標(biāo)準(zhǔn)、有異物、有黑點(diǎn)、有劃傷或者有凹凸不平的區(qū)域等各種問(wèn)題，導(dǎo)致生產(chǎn)出來(lái)的柱狀物產(chǎn)品不符合安全標(biāo)準(zhǔn)，不能使用，為了避免這些不合格柱狀物流入市場(chǎng)，必須要對(duì)生產(chǎn)出來(lái)的柱狀物進(jìn)行檢測(cè)，剔除那些不合格的產(chǎn)品。

目前存在的柱狀物檢測(cè)設(shè)備，一般包括較多的成像裝置，對(duì)向柱狀物的各個(gè)表面，獲取各個(gè)表面的圖像，將圖像傳送的圖像處理設(shè)備，以實(shí)現(xiàn)對(duì)柱狀物的檢測(cè)，由于需要較多的成像設(shè)備，成本較高。

因此，如何減少柱狀物檢測(cè)設(shè)備的成像設(shè)備的數(shù)量是本領(lǐng)域技術(shù)人員目前需要解決的技術(shù)問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種柱狀物檢測(cè)設(shè)備，減少成像設(shè)備的數(shù)量，節(jié)約成本。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供一種柱狀物檢測(cè)設(shè)備，包括用于放置柱狀物的檢測(cè)臺(tái)和用于照亮柱狀物的照明光源，還包括能夠接收柱狀物多個(gè)表面圖像的成像裝置。

優(yōu)選地，所述檢測(cè)臺(tái)的一側(cè)設(shè)置有用于反射或折射柱狀物一側(cè)端面圖像的第一光路轉(zhuǎn)向裝置，所述檢測(cè)臺(tái)的另一側(cè)設(shè)置有用于反射或折射柱狀物另一側(cè)端面圖像的第二光路轉(zhuǎn)向裝置，所述成像裝置設(shè)置于所述檢測(cè)臺(tái)上方并用于接收所述第一光路轉(zhuǎn)向裝置反射或折射的柱狀物一側(cè)端面圖像、所述第二光路轉(zhuǎn)向裝置反射或折射的柱狀物另一側(cè)端面圖像和柱狀物正面圖像。

優(yōu)選地，兩個(gè)所述照明光源分別位于所述第一光路轉(zhuǎn)向裝置和所述第二光路轉(zhuǎn)向裝置的上方。

優(yōu)選地，所述檢測(cè)臺(tái)下方設(shè)置有用于運(yùn)輸柱狀物的傳送裝置。

優(yōu)選地，所述成像裝置包括用于接收所述第一光路轉(zhuǎn)向裝置反射或折射的柱狀物一側(cè)端面圖像、所述第二光路轉(zhuǎn)向裝置反射或折射的柱狀物另一側(cè)端面圖像和柱狀物正面圖像三者中的兩個(gè)的第一成像裝置和第二成像裝置。

優(yōu)選地，所述第一成像裝置和所述第二成像裝置正對(duì)所述檢測(cè)臺(tái)。

優(yōu)選地，還包括用于反射或折射所述第一光路轉(zhuǎn)向裝置反射或折射的柱狀物一側(cè)端面圖像或所述第二光路轉(zhuǎn)向裝置反射或折射的柱狀物另一側(cè)端面圖像的第三光路轉(zhuǎn)向裝置，所述第一成像裝置正對(duì)所述檢測(cè)臺(tái)用于接收柱狀物正面圖像，所述第二成像裝置斜對(duì)所述檢測(cè)臺(tái)用于接收柱狀物兩側(cè)端面圖像。

優(yōu)選地，還包括用于調(diào)整所述第一光路轉(zhuǎn)向裝置、所述第二光路轉(zhuǎn)向裝置和所述第三光路轉(zhuǎn)向裝置的角度和位置的視場(chǎng)調(diào)整裝置。

優(yōu)選地，所述視場(chǎng)調(diào)整裝置包括光路轉(zhuǎn)向裝置支架，所述第一光路轉(zhuǎn)向裝置、所述第二光路轉(zhuǎn)向裝置和所述第三光路轉(zhuǎn)向裝置通過(guò)萬(wàn)向軸與所述光路轉(zhuǎn)向裝置支架鉸接。

優(yōu)選地，所述第一光路轉(zhuǎn)向裝置具體為第一反射鏡，所述第二光路轉(zhuǎn)向裝置具體為第二反射鏡，所述第三光路轉(zhuǎn)向裝置具體為第三反射鏡。

本發(fā)明提供的柱狀物檢測(cè)設(shè)備，包括用于放置柱狀物的檢測(cè)臺(tái)和用于照亮柱狀物的照明光源，還包括能夠接收柱狀物多個(gè)表面圖像的成像裝置光路轉(zhuǎn)向裝置光路轉(zhuǎn)向裝置。光路轉(zhuǎn)向裝置光路轉(zhuǎn)向裝置光路轉(zhuǎn)向裝置如此只設(shè)置較少的成像裝置即可將柱狀物多個(gè)表面的圖像傳送至圖像處理設(shè)備，以實(shí)現(xiàn)對(duì)柱狀物的檢測(cè)。有效地減少了柱狀物檢測(cè)設(shè)備中成像裝置的數(shù)量，節(jié)約成本。

附圖說(shuō)明