[發(fā)明專利]一種測(cè)試工裝

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610005554.X
• 申請(qǐng)日: 2016-01-04
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN105403826B
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-02-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李琨;侯程成;章善財(cái);張?jiān)聢A
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;合肥鑫晟光電科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 北京同達(dá)信恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

本發(fā)明涉及電路板測(cè)試裝置技術(shù)領(lǐng)域，公開(kāi)了一種測(cè)試工裝，包括：測(cè)試平臺(tái)；與所述測(cè)試平臺(tái)相對(duì)設(shè)置的電磁繼電器平臺(tái)；位于所述電磁繼電器平臺(tái)和所述測(cè)試平臺(tái)之間的多個(gè)探針組件，每一個(gè)所述探針組件包括電磁座、以及安裝于所述電磁座背離所述電磁繼電器平臺(tái)一側(cè)的探針；當(dāng)所述電磁繼電器平臺(tái)通電時(shí)，每一個(gè)所述電磁座與所述電磁繼電器平臺(tái)通過(guò)電磁力吸合在一起。上述測(cè)試工裝可以用于測(cè)試多種電路板，適用范圍很廣。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電路板測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種測(cè)試工裝。

背景技術(shù)

目前，印刷電路板(PCBA)在制備過(guò)程中都會(huì)預(yù)留測(cè)試點(diǎn)，傳統(tǒng)用于測(cè)試PCBA的測(cè)試工裝中，每一個(gè)測(cè)試工裝都具有與其測(cè)量的PCBA的測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)分布的探針，通過(guò)使探針與測(cè)試點(diǎn)連接來(lái)測(cè)試PCBA的功能，因此，每一個(gè)測(cè)試工裝只能用于測(cè)試一款PCBA。

目前，PCBA產(chǎn)品設(shè)計(jì)的種類繁多，由于每一種類都需要對(duì)應(yīng)的測(cè)試工裝，因此目前的PCBA產(chǎn)品設(shè)計(jì)成本很高；另外，一旦一個(gè)項(xiàng)目結(jié)案，很多測(cè)試工裝就會(huì)被擱置甚至報(bào)廢，從而造成很大的成本浪費(fèi)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供了一種測(cè)試工裝，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中每一種測(cè)試工裝只能用于測(cè)試一款電路板、適用范圍較小的問(wèn)題。

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供以下技術(shù)方案：

一種測(cè)試工裝，包括：

測(cè)試平臺(tái)；

與所述測(cè)試平臺(tái)相對(duì)設(shè)置的電磁繼電器平臺(tái)；

位于所述電磁繼電器平臺(tái)和所述測(cè)試平臺(tái)之間的多個(gè)探針組件，每一個(gè)所述探針組件包括電磁座、以及安裝于所述電磁座背離所述電磁繼電器平臺(tái)一側(cè)的探針；當(dāng)所述電磁繼電器平臺(tái)通電時(shí)，每一個(gè)所述電磁座與所述電磁繼電器平臺(tái)通過(guò)電磁力吸合在一起。

上述測(cè)試工裝中，探針組件通過(guò)電磁力的作用固定于電磁繼電器平臺(tái)，因此，通過(guò)控制電磁力可以使探針組件固定于電磁繼電器平臺(tái)或者與電磁繼電器平臺(tái)分開(kāi)；具體地，當(dāng)電磁繼電器平臺(tái)通電時(shí)可以產(chǎn)生電磁力，探針組件與電磁繼電器平臺(tái)由于電磁力的作用吸合在一起、從而可以使探針組件相對(duì)于電磁繼電器平臺(tái)固定，進(jìn)而可以進(jìn)行測(cè)試電路板；當(dāng)電磁繼電器平臺(tái)斷電時(shí)，電磁力消失，此時(shí)探針組件可以脫離電磁繼電器平臺(tái)并進(jìn)行移動(dòng)，進(jìn)而可以重新分布探針的位置以使該測(cè)試工裝可以用于測(cè)試其他電路板。

因此，上述測(cè)試工裝可以用于測(cè)試多種電路板，適用范圍很廣。

優(yōu)選地，每一個(gè)探針組件中，探針朝向所述測(cè)試平臺(tái)的方向延伸，且所述探針可沿其延伸方向伸縮運(yùn)動(dòng)地安裝于所述電磁座。

優(yōu)選地，每一個(gè)探針組件的探針朝向所述測(cè)試平臺(tái)的一端與所述測(cè)試平臺(tái)之間的距離不完全相同。

優(yōu)選地，每一個(gè)探針組件中，所述探針可拆卸地安裝于所述電磁座。

優(yōu)選地，每一個(gè)探針組件中，所述探針包括：安裝于所述電磁座的伸縮桿；可拆卸地安裝于所述伸縮桿的探頭。

優(yōu)選地，每一個(gè)所述探針的探頭長(zhǎng)度不同。

優(yōu)選地，每一個(gè)探針組件中，電磁座設(shè)有延伸方向與所述探針的延伸方向相同的導(dǎo)向槽，所述探針的伸縮桿可沿所述導(dǎo)向槽伸縮運(yùn)功地安裝于所述電磁座。

優(yōu)選地，每一個(gè)探針組件還包括安裝于所述電磁座與所述伸縮桿之間的彈性件。

優(yōu)選地，所述彈性件為彈簧，所述彈簧的一端與所述探針的伸縮桿相連、另一端與所述電磁座相連。

優(yōu)選地，每一個(gè)探針組件中，所述電磁座還設(shè)有與所述探針的延伸方向垂直設(shè)置的檔板，所述擋板設(shè)有與所述探針的伸縮桿間隙配合的通孔。

優(yōu)選地，每一個(gè)探針組件中，所述探針的伸縮桿表面設(shè)有限位部，所述限位部位于所述擋板與所述電磁座之間、且與所述擋板相抵。