[發(fā)明專(zhuān)利]溝槽型超級(jí)結(jié)的制造方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610024799.7 | 申請(qǐng)日: | 2016-01-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105679809A | 公開(kāi)(公告)日: | 2016-06-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李昊 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 上海華虹宏力半導(dǎo)體制造有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L29/06 | 分類(lèi)號(hào): | H01L29/06;H01L21/18 |
| 代理公司: | 上海浦一知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31211 | 代理人: | 郭四華 |
| 地址: | 201203 上海市浦東*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 溝槽 超級(jí) 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體集成電路制造工藝方法,特別是涉及一種溝槽型超級(jí)結(jié)的 制造方法。
背景技術(shù)
超級(jí)結(jié)為由形成于半導(dǎo)體襯底中的交替排列的P型薄層和N型薄層組成,現(xiàn)有超 級(jí)結(jié)的制造方法中包括溝槽型超級(jí)結(jié)的制造方法,這種方法是通過(guò)溝槽工藝制作超級(jí) 結(jié)器件,需要先在半導(dǎo)體襯底如硅襯底表面的N型摻雜外延層上刻蝕一定深度和寬度 的溝槽,然后利用外延填充(ERIFilling)的方式在刻出的溝槽上填充P型摻雜的 硅外延,并且要求填充區(qū)域具有完好的晶體結(jié)構(gòu),以便后續(xù)流程制作高性能的器件。
利用深溝槽和外延填充的方法制作超級(jí)結(jié)器件,對(duì)于深溝槽刻蝕和外延填充都是 一種挑戰(zhàn),動(dòng)輒大于10的深寬比,使得這種器件的制作非常困難,在提升器件的性 能的同時(shí)一般都要求更高的工藝能力。
如圖1所示,是現(xiàn)有溝槽型超級(jí)結(jié)的制造方法形成的超級(jí)結(jié)在后續(xù)熱過(guò)程之后的 結(jié)構(gòu)示意圖;現(xiàn)有方法包括如下步驟:
步驟一、提供一半導(dǎo)體襯底如硅襯底101,在所述半導(dǎo)體襯底101表面形成有N 型外延層102。
步驟二、采用光刻刻蝕工藝在N型外延層102中形成多個(gè)溝槽。
步驟三、采用外延生長(zhǎng)中在所述溝槽中填充P型外延層103,P型外延層103會(huì) 同時(shí)延伸到所述溝槽外部的所述N型外延層102表面。
步驟四、進(jìn)行化學(xué)機(jī)械研磨工藝將溝槽外部的P型外延層103去除,溝槽區(qū)域內(nèi) 的P型外延層103和溝槽外部的表面相平,最后形成由填充于溝槽中的所述P型外延 層103組成的P型薄層和由所述溝槽之間的所述N型外延層102組成N型薄層交替排 列結(jié)構(gòu),該P(yáng)型薄層和N型薄層交替排列的結(jié)構(gòu)即為超級(jí)結(jié)。
超級(jí)結(jié)形成之后,后續(xù)需要制作超級(jí)結(jié)器件,后續(xù)超級(jí)結(jié)器件制作過(guò)程中會(huì)包括 P型體區(qū)(Pbody)推進(jìn)等一系列熱過(guò)程中,已制作完成的P型薄層也稱(chēng)P型柱 (P-Pillar)也會(huì)受到很大的推進(jìn),根據(jù)工藝不同,單邊推進(jìn)量可能接近1微米,圖 1中標(biāo)記103a所示區(qū)域即為P型薄層103在后續(xù)熱過(guò)程后的硼向外橫向擴(kuò)散到N型薄 層102中的區(qū)域,現(xiàn)有方法形成的P型薄層103會(huì)產(chǎn)生較多的外擴(kuò),P型薄層103和 N型薄層102之間的摻雜會(huì)互相抵消效應(yīng)(counterdope),最后會(huì)使得N型薄層102 具有導(dǎo)電性能導(dǎo)電通道的有效寬度變窄,從而會(huì)損失器件性能,損失工藝能力。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種溝槽型超級(jí)結(jié)的制造方法,能有效增加N 型薄層的導(dǎo)電通道的有效寬度,提升器件性能,最大化利用工藝能力。
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供的溝槽型超級(jí)結(jié)的制造方法包括如下步驟:
步驟一、提供一半導(dǎo)體襯底,在所述半導(dǎo)體襯底表面形成有N型外延層。
步驟二、采用光刻刻蝕工藝在所述N型外延層中形成多個(gè)溝槽。
步驟三、采用外延生長(zhǎng)在所述溝槽的底部表面和側(cè)面形成含碳硅外延層。
步驟四、采用外延生長(zhǎng)工藝在形成有所述含碳硅外延層的所述溝槽中填充P型外 延層,所述P型外延層同時(shí)延伸到所述溝槽外部的所述N型外延層表面;所述P型外 延層的摻雜元素為硼,通過(guò)設(shè)置所述含碳硅外延層阻擋所述P型外延層中的硼外擴(kuò)到 所述N型外延層中。
步驟五、進(jìn)行化學(xué)機(jī)械研磨工藝,所述化學(xué)機(jī)械研磨工藝將所述溝槽外部的所述 P型外延層去除、將所述溝槽區(qū)域的所述P型外延層的表面和所述溝槽外的表面相平; 由填充于所述溝槽中的所述含碳硅外延層和所述P型外延層組成P型薄層,由各所述 溝槽之間的所述N型外延層組成N型薄層,由所述N型薄層和所述P型薄層交替排列 組成超級(jí)結(jié)。
進(jìn)一步的改進(jìn)是,步驟一中所述N型外延層的厚度為15微米~60微米。
進(jìn)一步的改進(jìn)是,所述半導(dǎo)體襯底為硅襯底,所述N型外延層為N型硅外延層, 所述P型外延層為P型硅外延層。
進(jìn)一步的改進(jìn)是,步驟二中形成所述溝槽包括如下分步驟:
步驟21、在所述N型外延層表面形成硬質(zhì)掩模層。
步驟22、在所述硬質(zhì)掩模層表面涂布光刻膠,進(jìn)行光刻工藝將所述溝槽形成區(qū)域 打開(kāi)。
步驟23、以所述光刻膠為掩模對(duì)所述硬質(zhì)掩模層進(jìn)行刻蝕,該刻蝕工藝將所述溝 槽形成區(qū)域的所述硬質(zhì)掩模層去除、所述溝槽外的所述硬質(zhì)掩模層保留。
步驟24、去除所述光刻膠,以所述硬質(zhì)掩模層為掩模對(duì)所述N型外延層進(jìn)行刻蝕 形成所述溝槽。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專(zhuān)門(mén)適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類(lèi)型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
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