[發明專利]晶體管特性圖示儀校準裝置

有效

• 申請號: 201610016703.2
• 申請日: 2016-01-11
• 公開（公告）號: CN105548936B
• 公開（公告）日: 2018-06-08
• 發明（設計）人: 章曉明
• 申請（專利權）人: 無錫市計量檢定測試中心
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 無錫市大為專利商標事務所(普通合伙) 32104
• 代理人: 殷紅梅;張濤

本發明涉及一種校準裝置，尤其是一種晶體管特性圖示儀校準裝置，屬于晶體管特性圖示儀校準的技術領域。本發明包括用于對晶體管特性圖示儀進行集電極電流掃描因數、功耗限制電阻校準的恒流電子負載電路以及用于對晶體管特性圖示儀進行基極電壓掃描因數校準的恒壓電子負載電路，所述恒流電子負載電路、恒壓電子負載電路均與校準選擇控制電路連接，所述校準選擇控制電路的輸入端與校準選擇電路連接，恒流電子負載電路、恒壓電子負載電路能通過校準連接電路與待校準的晶體管特性圖示儀連接；本發明結構緊湊，能實現對現有無校準插孔晶體管特性圖示儀的有效校準，使用方便，適應范圍廣，安全可靠。

技術領域

本發明涉及一種校準裝置，尤其是一種晶體管特性圖示儀校準裝置，屬于晶體管特性圖示儀校準的技術領域。

背景技術

目前，常用的國產晶體管特性圖示儀受到國內計量法規的約束，其在設計和生產過程中就考慮到了校準需求，通常留有專門用于校準儀器連接的校準插孔。隨著外資企業的進駐，技術新穎、性能優良的晶體管特性圖示儀不斷出現，例如：tektronix公司生產的370A、370B、371、572、576型晶體管特性圖示儀；KDKUYO公司的SCT-5FR型晶體管特性圖示儀等。外資生產的晶體管特性圖示儀價格較高，沒有結構圖，沒有原理線路圖，也沒有預留校準插孔，因此，無法用我國現在最權威的校準方法（中華人民共和國計量技術規范JJF1236-2010《半導體管特性圖示儀校準規范》）進行校準。

現行校準規范在校準Y軸集電極電流掃描因數、功耗限制電阻和X軸基極電壓掃描因數時，必須將外部校準電源引入晶體管特性圖示儀的測試點或打開機殼將校準電源連接在特定的電路點上，以進行檢測；但進行上述校準過程存在以下缺點：

1）、打開晶體管特性圖示儀的機殼進行校準時會對人身安全構成威脅：tektronix公司的371型圖示儀掃描電壓能達到3000伏。打開晶體管特性圖示儀，在沒有電路圖的情況下要找到集電極電壓掃描端的集電極電流取樣電阻、功耗電阻并不容易，并且不同型號的圖示儀電路結構也并不一樣。

2）、將標準直流電壓源或電流源加于晶體管特性圖示儀的集電極（或基極，或掃描箱）上，由于標準直流電壓源、標準直流電流源與晶體管特性圖示儀的電源特性，極可能導致晶體管特性圖示儀或校準直流電壓源、標準直流電流源的損壞；它們的電力可能擊毀被連接的設備，或由于電源的外部連接短路、或有負電源而使電源本身損壞。

此外，晶體管特性圖示儀內的集電極掃描電源是不能完全關斷的，只能調到最小，有時最小電壓竟也高達幾十伏，另外有些型號的晶體管特性圖示儀內的集電極掃描電源根本就不能手動調節。在有的晶體管特性圖示儀中，功耗限制電阻是經過接觸器進行間接連接的，所以在進行校準時，電源開關還不能關閉，這就對測量功耗電阻帶來了風險，因為一旦集電極掃描電源有殘余將會擊毀數字式多用表的電阻檔。

因此，用常用的方法無法完成這種晶體管特性圖示儀的校準，亟需研究一種新的測量方法來對此類儀器進行校準。

發明內容

本發明的目的是克服現有技術中存在的不足，提供一種晶體管特性圖示儀校準裝置，其結構緊湊，能實現對現有無校準插孔晶體管特性圖示儀的有效校準，使用方便，適應范圍廣，安全可靠。

按照本發明提供的技術方案，所述晶體管特性圖示儀校準裝置，包括用于對晶體管特性圖示儀進行集電極電流掃描因數校準、功耗限制電阻校準的恒流電子負載電路以及用于對晶體管特性圖示儀進行基極電壓掃描因數校準的恒壓電子負載電路，所述恒流電子負載電路、恒壓電子負載電路均與校準選擇控制電路連接，所述校準選擇控制電路的輸入端與校準選擇電路連接，恒流電子負載電路、恒壓電子負載電路能通過校準連接電路與待校準的晶體管特性圖示儀連接；

所述校準選擇電路能向校準選擇控制電路輸入對待校準晶體管特性圖示儀的校準類型，校準選擇控制電路能選擇并啟動與校準類型相匹配的恒流電子負載電路或恒壓電子負載電路，以利用啟動的恒流電子負載電路或恒壓電子負載電路對晶體管特性圖示儀進行所需的校準。