[發明專利]不同大小樣本均值-標準偏差控制圖的統計過程控制方法有效
| 申請號： | 201610023611.7 | 申請日： | 2016-01-14 |
| 公開（公告）號： | CN105676817B | 公開（公告）日： | 2018-07-27 |
| 發明（設計）人： | 田文星;游海龍;顧鎧;賈新章 | 申請（專利權）人： | 西安電子科技大學 |
| 主分類號： | G05B19/418 | 分類號： | G05B19/418 |
| 代理公司： | 陜西電子工業專利中心 61205 | 代理人： | 王品華;黎漢華 |
| 地址： | 710071*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 不同 大小 樣本 均值 標準偏差 控制 統計 過程 方法 | ||
1.一種不同大小樣本均值-標準偏差控制圖的統計過程控制方法，其特征在于，包括以下步驟：
(1)采集樣本：
當同一產品在相應的工序完成加工后，根據企業采樣標準，采集k批樣本；記第i批樣本的大小為ni，第i批的第j個樣本為xij，其中i＝1,2,…,k，j＝1,2,…ni，k≥25，ni≥2；
(2)根據每批的樣本，獲得每批樣本的均值和標準偏差，其中第i批的均值和標準偏差si為:
(3)根據每批樣本的大小、均值和標準偏差，獲得母體均值估計量μ和標準偏差估計值σ：
其中C2(ni)、C3(ni)為中間變量，是關于樣本大小ni的函數，其計算公式為：Γ(ni/2)和Γ((ni-1)/2)是關于樣本大小ni的伽瑪函數；
(4)獲得均值-標準偏差控制圖中兩個控制圖各自相應的特征值：
4a)根據第i批的均值母體均值估計量μ和標準偏差估計值σ，獲得均值控制圖的特征值：
4b)根據第i批的標準偏差si、母體均值估計量μ和標準偏差估計值σ，獲得標準偏差控制圖的特征值：
(5)獲得均值-標準偏差控制圖中兩個控制圖各自相應的控制線：
5a)根據均值控制圖的特征值μdi服從標準正態分布的特性，利用‘3sigma’原理，得到均值控制圖的中心線CL1、上控制線UCL1和下控制線LCL1：
5b)根據標準偏差控制圖的特征值sdi近似服從標準正態分布的特性，利用‘3sigma’原理，得到標準偏差控制圖的中心線CL2、上控制線UCL2和下控制線LCL2：
(6)按照休哈特控制圖的繪制方法，將步驟(4a)和步驟(5a)得到的結果繪制到均值控制圖中，將步驟(4b)和步驟(5b)得到的結果繪制到標準偏差控制圖中；
(7)應用判斷過程異常準則對步驟(6)得到的兩個控制圖進行判斷：如果兩個控制圖均未出現異常，則說明生產過程是受控的，繼續進行生產；如兩個控制圖有一個或兩個控制圖出現異常，則說明生產過程失控，則需停止生產，查找失控原因并采取相應的措施。
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