[發明專利]變換塊的空間改進在審
| 申請號： | 201580084302.4 | 申請日： | 2015-09-01 |
| 公開（公告）號： | CN108141600A | 公開（公告）日： | 2018-06-08 |
| 發明（設計）人： | K.安德森;P.文納斯滕 | 申請（專利權）人： | 瑞典愛立信有限公司 |
| 主分類號： | H04N19/176 | 分類號： | H04N19/176;H04N19/122;H04N19/61;H04N19/86 |
| 代理公司： | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李嘯;楊美靈 |
| 地址： | 瑞典斯*** | 國省代碼： | 瑞典;SE |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 殘差塊 預測誤差 重構 變換編碼 視覺偽影 局部化 逆變換 改進 | ||
1.一種變換塊解碼的方法，所述方法包括：
對具有相應變換系數的采樣的第一變換塊（10）進行逆變換（S10）以獲得具有相應重構預測誤差值的采樣的第一殘差塊（11）；
對具有相應變換系數的采樣的第二變換塊（20）進行逆變換（S11）以獲得具有相應重構預測誤差值的采樣的第二殘差塊（21）；以及
通過所述第二殘差塊（21）的相應重構預測誤差值修改（S12）所述第一殘差塊（11）的子部分（12）中的采樣的相應重構預測誤差值，其中修改所述相應重構預測誤差值影響所述殘差塊（11）的所述子部分（12）中的采樣的重構預測誤差值，但不影響所述殘差塊（11）的剩余部分中的采樣的重構預測誤差值。
2.根據權利要求1所述的方法，其中與所述第一殘差塊（11）相比，所述第二殘差塊（21）在采樣數量方面具有較小的尺寸，并且所述第二殘差塊（21）對應于所述第一殘差塊（11）的所述子部分（12），其中修改（S12）所述相應重構預測誤差值包括通過所述第二殘差塊（21）的所述相應重構預測誤差值逐個采樣地修改（S12）所述第一殘差塊（11）的所述子部分（12）的所述相應重構預測誤差值。
3.根據權利要求2所述的方法，其中，修改（S12）所述相應重構預測誤差值包括：將所述第二殘差塊（21）的所述重構相應預測誤差值逐個采樣地添加（S13）到所述第一殘差塊（11）的所述子部分（12）的所述相應重構預測誤差值。
4.根據權利要求2所述的方法，其中，修改（S12）所述相應重構預測誤差值包括：通過所述第二殘差塊（21）的所述相應重構預測誤差值逐個采樣地替換（S14）所述第一殘差塊（11）的所述子部分（12）的所述相應重構預測誤差值。
5.根據權利要求1所述的方法，其中修改（S12）所述相應重構預測誤差值包括：
修改（S30）所述第二殘差塊（21）的子部分（22）中的相應重構預測誤差值;以及
將所述第二殘差塊（21）的所述相應重構預測誤差值逐個采樣地添加（S31）到所述第一殘差塊（11）的所述相應重構預測誤差值。
6.根據權利要求5所述的方法，其中修改（S30）所述相應重構預測誤差值包括將所述第二殘差塊（21）的所述子部分（22）中的所述相應重構預測誤差值歸零（S32）。
7.根據權利要求5所述的方法，其中，修改（S30）所述相應重構預測誤差值包括：將所述第二殘差塊（21）的所述子部分（22）中的每個相應重構預測誤差值與相應權重相乘。
8.根據權利要求5至7中任一項所述的方法，其中，
對所述第一變換塊（10）進行逆變換（S10）包括對具有相應的零頻率或低頻率變換系數的采樣的所述第一變換塊（10）進行逆變換（S10）以獲得所述第一殘差塊（11）;以及
對所述第二變換塊（20）進行逆變換（S11）包括對具有相應高頻率變換系數的采樣的所述第二變換塊（20）進行逆變換（S11）以獲得所述第二殘差塊（21）。
9.根據權利要求8所述的方法，進一步包括通過以下步驟將具有相應變換系數的采樣的變換塊分割（S40）成所述第一變換塊（10）和所述第二變換塊（20）：
將來自所述變換塊的所述相應零頻率和低頻率變換系數復制（S41）到所述第一變換塊（10）中的零頻率和低頻率采樣位置中;
將所述第一變換塊（10）中的剩余采樣位置設置（S42）為零;
將來自所述變換塊的所述相應高頻率變換系數復制（S43）到所述第二變換塊（20）中的高頻率采樣位置中;以及
將所述第二變換塊（20）中的剩余采樣位置設置（S44）為零。
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