[發(fā)明專利]一種電子材料中消耗臭氧物質含量的檢測方法

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201610021484.7
• 申請日: 2016-01-13
• 公開（公告）號: CN106970158A
• 公開（公告）日: 2017-07-21
• 發(fā)明（設計）人: 胡德霖;胡醇;楊星琦;湯曉萍;閆敏
• 申請（專利權）人: 蘇州電器科學研究院股份有限公司
• 主分類號: G01N30/02
• 分類號: G01N30/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發(fā)明涉及一種電子材料中消耗臭氧物質含量的檢測方法，屬于電子電氣產品中有毒有害物質檢測技術領域。

背景技術

消耗臭氧物質是指破壞大氣臭氧層、危害人類生存環(huán)境的物質，以下簡稱ODS。據(jù)科學研究表明，工業(yè)上大量生產和使用的全氯氟烴、全溴氟烴等物質被釋放并上升到平流層時，受到強烈的太陽紫外線UV-C的照射，分解出Cl.自由基和Br.自由基，這些自由基很快與臭氧進行連鎖反應，每個Cl.自由基可以摧毀10萬個臭氧分子。目前ODS包括下列物質：CFC、哈龍(Halon)、四氯化碳、甲基氯仿溴甲烷以及HCFC、HBFC等含鹵化合物。ODS常用于電子線路板、精密金屬零部件的清洗劑；滅火系統(tǒng)或手提滅火器中的滅火劑；冰箱、冷凍機、空調等制冷設備中的制冷劑等，其中電子工業(yè)材料是ODS的主要產生渠道。

對于電子材料中是否存在消耗臭氧物質以及含量是多少，需要一種方便、快捷的檢測方法來檢測。

發(fā)明內容

針對電子材料中需要檢測消耗臭氧物質的含量，本發(fā)明提供一種可以快速定量檢測電子材料中消耗臭氧物質含量的方法。

本發(fā)明包括一種使用帶有頂空進樣器的氣相色譜-質譜聯(lián)用儀(GC-MS)快速測試電子材料中消耗臭氧物質的含量的簡便方法。

附圖說明

附圖1為本發(fā)明實施例的操作流程圖。

具體實施方式

下面結合具體的實施例對本發(fā)明做進一步的詳細說明，所述是對本發(fā)明的解釋而不是限定。本領域技術人員可由說明書所揭示的內容輕易地了解本發(fā)明的優(yōu)點與功效。

本發(fā)明也可通過其他不同的具體實例加以實施或應用，本說明書中的各項細節(jié)亦可基于不同觀點與應用。

本發(fā)明實施例的操作流程圖如附圖1所示，在室溫條件下稱取2g樣品于頂空瓶中，精確至±0.1mg，用移液管或其他定量移取裝置緩慢加入10ml去離子水作萃取劑，用封瓶器將頂空瓶密封并搖勻待測，采用相同的試劑，在相同的條件下進行空白實驗，再配置好標準曲線溶液，用帶有頂空進樣器的氣相色譜-質譜聯(lián)用儀(GC-MS)定量分析，建立標準曲線后，測定空白、樣品溶液，依據(jù)每個試樣的出峰保留時間和定量離子，由標準曲線查得樣品中所含臭氧消耗物質系列所對應的各個物質和濃度。

本發(fā)明的樣品前處理過程中，加入的萃取劑也可根據(jù)樣品的不同沸點分別選擇其他試劑或不同含量(如加入10ml甲醇；加入10ml乙醇和水的混合物；加入0～5ml的去離子水等)。

上述實施例僅為示例性說明本發(fā)明的原理及功效，而并非用于限制本發(fā)明。任何本領域的技術人員均可在不違背本發(fā)明精神及范疇的前提下，對上述實施進行合理的修飾與變化。因此，本發(fā)明的所有權利保護范圍，應以權利要求書的范圍為依據(jù)。