[發(fā)明專利]一種基于掃描方式的透射儀測量光路自動準直系統(tǒng)與方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610029821.7 | 申請日: | 2016-01-15 |
| 公開(公告)號: | CN105510230A | 公開(公告)日: | 2016-04-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 周樹道;馬忠良;王敏;施未來;常昊天;任尚書 | 申請(專利權(quán))人: | 中國人民解放軍理工大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/61 |
| 代理公司: | 南京瑞弘專利商標事務(wù)所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 陳建和 |
| 地址: | 211101 江蘇省南*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 掃描 方式 透射 測量 自動 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種基于掃描方式的透射儀測量光路自動準直系統(tǒng),其特征在于,包括發(fā)射單元、光源控制單元、電機驅(qū)動一單元、電機驅(qū)動二單元、位置信息采集一單元、位置信息采集二單元、中央處理器一單元、接收單元、光強信息采集單元、電機驅(qū)動三單元、電機驅(qū)動四單元、位置信息采集三單元、位置信息采集四單元、中央處理器二單元和控制中央處理器一、二單元的主控單元;所述的發(fā)射單元包括LED光源和發(fā)射光學(xué)模塊,為透射儀進行能見度測量和測量光路準直提供探測光束;所述的光源控制單元用來驅(qū)動發(fā)射單元中的LED光源,保證光源發(fā)光穩(wěn)定性;所述的電機驅(qū)動一單元用來驅(qū)動發(fā)射單元進行水平方向的位置調(diào)整;所述的電機驅(qū)動二單元用來驅(qū)動發(fā)射單元進行垂直方向的位置調(diào)整;所述的位置信息采集一單元用來采集發(fā)射單元進行水平位置調(diào)整時的位置信息;所述的位置信息采集二單元用來采集發(fā)射單元進行垂直位置調(diào)整時的位置信息;所述的接收單元包括光電傳感器模塊和接收光學(xué)模塊,用來將探測光束中經(jīng)過一定基線長度大氣傳輸后能被接收單元接收的部分光束進行光電轉(zhuǎn)換;所述光強信息采集單元用來采集接收單元接收到的光強信息;所述的電機驅(qū)動三單元用來驅(qū)動接收單元進行水平方向的位置調(diào)整;所述的電機驅(qū)動四單元用來驅(qū)動接收單元進行垂直方向的位置調(diào)整;所述的位置信息采集三單元用來采集接收單元水平位置調(diào)整過程中的位置信息;所述的位置信息采集四單元用來采集接收單元垂直方向位置調(diào)整過程中位置信息;所述的中央處理器一單元用來存儲發(fā)射單元位置信息,中央處理器一單元同時向中央處理器二單元發(fā)送采集光強信息命令、中央處理器二單元存儲采集到的光強信息并傳送,中央處理器一單元再根據(jù)采集到的光強信息和位置信息計算得到發(fā)射單元的準直位置;所述的中央處理器二單元用來存儲接收單元位置信息和光強信息,并根據(jù)位置信息和光強信息計算接收單元的準直位置;所述的主控單元用來發(fā)送測量光路準直操作命令并控制中央處理器一、二單元并控制電機驅(qū)動一、二、三、四單元;,控制系統(tǒng)工作。
2.基于掃描方式的透射儀測量光路自動準直的方法,利用發(fā)射單元和接收單元于兩個相互垂直方向分別掃描得到的位置信息與光強信息計算得到發(fā)射單元和接收單元的準直位置,然后使得發(fā)射單元與接收單元分別定位到準直位置,從而實現(xiàn)測量光路的準直;其特征在于,按照順序分別對發(fā)射單元與接收單元進行對準:每次進行準直時分別進行垂直方向和水平方向的掃描、準直位置計算和定位;所述的掃描是通過驅(qū)動電機使得發(fā)射單元或接收單元在垂直或水平方向上進行一定角度范圍的位置旋轉(zhuǎn),同時記錄位置信息和掃描過程中的光強信息;所述的準直位置計算是根據(jù)掃描過程中采集的位置信息與光強信息的關(guān)系得到發(fā)射單元或接收單元在某一方向上的準直位置;所述的定位是通過驅(qū)動電機使得發(fā)射單元或接收單元在某一方向上進行旋轉(zhuǎn)運動到該方向上的準直位置;指接收單元光強信息最強的位置信息。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國人民解放軍理工大學(xué),未經(jīng)中國人民解放軍理工大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610029821.7/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





