[發明專利]攝像裝置、內窺鏡裝置以及攝像方法在審
| 申請號: | 201580084899.2 | 申請日: | 2015-12-01 |
| 公開(公告)號: | CN108289592A | 公開(公告)日: | 2018-07-17 |
| 發明(設計)人: | 今出慎一 | 申請(專利權)人: | 奧林巴斯株式會社 |
| 主分類號: | A61B1/00 | 分類號: | A61B1/00;G02B23/24 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 黃綸偉;于英慧 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光瞳 成像 攝像元件 被攝體 相位差 相位差檢測部 光學系統 攝像圖像 攝像裝置 圖像 內窺鏡裝置 匹配處理 拍攝 攝像 檢測 | ||
1.一種攝像裝置,其特征在于,該攝像裝置包含:
攝像元件;
光學系統,其使被攝體成像于所述攝像元件;以及
相位差檢測部,
所述光學系統對通過一個光瞳使所述被攝體成像的第一狀態和通過兩個光瞳使所述被攝體成像的第二狀態進行切換,
所述相位差檢測部根據在所述第一狀態下利用所述攝像元件拍攝到的第一攝像圖像而生成偽相位差圖像,進行在所述第二狀態下利用所述攝像元件拍攝到的第二攝像圖像與所述偽相位差圖像之間的匹配處理,檢測基于所述兩個光瞳中的一個光瞳的成像與基于另一個光瞳的成像之間的相位差。
2.根據權利要求1所述的攝像裝置,其特征在于,
在所述相位差檢測部中,
根據所述第一攝像圖像生成與基于所述一個光瞳的成像對應的第一偽光瞳圖像和與基于所述另一個光瞳的成像對應的第二偽光瞳圖像,
使所述第一偽光瞳圖像與所述第二偽光瞳圖像之間錯開相當于所述相位差的偏移量,對所述第一偽光瞳圖像和所述第二偽光瞳圖像進行相加處理,由此生成所述偽相位差圖像,
一邊使所述偏移量變化一邊進行所述匹配處理來檢測所述相位差。
3.根據權利要求1所述的攝像裝置,其特征在于,
所述光學系統的所述兩個光瞳的大小彼此不同。
4.根據權利要求3所述的攝像裝置,其特征在于,
在所述相位差檢測部中,
通過對所述第一攝像圖像進行基于所述兩個光瞳的所述彼此不同的大小的增益調整,生成與基于所述一個光瞳的成像對應的第一偽光瞳圖像和與基于所述另一個光瞳的成像對應的第二偽光瞳圖像,
使所述第一偽光瞳圖像與所述第二偽光瞳圖像之間錯開相當于所述相位差的偏移量,對所述第一偽光瞳圖像和所述第二偽光瞳圖像進行相加處理,由此生成所述偽相位差圖像,
一邊使所述偏移量變化一邊進行所述匹配處理來檢測所述相位差。
5.根據權利要求1所述的攝像裝置,其特征在于,
所述相位差檢測部根據所述第一攝像圖像和所述第二攝像圖像,進一步檢測所述第一攝像圖像與所述第二攝像圖像之間的基于被攝體抖動的抖動量。
6.根據權利要求5所述的攝像裝置,其特征在于,
在所述相位差檢測部中,
根據所述第一攝像圖像生成與基于所述一個光瞳的成像對應的第一偽光瞳圖像和與基于所述另一個光瞳的成像對應的第二偽光瞳圖像,
使所述第一偽光瞳圖像與所述第二偽光瞳圖像之間錯開相當于所述相位差的第一偏移量,并且使所述第一偽光瞳圖像和所述第二偽光瞳圖像錯開相當于所述抖動量的第二偏移量,對所述第一偽光瞳圖像和所述第二偽光瞳圖像進行相加處理,由此生成所述偽相位差圖像,
一邊使所述第一偏移量和所述第二偏移量獨立地變化一邊進行所述匹配處理來檢測所述相位差和所述抖動量。
7.根據權利要求1至6中的任意一項所述的攝像裝置,其特征在于,
所述光學系統在第n幀(n為整數)中被設定為第一狀態,在所述第n幀后的第n+1~第n+j幀(j為2以上的整數)中被設定為第二狀態,
所述相位差檢測部根據在所述第n幀中拍攝到的所述第一攝像圖像和在所述第n+1~第n+j幀中的第n+i幀(i為1以上且j以下的整數)中拍攝到的第二攝像圖像,來檢測所述相位差從而獲取j個所述相位差,并對所述j個所述相位差進行平均處理。
8.根據權利要求1至7中的任意一項所述的攝像裝置,其特征在于,
該攝像裝置包含圖像輸出部,該圖像輸出部根據所述第一攝像圖像輸出觀察用的圖像。
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