[發明專利]一種受控頻偏的時間間隔測量精度計量檢定方法及裝置在審
| 申請號： | 201610021523.3 | 申請日： | 2016-01-14 |
| 公開（公告）號： | CN105629704A | 公開（公告）日： | 2016-06-01 |
| 發明（設計）人： | 李樹洲;韓春好;蔡志武;杜燕;藺玉亭;孫海燕;張軍;李強;趙景斐;趙潤;王豐;李齡;閆芳君;張健鋌;王濤 | 申請（專利權）人： | 北京衛星導航中心 |
| 主分類號： | G04F10/00 | 分類號： | G04F10/00 |
| 代理公司： | 北京眾合誠成知識產權代理有限公司 11246 | 代理人： | 龔燮英 |
| 地址： | 100094*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 受控 時間 間隔 測量 精度 計量 檢定 方法 裝置 | ||
1.一種受控頻偏的時間間隔測量精度計量檢定方法，其特征在于，包括以下步 驟，
步驟S101:通過頻率綜合儀控制ΔF＝0，ΔΦ取不同的值，用于評估固定時間 間隔測量的背景噪聲；
步驟S102：通過頻偏ΔF/F≠0，ΔF/F的不同取值，產生連續受控的高精度 時間間隔；
步驟S103：選擇合適的頻偏ΔF/F值，對被測TIM儀表的背景噪聲和不確定 度進行高精度計量檢測；
步驟S104：通過數據處理，將固定ΔF/F頻偏的影響消除。
2.按照權利要求1所述的一種受控頻偏的時間間隔測量精度計量檢定方法，其 特征在于：所述步驟S103中選擇合適的頻偏ΔF/F值為隨著ΔF/F的增加，鋸 齒波的周期將對應減小，直至減小到一個鋸齒波周期內的采樣點嚴重不足，而 最終會造成測量曲線變成無法觀測到周期的背景噪聲，選擇此時的頻偏ΔF/F 值。
3.按照權利要求1所述的種受控頻偏的時間間隔測量精度計量檢定方法，其特 征在于：所述步驟S104中通過數據處理，消除ΔF/F頻偏的影響為校正后的TIE 測量值＝實際測量TIE值-ΔF/F*T，其中T為每個測量值對應測量開始時刻的時 間。
4.一種受控頻偏的時間間隔測量精度計量檢定裝置，其特征在于：包括參考源 和頻率綜合儀器，所述參考源分別與被計量TIM設備的參考信號輸入端和通道A 相連接，所述參考源與頻率綜合儀的參考輸入端相連接，所述頻率綜合儀與被 計量TIM設備的通道B相連接。
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