[發(fā)明專利]用透明光致發(fā)光標(biāo)簽標(biāo)記產(chǎn)品的方法和透明光致發(fā)光標(biāo)簽有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201580085771.8 | 申請(qǐng)日: | 2015-11-23 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108699672B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-08-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | N·和夫伊恩;N·格蘭德尚恩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 瑞士聯(lián)邦理工大學(xué);洛桑(EPFL) |
| 主分類號(hào): | C23C14/06 | 分類號(hào): | C23C14/06;C23C16/30;G04B19/00;B42D25/00 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 麥振聲;黃希貴 |
| 地址: | 瑞士*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 透明 光致發(fā)光 標(biāo)簽 標(biāo)記 產(chǎn)品 方法 | ||
1.用光致發(fā)光標(biāo)簽標(biāo)記產(chǎn)品(1)的方法,所述標(biāo)簽包含光致發(fā)光部分(10),其在正常光條件下是透明的和在UV照明下通過(guò)光致發(fā)光顯現(xiàn),所述標(biāo)簽進(jìn)一步包含非光致發(fā)光部分(9),其在正常光條件下以及在UV照明下是透明的,
其中所述方法包括:
在所述產(chǎn)品上置放層疊體,所述層疊體包含厚度小于1微米的包括AlN的第一材料和厚度小于10nm的包括GaN的第二材料的連續(xù)交替層(3,4),在兩種材料之間的界面處產(chǎn)生量子納米結(jié)構(gòu),
摻入離子或者置放透明材料(6)至所述非光致發(fā)光部分。
2.權(quán)利要求1所述的方法,其中所述層疊體包含小于或等于100個(gè)層(3,4)。
3.權(quán)利要求1所述的方法,其中所述層(3,4)通過(guò)濺射、原子層沉積、分子束外延或者金屬有機(jī)化學(xué)氣相沉積中的一種方法生長(zhǎng)。
4.權(quán)利要求1所述的方法,其中所述第二材料的層(3)包含具有小于50%的銦、鋁、砷和/或磷的GaN合金。
5.權(quán)利要求1所述的方法,其中所述第二材料的層(3)包含具有小于或等于10%的含量的稀土元素的存在。
6.權(quán)利要求1所述的方法,其中所述量子納米結(jié)構(gòu)在所述第二材料的層(3)中產(chǎn)生并包含量子點(diǎn)。
7.權(quán)利要求1所述的方法,其中所述第一材料的層(4)包含小于20%的鎂、硅、鋰、鈹、鎘和/或鋅作為摻雜元素。
8.權(quán)利要求1所述的方法,其中所述離子通過(guò)擴(kuò)散或者注入技術(shù)摻入層疊體內(nèi)。
9.權(quán)利要求1所述的方法,其中所述透明材料(6)替換選擇性除去的光致發(fā)光部分(5)來(lái)置放。
10.權(quán)利要求1所述的方法,其中所述方法對(duì)于每個(gè)產(chǎn)品使用單次掩模以產(chǎn)生獨(dú)特圖案。
11.權(quán)利要求1所述的方法,其中所述UV照明包含小于或等于400nm的UV波長(zhǎng)。
12.產(chǎn)品(1),其包含光致發(fā)光圖案(11),其中所述圖案包含
光致發(fā)光部分(10),其在正常光條件下是透明的和在UV照明下通過(guò)光致發(fā)光顯現(xiàn),所述光致發(fā)光部分(10)包含交替的具有厚度小于或等于1微米的包括AlN的第一材料的層(4)和厚度小于或等于10nm的包括GaN的第二材料的層(3)的層疊體,在兩種材料之間的界面處包括量子納米結(jié)構(gòu);
非光致發(fā)光部分(9),其在正常光條件下以及在UV照明下是透明的,所述非光致發(fā)光部分包含另外的透明材料(6)或者離子以提高透明度。
13.權(quán)利要求12所述的產(chǎn)品,其中所述離子包括氧、氮、氫、氦、氖、氬、鎂、鋰、鈹、硼、磷、鋁、鋅、砷、鎵、硅、鎘。
14.權(quán)利要求12所述的產(chǎn)品,其中所述透明材料(6)具有等于所述層疊體的折射率的折射率。
15.權(quán)利要求12所述的產(chǎn)品,其中所述產(chǎn)品(1)是透明的。
16.權(quán)利要求12所述的產(chǎn)品,其中所述離子包括能夠降解光致發(fā)光層疊體和在層疊體中產(chǎn)生非輻射重組中心缺陷的任何種類的元素。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于瑞士聯(lián)邦理工大學(xué),洛桑(EPFL),未經(jīng)瑞士聯(lián)邦理工大學(xué),洛桑(EPFL)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201580085771.8/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
C23C 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C14-00 通過(guò)覆層形成材料的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進(jìn)行鍍覆
C23C14-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
C23C14-06 .以鍍層材料為特征的
C23C14-22 .以鍍覆工藝為特征的
C23C14-58 .后處理
- 瀏覽器中關(guān)閉標(biāo)簽的裝置和方法
- 標(biāo)簽生成方法及標(biāo)簽生成裝置
- 一種帶有標(biāo)簽的電氣插座
- 標(biāo)簽檢測(cè)定位裝置及其標(biāo)簽制造設(shè)備
- 標(biāo)簽切割裝置及其標(biāo)簽加工機(jī)
- 基于樹(shù)形結(jié)構(gòu)的標(biāo)簽存儲(chǔ)方法及裝置
- 一種標(biāo)簽分離機(jī)構(gòu)
- 標(biāo)簽切割裝置及其標(biāo)簽加工機(jī)
- 標(biāo)簽檢測(cè)定位裝置及其標(biāo)簽制造設(shè)備
- 標(biāo)簽轉(zhuǎn)換處理方法、裝置、電子設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 標(biāo)記裝置及標(biāo)記方法
- 同步數(shù)字體系網(wǎng)絡(luò)標(biāo)記交換的標(biāo)記處理方法
- 標(biāo)記裝置及標(biāo)記方法
- 標(biāo)記頭和標(biāo)記裝置
- 用于通過(guò)標(biāo)記光線標(biāo)記物體的標(biāo)記設(shè)備
- 標(biāo)記裝置以及標(biāo)記方法
- 標(biāo)記系統(tǒng)
- 激光標(biāo)記方法、激光標(biāo)記機(jī)及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 用于標(biāo)記標(biāo)記對(duì)象的標(biāo)記系統(tǒng)
- 標(biāo)記方法及標(biāo)記裝置





