[發明專利]一種壓接式功率器件熱阻測試檢測裝置在審
| 申請號: | 201610013950.7 | 申請日: | 2016-01-11 |
| 公開(公告)號: | CN105548249A | 公開(公告)日: | 2016-05-04 |
| 發明(設計)人: | 張朋;鄧二平;劉文廣 | 申請(專利權)人: | 國網智能電網研究院;國家電網公司 |
| 主分類號: | G01N25/20 | 分類號: | G01N25/20 |
| 代理公司: | 北京安博達知識產權代理有限公司 11271 | 代理人: | 徐國文 |
| 地址: | 102211 北京市昌平區*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 壓接式 功率 器件 測試 檢測 裝置 | ||
1.一種壓接式功率器件熱阻測試檢測裝置,其特征在于,所述熱阻測試裝置包 括:由水平方向的構件設置于豎直方向的立柱(21)組成的框架,所述立柱設有 高度調節件和限位件。
2.如權利要求1所述的熱阻測試檢測裝置,其特征在于,所述高度調節件包括 設于所述立柱(21)中部的中基板(12)和所述立柱(21)中下部的壓力維持板 (3),所述限位件為設于所述立柱(21)上的螺母(22)。
3.如權利要求1所述的熱阻測試檢測裝置,其特征在于,所述水平方向的構件 包括上基板(11)、中基板(12)、下基板(13)和壓力維持基板(3),所述水平 方向的構件將所述框架分為三層;
所述框架上層設置有散熱裝置,中層設置有壓力均布裝置(5),下層設置有 壓力施加裝置(4);
所述水平方向的構件采用較厚的實心鋁材料制作。
4.如權利要求3所述的熱阻測試檢測裝置,其特征在于,所述上基板(11)和 所述下基板(13)被所述立柱(21)穿過,位于所述立柱(21)的兩端;分別在 所述上基板(11)和所述下基板(13)兩側設置所述螺母(22),用于固定所述 上基板(11)和所述下基板(13);
所述壓力維持基板(3)下側設置有所述螺母(22),用于固定所述壓力維持 基板的位置。
5.如權利要求3所述的熱阻測試檢測裝置,其特征在于,所述散熱裝置包括冷 卻系統接口(61)、直流母排接口(62)和散熱基板(63);
所述散熱裝置為成對設置,對稱分布在所述上基板(11)和所述中基板(12) 之間;靠近所述上基板(11)的所述直流母排接口(62)接正極,靠近所述中基 板(12)的所述直流母排接口(62)接負極;
所述散熱裝置與所述上基板和中基板之間分別設置有絕緣板(7);對稱設置 的所述散熱裝置和所述絕緣板(7)通過螺栓分別固定在所述上基板(11)和所述 中基板(12)上。
6.如權利要求5所述的熱阻測試檢測裝置,其特征在于,對稱設置的所述散熱 裝置之間用于放置被測器件;所述被測器件為壓接式功率器件。
所述壓力均布裝置(5)包括導柱(51)、碟簧(52)和半球面(53);
所述壓力均布裝置(5)位于所述中基板和壓力維持基板(3)之間;所述導 柱(51)的一端通過螺栓與傳感器(8)相連并固定在所述壓力維持基板(3)上, 所述碟簧(52)套設在所述導柱(51)外部;所述導柱(51)的另一端嵌入倒扣 的所述半球面(53)的凹面內;所述半球面(53)的頂端與所述中基板(12)點 接觸。
7.如權利要求1所述的熱阻測試檢測裝置,其特征在于,所述壓力施加裝置(4) 包括基座(41)、頂桿(42)和顯示儀表(43);
所述壓力施加裝置(4)位于所述壓力維持基板(3)和所述下基板(13)之 間;
所述基座(41)通過螺栓固定在所述下基板(13)上;所述基座(41)上表 面中心位置設置有所述頂桿(42);所述頂桿(42)隨著壓力的變化做上下伸縮 運動,且其上端與所述壓力維持基板(3)面接觸;所述基座(41)的一側設置 所述顯示儀表(43)。
8.如權利要求5所述的熱阻測試檢測裝置,其特征在于,所述絕緣板(7)采用 環氧樹脂材料制作。
9.如權利要求6所述的熱阻測試檢測裝置,其特征在于,所述傳感器(8)為數 字壓力傳感器。
10.如權利要求2所述的熱阻測試檢測裝置,其特征在于,所述立柱(21)和螺 母(22)外表面涂一層鎳防止氧化。
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