[發明專利]一種光學元件透射反射率測量儀

有效

• 申請號: 201610019864.7
• 申請日: 2016-01-13
• 公開（公告）號: CN105510005B
• 公開（公告）日: 2019-01-15
• 發明（設計）人: 賈寶申;呂海兵;苗心向;周國瑞;牛龍飛;劉昊;鄒睿;李可欣
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院激光聚變研究中心
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 中國工程物理研究院專利中心 51210
• 代理人: 翟長明;韓志英

1.一種光學元件透射反射率測量儀，其特征在于，包括激光器（1）、斬光器（2）、分光鏡（3）、光電二極管Ⅰ（4）、光電二極管Ⅱ（5）、光電二極管Ⅲ（6）、前置放大器Ⅰ（7）、前置放大器Ⅱ（8）、前置放大器Ⅲ（9）、鎖相放大器Ⅰ（10）、鎖相放大器Ⅱ（11）、鎖相放大器Ⅲ（12）、光學元件卡具（13）、光學標準片（14）和計算機（15）；

所述的激光器（1）發出的連續激光經過斬光器（2）調制成脈沖激光，調制后的脈沖激光經過分光鏡（3）分成能量相同的兩束脈沖激光，一束脈沖激光被光電二極管Ⅰ（4）接收并轉換為電信號，電信號經過前置放大器Ⅰ（7）放大和鎖相放大器Ⅰ（10）的再次放大后，直接傳輸到計算機（15）；

另一束脈沖激光直接照射在放置于光學元件卡具（13）上的待測光學元件上，進而產生透射脈沖激光和反射脈沖激光，其中的反射脈沖激光被光電二極管Ⅱ（5）接收并轉換為電信號，前置放大器Ⅱ（8）接收光電二極管Ⅱ（5）產生的電信號并進行放大，放大后的電信號經過鎖相放大器Ⅱ（11）后直接傳遞給計算機（15）；透射脈沖激光被光電二極管Ⅲ（6）接收并轉化為電信號，前置放大器Ⅲ（9）接收光電二極管Ⅲ（6）產生的電信號并進行放大，放大后的電信號經鎖相放大器Ⅲ（12）在再次放大后直接傳遞到計算機（15）；

所述的光學元件卡具（13）用來裝卡待測光學元件和光學標準片（14），光學標準片（14）用于在測量待測光學元件之前對儀器各放大單元放大倍數的標定，所述的光學標準片（14）的反射率小于等于4%。

2.根據權利要求1所述的光學元件透射反射率測量儀，其特征在于，所述的激光器（1）產生的激光為連續激光，且輸出功率小于等于20 毫瓦。

3.根據權利要求1所述的光學元件透射反射率測量儀，其特征在于，所述的光電二極管Ⅰ（4）、光電二極管Ⅱ（5）和光電二極管Ⅲ（6）的型號相同。

4.根據權利要求1所述的光學元件透射反射率測量儀，其特征在于，所述的鎖相放大器Ⅰ（10）、鎖相放大器Ⅱ（11）和鎖相放大器Ⅲ（12）的型號相同。