[發明專利]一種芯片驗證中確定回歸測試版本異常源頭的方法

有效

• 申請號: 201610020369.8
• 申請日: 2016-01-13
• 公開（公告）號: CN105677996B
• 公開（公告）日: 2018-10-23
• 發明（設計）人: 耿介;姜凱;于治樓
• 申請（專利權）人: 浪潮集團有限公司
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 濟南信達專利事務所有限公司 37100
• 代理人: 孟峣

本發明公開了一種芯片驗證中確定回歸測試版本異常源頭的方法，其實現過程為：對回歸測試中出現錯誤的原因進行分析，自動檢測錯誤原因，通過確定出錯源頭的方式，使得錯誤原因能被明確顯示，幫助設計人員及時修正錯誤。該芯片驗證中確定回歸測試版本異常源頭的方法與現有技術相比，極大提高邏輯驗證的效率，縮短芯片開發周期，實用性高，易于推廣。

技術領域

本發明涉及芯片邏輯驗證領域，具體地說是一種實用性強、芯片驗證中確定回歸測試版本異常源頭的方法。

背景技術

伴隨芯片設計復雜度的增加，芯片邏輯設計驗證很大程度上借鑒了軟件開發的模式以及項目管理理念。版本管理，回歸測試，持續集成等方法也獲得了廣泛應用。這些方法能獲得應用，是因為邏輯設計驗證與軟件開發有諸多共同點，比如源代碼都是文本文件，大項目需要多人多地并行開發。但是邏輯設計驗證又有自己的特點，使得普通軟件項目管理的方法在這個領域需要進行相應調整。

邏輯設計驗證與軟件開發最大的不同之處在于，芯片邏輯設計必須保證交付前完全無缺陷，否則重新更改設計成本極大。這就導致對驗證的要求很高，致使驗證部分所需工作量極大，驗證本身需要占用大量的開發時間和計算資源。軟件開發基本可以每修改一次設計，進行一下回歸測試，保證提交的版本是正確的。但是復雜的邏輯設計每次進行回歸測試，可能需要幾個小時甚至幾天的時間。而這段時間內可能會有新的代碼版本被提交，這就導致不是所有被提交的版本都是干凈的。這樣會引起一連串復雜的問題。另外芯片驗證普遍使用受控隨機測試來輔助傳統的人工開發直接測試用例的方法，。受控隨機測試根據輸入的限定條件，在有限范圍內自動產生各種隨機組合，更容易發現邏輯設計的缺陷。這種方法不同于人工開發的直接測試用例，它在代碼有修改后可能導致錯誤無法重現。這些都會導致提交的代碼版本如果出現測試錯誤，則錯誤來源是不明確的。

為了有效的解決以上問題，我們需要對這些問題進行詳細分析，并找出對應方法，確定真正的錯誤源頭，方便對其作出修改。

發明內容

本發明的技術任務是針對以上不足之處，提供一種實用性強、芯片驗證中確定回歸測試版本異常源頭的方法。

一種芯片驗證中確定回歸測試版本異常源頭的方法，其具體實現過程為：對回歸測試中出現錯誤的原因進行分析，自動檢測錯誤原因，通過確定出錯源頭的方式，使得錯誤原因能被明確顯示，幫助設計人員及時修正錯誤。

自動檢測回歸測試中的錯誤原因采用以下方式進行：

對待檢測版本的產品進行冒煙測試，測試通過后將其提交到版本庫；

對冒煙測試未通過的產品進行修改，修改后的產品采用并行版本測試方法，即與可通過測試的版本合并的方式進行測試，通過測試后則將其提交到版本庫。

上述測試在邏輯驗證平臺中進行，該邏輯驗證平臺包括仿真用的計算集群、仿真器軟件、版本管理系統、被測對象的RTL代碼、驗證平臺與測試激勵，回歸測試中的錯誤則是由上述邏輯驗證平臺中的各部分出問題產生的。

所述回歸測試中的錯誤具體分為以下三類：

一、由于硬件與網絡錯誤、版本沖突、仿真器許可缺失導致的驗證平臺基本功能故障；

二、由于驗證平臺與測試激勵的bug導致的回歸測試的錯誤；

三、由于被測對象的RTL代碼的bug導致的回歸測試的錯誤。

所述冒煙檢測所需的測試用例從總的回歸測試用例集合中人工挑選出來，該挑選出的測試用例為測試產品的基本功能；

每當有需要提交的版本時，邏輯驗證平臺對待提交版本運行一次冒煙測試，如果測試通過，則將此版本正式提交進版本庫；如果測試失敗，則通知提交者修改錯誤，而不進行提交。