[發(fā)明專利]一種薄型陶瓷蓋體的制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610027436.9 | 申請日: | 2016-01-15 |
| 公開(公告)號: | CN105666333B | 公開(公告)日: | 2018-06-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 蔣振生;梁惠萍 | 申請(專利權(quán))人: | 應(yīng)達利電子股份有限公司 |
| 主分類號: | B24C1/00 | 分類號: | B24C1/00;B23K26/38;C04B35/10;C04B35/48 |
| 代理公司: | 深圳市恒申知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44312 | 代理人: | 王利彬 |
| 地址: | 518103 廣東省深圳市寶安區(qū)福永*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 陶瓷蓋體 蓋體 矩陣 保護區(qū)域 陶瓷基板 燒結(jié) 薄型 覆膜 脫膜 制備 切割 超薄型產(chǎn)品 薄型材料 保護材料 變形問題 覆膜材料 磨削加工 陶瓷加工 易損零件 外露 可控 可用 去除 成型 避開 激光 敏感 | ||
1.一種薄型陶瓷蓋體的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)覆膜:將燒結(jié)好的陶瓷基板上的保護區(qū)域覆上保護材料;
(2)成型:對覆膜后的陶瓷基板的外露部分進行磨削加工,形成蓋體;
(3)脫膜:去除覆膜材料;
所述保護材料包括聚氨酯類、乙烯酸脂類、丙烯酸脂類、聚對苯二甲酸類、橡膠類、環(huán)氧樹脂類中的至少一種。
2.如權(quán)利要求1所述的一種薄型陶瓷蓋體的制備方法,其特征在于,所述保護區(qū)域為一包含多個蓋體單體的矩陣;在所述脫膜步驟之后,所述步驟還包括:(4)切割:用激光對矩陣進行切割,獲得陶瓷蓋體單體。
3.如權(quán)利要求1或2所述的一種薄型陶瓷蓋體的制備方法,其特征在于,
所述覆膜方式包括絲印、光刻或直接粘貼預(yù)先成形的保護膜。
4.如權(quán)利要求1或2所述的一種薄型陶瓷蓋體的制備方法,其特征在于,
所述成型過程包括采用機械方式切削、離子束切削或化學(xué)方式切削。
5.如權(quán)利要求1或2所述的一種薄型陶瓷蓋體的制備方法,其特征在于,
所述脫膜方式包括熱移除、化學(xué)脫膜劑去除或者用刮刀機械去除。
6.如權(quán)利要求1或2所述的一種薄型陶瓷蓋體的制備方法,其特征在于,
所述陶瓷基板的材質(zhì)包括96氧化鋁或氧化鋯。
7.如權(quán)利要求3所述的一種薄型陶瓷蓋體的制備方法,其特征在于,所述絲印過程為:先按照上蓋設(shè)計要求加工與所述陶瓷基本的保護區(qū)域相適配的網(wǎng)板;將網(wǎng)板置于陶瓷基板上方,將保護材料注入網(wǎng)板內(nèi);用刮刀將保護材料印制在陶瓷基板上;取下烘干制成覆膜。
8.如權(quán)利要求3所述的一種薄型陶瓷蓋體的制備方法,其特征在于,所述光刻過程為:先將感旋旋光性保護材料覆涂于陶瓷基板所有部分上,使用曝光或顯影技術(shù)照射陶瓷基板上的非保護部分,去除非保護部分上的保護材料。
9.如權(quán)利要求5所述的一種薄型陶瓷蓋體的制備方法,其特征在于,所述化學(xué)脫膜劑包括醇類、酮類或有機酸類清洗劑中的至少一種。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于應(yīng)達利電子股份有限公司,未經(jīng)應(yīng)達利電子股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610027436.9/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 在集成電路器件中求解線性矩陣
- 矩陣計算裝置、矩陣計算方法
- 一種數(shù)據(jù)聚類的方法、裝置及Spark大數(shù)據(jù)平臺
- 適用于黑白圖片的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)方法以及訓(xùn)練方法
- 適用于灰度圖片的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)方法以及訓(xùn)練方法
- 矩陣
- 矩陣/密鑰生成裝置、矩陣/密鑰生成系統(tǒng)、矩陣結(jié)合裝置、矩陣/密鑰生成方法、程序
- 矩陣運算電路、矩陣運算裝置及矩陣運算方法
- 矩陣乘法計算方法和裝置
- 數(shù)據(jù)讀取方法、裝置、介質(zhì)和計算設(shè)備





