[發(fā)明專利]像素陣列、電氣光學裝置、電氣設(shè)備及驅(qū)動像素陣列的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610021546.4
• 申請日: 2016-01-13
• 公開（公告）號: CN105789253B
• 公開（公告）日: 2020-12-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 松枝洋二郎;高取憲一
• 申請（專利權(quán)）人: 天馬微電子股份有限公司
• 主分類號: H01L27/32
• 分類號: H01L27/32;G09G3/3225
• 代理公司: 北京同達信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華;何月華

本發(fā)明涉及像素陣列、電氣光學裝置、電氣設(shè)備及驅(qū)動像素陣列的方法。一種像素陣列，像素以二維方式排列，各像素由發(fā)光率最高的第一色的子像素、第二色的子像素以及發(fā)光率最低的第三色的子像素構(gòu)成，各像素中的第一色至第三色的各子像素的電路元件沿行方向排列。第一色和第二色的子像素的發(fā)光區(qū)域沿相對于行方向傾斜的第一方向排列；第三色的子像素的發(fā)光區(qū)域相對于第一色和第二色的子像素的發(fā)光區(qū)域，沿第二方向排列。數(shù)據(jù)線沿列方向延伸并連接到子像素中的電路元件。與第一色和第二色的子像素中的電路元件連接的數(shù)據(jù)線、與第二色和第三色的子像素中的電路元件連接的數(shù)據(jù)線、以及與第三色和第一色的子像素中的電路元件連接的數(shù)據(jù)線重復配置。

相關(guān)申請的交叉引用

本申請要求2015年1月14日在日本提交的專利申請No.2015-4706的優(yōu)先權(quán)，該日本專利申請的全部內(nèi)容通過引入并入本文。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及像素陣列、包括該像素陣列的電氣光學裝置、利用該電氣光學裝置作為顯示裝置的電氣設(shè)備、以及驅(qū)動像素陣列的方法。

背景技術(shù)

由于有機電致發(fā)光(EL)元件是電流驅(qū)動型的自發(fā)光元件，因此不需要背光源，并且可獲得低電力消耗、高視角、高對比度等的優(yōu)點，而在平板顯示器的開發(fā)中倍受期待。

在使用這種有機EL元件的有機EL顯示裝置中，利用紅色(R)、綠色(G)、藍色(B)這些不同顏色的子像素來構(gòu)成大量像素，由此能夠顯示各種彩色圖像。雖然這些R、G、B(RGB)的子像素可排列成各種不同的形式，但是，如圖1所示，它們通常通過均等地配置不同顏色的子像素而排列成條紋(所謂的RGB豎條紋排列)。通過調(diào)整這三色的子像素之間的亮度能夠顯示所有的顏色。通常，將相鄰的R、G、B的三個子像素共同視作一個矩形像素，將這種矩形像素配置成正方形以實現(xiàn)點矩陣顯示。在點矩陣型的顯示裝置中，將要顯示的圖像數(shù)據(jù)具有n×m的矩陣配置。通過使圖像數(shù)據(jù)與各像素一一對應，能夠顯示正確的圖像。

另外，有機EL顯示裝置具有不同的結(jié)構(gòu)，其包括基于白色的有機EL元件通過彩色濾光片產(chǎn)生RGB三色的彩色濾光片方式、以及涂覆用于RGB三色的各有機EL材料上的并排選擇涂覆方式。彩色濾光片方式具有以下缺點：由于彩色濾光片吸收光，因此光利用率下降，導致電力消耗提高，而并排選擇涂覆方式由于其高顏色純度而能夠容易具有更廣的色域，并且由于不使用彩色濾光片而使光利用率得以提高，因此并排選擇涂覆方式被廣泛利用。

在并排選擇涂覆方式中，為了分別涂覆有機EL材料，使用精細金屬掩模(FMM)。但是，由于隨著近年來有機EL顯示裝置的高精細化而使FMM的間距變窄，因此難以制造FMM。為了解決該問題，利用人眼對R和B不敏感而對G敏感的人的色覺特性，提出以下的像素排列結(jié)構(gòu)(所謂的波形瓦(PenTile，注冊商標)排列)：如圖2所示，由G和B兩色或G和R兩色構(gòu)成子像素，通過將兩色子像素與具有缺失顏色的子像素的相鄰的像素組合，將需要與RGB排列相比顏色缺失的子像素的顏色表現(xiàn)再現(xiàn)成偽陣列(例如，美國專利No.6,771,028、美國專利申請公開No.2002/0186214、美國專利申請公開No.2004/0113875、以及美國專利申請公開No.2004/0201558)。

波形瓦排列使R和B的點寬度與兩個豎條相當，并減少子像素的數(shù)量，從而使FMM的開口尺寸更大，并由此使高精密的有機EL顯示裝置的制造容易。然而，波形瓦排列使用拼接方法來緩解由于子像素的減少引起的顏色缺乏。因此，波形瓦排列使原本平滑的曲線顯示成臺階狀的鋸齒、或者在色調(diào)或亮度連續(xù)變化的圖像中顏色的變化被觀察成線狀的缺陷。