[發(fā)明專利]石墨烯光吸收特性的玻璃基波導型光電探測器及制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610018407.6 | 申請日: | 2016-01-12 |
| 公開(公告)號: | CN105655420B | 公開(公告)日: | 2017-05-31 |
| 發(fā)明(設計)人: | 呂哲韜;王根成;楊龍志;趙昌云;楊建義 | 申請(專利權)人: | 浙江大學 |
| 主分類號: | H01L31/028 | 分類號: | H01L31/028;H01L31/18 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務所有限公司33200 | 代理人: | 林超 |
| 地址: | 310027 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 石墨 光吸收 特性 玻璃 基波 光電 探測器 制備 方法 | ||
1.一種基于石墨烯光吸收特性的光電探測器的制備方法,所述光電探測器包括依次自下而上分布覆于玻璃襯底(4)之上的玻璃基波導(1)、石墨烯薄膜(2)和兩塊金屬電極(3),玻璃基波導(1)呈條形位于玻璃襯底(4)中部,石墨烯薄膜(2)覆于玻璃基波導(1)上,兩塊金屬電極(3)相對稱地位于石墨烯薄膜(2)的兩側,每塊金屬電極(3)中一部分直接覆于玻璃襯底(4)上,另一部分覆于石墨烯薄膜(2)上;其特征在于所述制備方法包括以下步驟:
步驟1)以玻璃基片作為玻璃襯底(4),在玻璃基片表面處理制備獲得帶有玻璃基波導(1)的玻璃襯底(4);
步驟2)在玻璃襯底(4)上加工放置石墨烯,形成石墨烯薄膜(2);
步驟3)通過標準光刻工藝制作出金屬電極(3)的圖形,用電子束蒸發(fā)的方式將金屬電極(3)蒸鍍到石墨烯薄膜(2)和玻璃襯底(4)上。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種基于石墨烯光吸收特性的光電探測器的制備方法,其特征在于:所述步驟1)具體為:
1.1)將玻璃基片作為玻璃襯底(4)用濃硫酸清洗液洗凈,烘干后用真空蒸鍍在玻璃基片表面蒸鍍一層鋁掩膜(5);
1.2)在鋁掩膜(5)上旋涂一層光刻膠,將玻璃基片放入90℃的烘箱中前烘30分鐘,待玻璃基片冷卻至常溫,進行曝光顯影,顯影后再放入到120℃的烘箱中烘烤25分鐘,冷卻至常溫;
1.3)將玻璃基片放入到鋁腐蝕液中保持恒溫40℃進行腐蝕處理,腐蝕后取出用去離子水沖洗干凈,再依次用丙酮溶液、乙醇溶液和去離子水清洗,用干凈的氮氣吹干;
1.4)接著將玻璃基片置于NaNO3、Ca(NO3)2和AgNO3的熔鹽中熱交換2.75小時,NaNO3、Ca(NO3)2和AgNO3的質量配比為210:290:0.9,交換溫度為260℃,交換完成后取出,放入交換爐中隨爐冷卻,接著將玻璃片的兩端面進行拋光,制作獲得帶有玻璃基波導(1)的玻璃襯底(4)。
3.根據(jù)權利要求1所述的一種基于石墨烯光吸收特性的光電探測器的制備方法,其特征在于:
所述步驟2)具體為:在銅箔上生長石墨烯,接著在石墨烯上旋涂一層聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA),然后將結合銅、石墨烯和PMMA的樣品放入足量的FeCl3溶液中直至銅箔被完全腐蝕,再將結合石墨烯和PMMA的樣品轉移到玻璃襯底(4)上,放入超凈室中自然干燥12小時以上,接著放入到150℃的烘箱中烘烤1小時,使得石墨烯薄膜和玻璃襯底(4)緊密接觸,最后去除PMMA層。
4.根據(jù)權利要求1所述的一種基于石墨烯光吸收特性的光電探測器的制備方法,其特征在于:
所述步驟2)具體為:通過氧離子在高定向熱解石墨烯表面進行離子刻蝕,在表面刻蝕出寬度為1mm、深度為5μm的微槽后,將其粘到涂有光刻膠的玻璃襯底(4)上;接著采用機械剝離方法將石墨烯從光刻膠上反復剝離,用丙酮溶解光刻膠,留在光刻膠上形成石墨烯薄膜(2),并將石墨烯薄膜(2)分散在丙酮溶液中,將玻璃襯底(4)在丙酮溶液中浸泡后,再用丙醇和水沖洗,使得石墨烯薄膜(2)轉移到玻璃襯底(4)上。
5.根據(jù)權利要求1所述光電探測器的制備方法,其特征在于:所述的石墨烯薄膜(2)的厚度小于0.8nm,金屬電極(3)的厚度為50nm。
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H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





