[發(fā)明專利]一種多晶硅表面倒金字塔結(jié)構(gòu)及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610005713.6 | 申請(qǐng)日: | 2016-01-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105428434B | 公開(公告)日: | 2017-07-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蒲天;羅旌旺;吳兢;芮春保 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇輝倫太陽能科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L31/0236 | 分類號(hào): | H01L31/0236 |
| 代理公司: | 南京縱橫知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司32224 | 代理人: | 董建林 |
| 地址: | 210061 江蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 多晶 表面 金字塔結(jié)構(gòu) 及其 制備 方法 | ||
1.一種多晶硅表面倒金字塔結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟一、多晶硅硅片表面損傷層去除:將經(jīng)過清洗后的多晶硅硅片置于氫氟酸和HNO3的混合溶液中,進(jìn)行表面機(jī)械損傷層去除;
步驟二、多晶硅硅片表面黑硅結(jié)構(gòu)制作:采用金屬離子輔助刻蝕法或使用飛秒激光脈沖法或反應(yīng)離子刻蝕法進(jìn)行黑硅制作;
步驟三、多晶硅硅片表面倒金字塔織構(gòu)的制作:先將上述方法制的黑硅置于含有雙氧水和乙醇胺的混合液中浸洗,然后將洗好的黑硅置于雙氧水、氫氟酸、偏磷酸及氟化銨的混合液再次浸洗;或者僅將黑硅置于雙氧水、氫氟酸、偏磷酸及氟化銨的混合液浸洗;即可在多晶硅硅片表面制得倒金字塔結(jié)構(gòu);
所述步驟三中,含有雙氧水和乙醇胺的混合液,其百分比濃度配比為純水68%-97%、乙醇胺0%-2%、氨水1%~10%和雙氧水2%-20%,反應(yīng)溫度為8℃-30℃,反應(yīng)時(shí)間為60s-500s;雙氧水、氫氟酸、偏磷酸及氟化銨的混合液,其百分比濃度配比為純水73%-94.9%、雙氧水4%-7%、氫氟酸0.1%-3%、偏磷酸0%-2%及氟化銨1%-15%,反應(yīng)溫度為50℃-80℃,反應(yīng)時(shí)間為50s-600s;
步驟四、多晶硅硅片的清洗:將表面具有倒金字塔結(jié)構(gòu)的多晶硅硅片在HF溶液中清洗,再放入純水清洗,最后甩干。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多晶硅表面倒金字塔結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于:所述步驟一中氫氟酸和HNO3的混合溶液中,氫氟酸的體積分?jǐn)?shù)為12%~15%,HNO3的體積分?jǐn)?shù)60%~65%,純水體積分?jǐn)?shù)20%~28%,反應(yīng)溫度為7~9℃,反應(yīng)時(shí)間為1-2min。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多晶硅表面倒金字塔結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于:所述步驟二中金屬離子輔助刻蝕法:將去除損傷層后的多晶硅硅片置于氫氟酸和硝酸銀的混合溶液中進(jìn)行銀顆粒沉積,再將沉積完成的多晶硅硅片置于氫氟酸和雙氧水的混合溶液中進(jìn)行化學(xué)腐蝕,得到納米黑硅。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的多晶硅表面倒金字塔結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于:所述步驟二金屬離子輔助刻蝕法中,氫氟酸和硝酸銀的混合溶液中百分比濃度配比為,純水92%-99%、氫氟酸0.1%~3%和硝酸銀0.1%~5%,反應(yīng)溫度為8℃-30℃,反應(yīng)時(shí)間為10~100s;氫氟酸和雙氧水的混合液中百分比濃度配比為,純水85%-98%、雙氧水1%-5%和氫氟酸1%-10%,反應(yīng)溫度為8℃-60℃,反應(yīng)時(shí)間為120s-500s。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多晶硅表面倒金字塔結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于:所述步驟二中飛秒激光脈沖法:用激光脈沖法進(jìn)行黑硅制作,將多晶硅硅片形成掩膜層,在掩膜層上形成預(yù)定圖形通孔陣列,對(duì)圖形掩膜多晶硅硅片進(jìn)行刻蝕,在多晶硅硅片上形成預(yù)定圖形凹槽陣列,去除掩膜層,將多晶硅硅片置于六氟化硫或硫化氫氣體中,使用400-1000波長(zhǎng)的激光,其脈沖為500-2100個(gè)輻照硅片,得到納米黑硅。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多晶硅表面倒金字塔結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于:所述步驟二中反應(yīng)離子刻蝕法:將多晶硅硅片置于真空室中,用低能離子束均勻照射多晶硅硅片,然后將照射后的多晶硅硅片置于反應(yīng)離子刻蝕真空室中,制得黑硅樣品。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多晶硅表面倒金字塔結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于:將步驟三得到的表面具有倒金字塔結(jié)構(gòu)的多晶硅硅片再置入氨水和雙氧水的混合液中清洗,再進(jìn)行步驟四,所述氨水和雙氧水的混合液,其百分比濃度配比為純水70%~97%、雙氧水2%~20%和氨水1%~10%,反應(yīng)溫度為8℃-30℃,反應(yīng)時(shí)間為30~180s。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的多晶硅表面倒金字塔結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于:所述步驟四中HF的體積分?jǐn)?shù)為1%~5%,純水的體積分?jǐn)?shù)為95%~99%,清洗時(shí)間范圍為40~120s,純水清洗時(shí)間范圍為40~120s。
9.根據(jù)權(quán)利要求1-8任一所述的制備方法制備得到的多晶硅表面倒金字塔結(jié)構(gòu),其特征在于:多晶硅硅片表面有若干個(gè)倒金字塔結(jié)構(gòu),每個(gè)倒金字塔結(jié)構(gòu)在多晶硅硅片的表面顯示為方形開口,沿方形開口的四個(gè)邊分別向多晶硅片內(nèi)部?jī)A斜延伸,四個(gè)錐形平面連接形成倒金字塔結(jié)構(gòu)的錐形;倒金字塔結(jié)構(gòu)的方形開口的邊長(zhǎng)為100-1000納米、垂直深度為50-800納米,其傾斜的錐形平面法線與多晶硅硅片上表面法線間的夾角為20-65度;在多晶硅硅片表面上,倒金字塔結(jié)構(gòu)是隨機(jī)分布的,并相互之間有疊加。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場(chǎng)致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的
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