[發(fā)明專利]一種CCD響應(yīng)非均勻性和線性性的檢測裝置及檢測方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610022274.X | 申請(qǐng)日: | 2016-01-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105676098A | 公開(公告)日: | 2016-06-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄭垠波;丁磊;周信達(dá);巴榮聲;袁靜;徐宏磊;姜宏振;張霖;楊曉瑜;陳波 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國工程物理研究院激光聚變研究中心 |
| 主分類號(hào): | G01R31/26 | 分類號(hào): | G01R31/26 |
| 代理公司: | 成都弘毅天承知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51230 | 代理人: | 趙宇 |
| 地址: | 621900*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 ccd 響應(yīng) 均勻 線性 檢測 裝置 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種CCD響應(yīng)非均勻性和線性性的檢測裝置及檢測方法,屬于光學(xué)成像及數(shù)字圖像處理分析技術(shù)領(lǐng)域中的響應(yīng)非均勻性和線性性的檢測裝置、檢測方法。其檢測裝置包括測試光源、衰減片、取樣鏡、光契對(duì)、長焦匯聚透鏡、待測CCD、二維平移臺(tái)、能量計(jì)、計(jì)算機(jī)、控制器和暗箱,測試光源產(chǎn)生的入射激光依次經(jīng)衰減片、取樣鏡后產(chǎn)生反射激光和透射激光,反射激光直接入射至能量計(jì),透射激光依次經(jīng)光契對(duì)、長焦匯聚透鏡后入射至待測CCD,待測CCD安裝于二維平移臺(tái)上,二維平移臺(tái)與控制器電連接,待測CCD、能量計(jì)和控制器均與計(jì)算機(jī)電連接。本發(fā)明適用于CCD響應(yīng)非均勻性和線性性的檢測裝置及檢測方法。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于光學(xué)成像及數(shù)字圖像處理分析技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種CCD響應(yīng)非均勻性和線性性的檢測裝置及檢測方法。
背景技術(shù)
CCD(Charge Coupled Device)是一種光電轉(zhuǎn)換器件,通過光電效應(yīng)將光信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào),并且轉(zhuǎn)移并存儲(chǔ)電信號(hào)。CCD響應(yīng)非均勻性是指在完全均勻光輻照時(shí),CCD各個(gè)光敏元輸出信號(hào)的差異性。
在描述CCD的眾多參數(shù)中,有兩個(gè)極為重要的參數(shù):響應(yīng)非均勻性和線性性。在檢測CCD的響應(yīng)非均勻性和線性性時(shí),常規(guī)的檢測方法是使用積分球或平行光管的方式進(jìn)行檢測:通過積分球均勻輻照到CCD,CCD芯片整體感光,然后逐漸改變積分球的輸出參數(shù)并獲得在該輸出條件下CCD相應(yīng)的響應(yīng),進(jìn)而獲得CCD的響應(yīng)非均勻性和線性性情況。采用積分球的檢測方法較為復(fù)雜且耗費(fèi)較大,難以避免積分球在不同參數(shù)下輸出的穩(wěn)定性。此外,積分球很難溯源,還沒有一家機(jī)構(gòu)能夠認(rèn)定積分球所存在的誤差,因而采用積分球進(jìn)行檢測時(shí)因積分球的誤差未知而無法消除由此帶來的檢測誤差,即可溯源性較差,CCD的響應(yīng)非均勻性和線性性檢測精度較低。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的發(fā)明目的在于:針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的問題,提供一種檢測精度高、檢測穩(wěn)定性好的CCD響應(yīng)非均勻性和線性性的檢測裝置及檢測方法。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:
一種CCD響應(yīng)非均勻性和線性性的檢測裝置,包括測試光源、衰減片、取樣鏡、光契對(duì)、長焦匯聚透鏡、待測CCD、二維平移臺(tái)、能量計(jì)、計(jì)算機(jī)、控制器和暗箱,所述測試光源產(chǎn)生的入射激光依次經(jīng)衰減片、取樣鏡后產(chǎn)生反射激光和透射激光,所述反射激光直接入射至能量計(jì),所述透射激光依次經(jīng)光契對(duì)、長焦匯聚透鏡后入射至待測CCD,所述待測CCD安裝于二維平移臺(tái)上,所述待測CCD和二維平移臺(tái)均放置于暗箱內(nèi),所述二維平移臺(tái)與控制器電連接,所述待測CCD、能量計(jì)和控制器均與計(jì)算機(jī)電連接。
其中,所述測試光源為激光光源。
其中,所述計(jì)算機(jī)包括CCD數(shù)據(jù)采集卡,所述CCD數(shù)據(jù)采集卡與待測CCD電連接。
其中,所述光契對(duì)為正交光契對(duì),所述正交光契對(duì)的兩斜面均鍍有反射率為95%的反射膜。
其中,所述長焦匯聚透鏡與待測CCD之間的距離小于長焦匯聚透鏡的瑞利范圍。
一種CCD響應(yīng)非均勻性和線性性的檢測方法,包括以下步驟:
步驟一、固定CCD響應(yīng)非均勻性和線性性檢測裝置中待測CCD的曝光時(shí)間、待測CCD芯片的溫度,調(diào)試并固定CCD響應(yīng)非均勻性和線性性檢測裝置中測試光源的入射激光的能量、衰減片的衰減倍率、二維平移臺(tái)的工作參數(shù),標(biāo)定CCD響應(yīng)非均勻性和線性性檢測裝置中取樣鏡的能量取樣系數(shù)γ,能量計(jì)經(jīng)過溯源標(biāo)定;
步驟二、關(guān)閉CCD響應(yīng)非均勻性和線性性檢測裝置的測試光源,CCD響應(yīng)非均勻性和線性性檢測裝置的待測CCD記錄多幀暗圖像并將暗圖像傳輸至CCD響應(yīng)非均勻性和線性性檢測裝置的計(jì)算機(jī),計(jì)算多幀暗圖像的平均值作為后續(xù)步驟計(jì)算的圖像本底;
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R31-00 電性能的測試裝置;電故障的探測裝置;以所進(jìn)行的測試在其他位置未提供為特征的電測試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測試;測試對(duì)象多點(diǎn)通過測試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測試
G01R31-08 .探測電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測試
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