[發明專利]電源負載測試裝置

有效

• 申請號: 201610012433.8
• 申請日: 2012-06-21
• 公開（公告）號: CN105699912B
• 公開（公告）日: 2018-11-16
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 唐山尚新融大電子產品有限公司
• 主分類號: G01R31/40
• 分類號: G01R31/40
• 代理公司: 北京眾合誠成知識產權代理有限公司 11246
• 代理人: 連圍

一種電源負載測試裝置，用于對一被測電源進行動態負載測試，所述電源負載測試裝置包括依次電性連接的主控制器、函數發生器以及電流檢測電路，所述函數發生器用于輸出一方波信號；所述拉載電路用于根據所述方波信號動態地改變所述被測電源的輸出電流；所述電流檢測電路還電性連接至所述主控制器，所述電流檢測電路用于配合所述主控制器檢測所述輸出電流的斜率，所述主控制器用于將檢測到的所述輸出電流的斜率與一預設斜率值進行比較，并根據比較結果相應控制所述函數發生器調整所述方波信號，直到所述輸出電流的斜率與所述預設斜率值相等。

技術領域

本發明涉及一種電源負載測試裝置，尤其涉及一種用于電腦VRM的電源負載測試裝置。

背景技術

電腦的電壓調節模塊(Voltage Regulator Module，VRM)在實際使用中，其所帶的負載一般是動態負載，即，VRM的負載是隨時變化的，相應地，VRM的輸出電流也隨負載的變化而呈動態變化。例如，電腦在進入某些游戲程序時，VRM所帶的負載會明顯增大，相應地VRM的輸出電流也明顯增大。

在對VRM進行動態測試時，一般在VRM的輸出端連接一個電子負載，所述電子負載通過模擬實際使用情況改變VRM的輸出電流實現對VRM的動態負載測試。VRM進行動態測試時，其在電子負載的作用下，輸出電流的波形一般可簡化為圖1所示的方波波形，VRM的輸出電流從0上升到I1的上升時間為t1，其中，輸出電流的斜率，即電子負載的拉載斜率為：I1與上升時間t1的比值。根據負載的不同，VRM的拉載斜率也不同，有時，VRM需要較大的拉載斜率來驅動負載。

目前的電子負載的拉載斜率一般在1A/μs左右，并且是固定的，無法滿足某些VRM對較大拉載斜率的需求。

發明內容

針對上述問題，有必要提供一種可提供較大拉載斜率的電源負載測試裝置。

一種電源負載測試裝置，用于對一被測電源進行動態負載測試，包括依次電性連接的主控制器、函數發生器、拉載電路以及電流檢測電路，所述函數發生器用于輸出一方波信號；所述拉載電路用于根據所述方波信號動態地改變所述被測電源的輸出電流，包括電壓跟隨器、第一金屬氧化物半導體場效應晶體管、負載電阻，所述電壓跟隨器的同相輸入端電性連接至所述函數發生器的輸出端，用于接收所述方波信號，所述電壓跟隨器的輸出端電性連接至所述第一金屬氧化物半導體場效應晶體管的柵極，所述第一金屬氧化物半導體場效應晶體管的漏極電性連接至所述被測電源的輸出端，所述第一金屬氧化物半導體場效應晶體管的源極通過所述負載電阻接地，且所述第一金屬氧化物半導體場效應晶體管的源極與所述負載電阻之間的節點電性連接至所述電壓跟隨器的反相輸入端；所述電流檢測電路還電性連接至所述主控制器，其包括運算放大器，所述運算放大器的的同相輸入端電性連接至所述第一金屬氧化物半導體場效應晶體管的源極與所述負載電阻之間的節點，所述運算放大器的反相輸入端電性連接至所述負載電阻與地之間的節點，所述運算放大器的輸出端電性連接至主控制器，所述運算放大器用于將所述負載電阻上流過的所述輸出電流放大后轉換成相應的電壓信號輸出至所述主控制器，所述主控制器根據該電壓信號相應計算出所述輸出電流，從而根據所述輸出電流的變化判斷出所述輸出電流的斜率，所述電流檢測電路用于配合所述主控制器檢測所述輸出電流的斜率，所述主控制器用于將檢測到的所述輸出電流的斜率與一預設斜率值進行比較，并根據比較結果相應控制所述函數發生器調整所述方波信號，直到所述輸出電流的斜率與所述預設斜率值相等。

本發明中電源負載測試裝置通過主控制器控制函數發生器對方波信號的波形進行調節，從而可通過拉載電路相應調節該電源負載測試裝置的拉載斜率，從而可根據需要獲得較大的拉載斜率。此外，根據鍵盤電路輸入的不同的預設斜率值，所述電源負載測試裝置還可相應得到不同的拉載斜率，因此，具有較好的通用性。

附圖說明

圖1為現有VRM在進行動態測試時的輸出電流波形圖。

圖2為本發明較佳實施方式的電源負載測試裝置的功能模塊圖。