[發明專利]機械動作輔助驗證、防掛料靜態模式料位計及其測量方法有效
| 申請號: | 201610030322.X | 申請日: | 2016-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN105526989B | 公開(公告)日: | 2019-01-04 |
| 發明(設計)人: | 胡桂標 | 申請(專利權)人: | 上海云魚智能科技有限公司 |
| 主分類號: | G01F23/22 | 分類號: | G01F23/22 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 200333 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 機械 動作 輔助 驗證 防掛料 靜態 模式 料位計 及其 測量方法 | ||
1.一種靜態模式料位計用于測量料位的方法,其特征在于,所述靜態模式料位計包括至少兩個電極、電極檢測部件、運算處理器、信號輸出部件以及機械動作部件,所述電極和所述運算處理器均與所述電極檢測部件電連接,所述機械動作部件和所述信號輸出部件分別與所述運算處理器信號連接,所述機械動作部件與所述電極機械連接或設置于所述電極的附近,且在使用時所述電極與所述機械動作部件設置于測量空間內的待測量位置;
所述靜態模式料位計用于測量料位的方法包含以下步驟:
S1:所述電極檢測部件檢測兩兩所述電極之間的啟動前物理量信息,并將該啟動前物理量信息發送給所述運算處理器;
S2:所述運算處理器將所述啟動前物理量信息與其預先存儲的用于啟動機械動作部件的啟動條件進行比較;若所述啟動前物理量信息符合所述啟動條件,則進入步驟S3;
S3:所述運算處理器控制所述機械動作部件啟動;
S4:所述電極檢測部件檢測兩兩所述電極之間的啟動后物理量信息,并將所述啟動后物理量信息發送給所述運算處理器;
S5:所述運算處理器將所述啟動后物理量信息與其預先存儲的料位信號判斷條件進行邏輯判斷以得到待測物料的料位信息;
S6:所述運算處理器將所述料位信息通過所述信號輸出部件輸出。
2.根據權利要求1所述的測量料位的方法,其特征在于,所述靜態模式料位計還包含至少兩個與所述運算處理器信號連接的溫度測量部件,所述溫度測量部件分別設置在測量空間內的不同待測量位置;
在所述S1中還包含以下步驟:
多個溫度測量部件將測量到的對應待測量位置處的溫度數據發送給所述運算處理器;
則在所述S2中,所述運算處理器將所述啟動前物理量信息和所述溫度數據與所述啟動條件進行比較,若所述啟動前物理量信息和所述溫度數據同時符合所述啟動條件,則進入所述S3。
3.根據權利要求1所述的測量料位的方法,其特征在于,在所述S3中,所述運算處理器還能夠通過預先設定的運行程序控制所述機械動作部件的啟動時刻以及啟動后的運行時間。
4.根據權利要求1~3中任一項所述的測量料位的方法,其特征在于,所述啟動前物理量信息或所述啟動后物理量信息為以下任意一種或其組合:
電容、阻抗、電感、電阻、導納。
5.根據權利要求1~3中任一項所述的測量料位的方法,其特征在于,所述機械動作部件為以下任意一種或其組合:
旋轉部件、擺動部件、震動部件、滑動部件。
6.根據權利要求1~3中任一項所述的測量料位的方法,其特征在于,所述電極檢測部件為射頻導納檢測電路或者電容檢測電路。
7.根據權利要求1~3中任一項所述的測量料位的方法,其特征在于,所述運算處理器為一個獨立的運算處理器、多個運算處理器的組合、一個PLC或幾個PLC的組合。
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