[發明專利]高抖動容限的無基準頻率檢測器

有效

• 申請號: 201580084028.0
• 申請日: 2015-12-01
• 公開（公告）號: CN108352838B
• 公開（公告）日: 2020-09-11
• 發明（設計）人: 谷亮;曹玉明;雷工;黨殷;顧一凡;李洪義;瑪曼莎·德什潘德;施守波;段彥
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H03L7/091
• 分類號: H03L7/091
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 李欣

1.一種頻率檢測裝置，其特征在于，包括：

第一采樣電路，用于根據數據信號對時鐘信號進行采樣，以產生第一采樣信號；

第二采樣電路，用于根據延遲信號對所述時鐘信號進行采樣，以產生第二采樣信號；以及

耦合到所述第一采樣電路和所述第二采樣電路的控制電路，其中，所述控制電路用于根據所述第一采樣信號和所述第二采樣信號執行與非(NAND)運算，以產生用于激活所述時鐘信號的頻率調整的激活信號。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述延遲信號對應于延遲四分之一的時間單位的所述數據信號，所述控制電路包括NAND門，所述控制電路還用于通過向所述NAND門施加所述第二采樣信號的反相信號和所述第一采樣信號來執行所述NAND運算，以產生所述激活信號。

3.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述數據信號、所述延遲信號和所述時鐘信號為包括電流模式邏輯(CML)電壓電平的差分信號；所述第一采樣電路包括第一電流模式邏輯至互補型金屬氧化物半導體(CML-to-CMOS)轉換器，用于將所述第一采樣信號從所述CML電壓電平轉換到互補型金屬氧化物半導體(CMOS)邏輯電壓電平，以產生第一電平轉換信號；所述第二采樣電路包括第二CML到CMOS轉換器，用于將所述第二采樣信號從所述CML電壓電平轉換到所述CMOS邏輯電壓電平，以產生第二電平轉換信號。

4.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述控制電路還用于通過向所述NAND門的輸入施加所述第一電平轉換信號的正信號分量和所述第二電平轉換信號的負信號分量來執行所述NAND運算。

5.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述控制電路還包括：

反相器，耦合到所述NAND門并用于反轉由所述NAND門產生的所述激活信號，以產生負差分信號分量，其中，所述反相器與延遲時間相關聯；

緩沖器，耦合到所述NAND門并用于將所述激活信號延遲所述延遲時間，以產生正差分信號分量；以及

耦合到所述反相器和所述緩沖器的電荷泵，其中，所述電荷泵用于根據從所述激活信號產生而來的所述正差分信號分量和所述負差分信號分量激活所述時鐘信號的頻率調整。

6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述第一CML到CMOS轉換器、所述第二CML到CMOS轉換器、所述NAND門、所述反相器和所述緩沖器包括CMOS邏輯電路。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的裝置，其特征在于，所述第一采樣電路和所述第二采樣電路包括一個或多個D型觸發器(DFF)。

8.根據權利要求1至6中任一項所述的裝置，其特征在于，還包括耦合到所述第一采樣電路和所述第二采樣電路的第三采樣電路，其中，所述第三采樣電路用于根據所述第二采樣信號對所述第一采樣信號進行采樣，以產生指示是增加還是降低所述時鐘信號的頻率以匹配所述數據信號的頻率的頻率誤差信號。

9.根據權利要求1至6中任一項所述的裝置，其特征在于，所述數據信號和所述時鐘信號在10吉比特/秒(Gbps)和100Gbps之間工作。

10.一種頻率檢測方法，其特征在于，包括：

根據數據信號對時鐘信號進行采樣，以產生第一采樣信號；

將所述數據信號延遲四分之一的時間單位的持續時間，以產生延遲信號；

根據所述延遲信號對所述時鐘信號進行采樣，以產生第二采樣信號；以及

根據所述第一采樣信號和所述第二采樣信號執行與非(NAND)運算，以產生用于激活電荷泵將所述時鐘信號的頻率對齊到所述數據信號的頻率的激活信號。