[發(fā)明專利]串聯(lián)型質(zhì)譜分析裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201580083655.2
• 申請日: 2015-10-07
• 公開（公告）號: CN108139357B
• 公開（公告）日: 2020-10-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 山本英樹;鹽浜徹;小澤弘明;池田篤重;藤本穰
• 申請（專利權(quán)）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62
• 代理公司: 北京林達劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

在分析控制部(5)的控制下，質(zhì)譜分析部(2)在導(dǎo)入測定對象試樣中的目標(biāo)成份的時間范圍內(nèi)針對該目標(biāo)成份執(zhí)行產(chǎn)物離子掃描測定，并且，在相同的時段執(zhí)行包含源自標(biāo)準成分的離子的m/z的m/z范圍的掃描測定。質(zhì)量校正信息計算部(42)根據(jù)在通過掃描測定所得到的MS譜上觀測到的源自標(biāo)準成分的離子的m/z的實測值和理論值來求出質(zhì)量校正信息。質(zhì)量校正部(43)利用該質(zhì)量校正信息，來校正在通過在與該掃描測定相同的循環(huán)中執(zhí)行的產(chǎn)物離子掃描測定所得到的MS/MS譜上觀測到的源自目標(biāo)成份的各離子峰的m/z。能夠視作大致同時實施該循環(huán)中的MS測定與MS/MS測定，因此能夠進行與內(nèi)部標(biāo)準法大致同等的質(zhì)量校正。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種使具有特定的質(zhì)荷比m/z的離子在碰撞室內(nèi)通過碰撞誘導(dǎo)裂解(CID＝Collision-Induced Dissociation)等而斷裂、并對由此生成的產(chǎn)物離子(碎片離子)進行質(zhì)譜分析的串聯(lián)型質(zhì)譜分析裝置。

背景技術(shù)

作為質(zhì)譜分析的方法之一的MS/MS分析(串聯(lián)分析)是有用于對分子量大的化合物進行鑒定或?qū)ζ浠瘜W(xué)結(jié)構(gòu)進行分析的方法，近年來在各種領(lǐng)域中被廣泛利用。作為進行MS/MS分析的質(zhì)譜分析裝置而被熟知的是將進行CID的碰撞室夾在中間且在其前后配置四極桿濾質(zhì)器的三重四極桿質(zhì)譜分析裝置。另外，與三重四極桿質(zhì)譜分析裝置相比，將三重四極桿質(zhì)譜分析裝置中的后級的四極桿濾質(zhì)器更換為飛行時間質(zhì)譜分析器而成的所謂的Q-TOF型質(zhì)譜分析裝置雖然結(jié)構(gòu)復(fù)雜且價格高昂，但是能夠獲取精度更高的質(zhì)譜。在本說明書中，將碰撞室夾在中間且在其前后分別具備質(zhì)譜分析器的、能夠進行MS/MS分析的質(zhì)譜分析裝置被稱為串聯(lián)型質(zhì)譜分析裝置。

一般來說，與四極桿質(zhì)譜分析儀相比，飛行時間質(zhì)譜分析儀能夠以高精度和高分辨率來求出離子的質(zhì)荷比。因此，在要求進行產(chǎn)物離子的精確的質(zhì)量測定、如蛋白質(zhì)和肽的鑒定和定量、結(jié)構(gòu)類似的大量成分的一齊分析等的領(lǐng)域中，廣泛使用Q-TOF型質(zhì)譜分析裝置。一般來說，在質(zhì)譜分析中要精確地求出作為目標(biāo)的離子的質(zhì)量時進行質(zhì)量校正，該質(zhì)量校正利用到了包含質(zhì)荷比的理論值已知的成分的標(biāo)準試樣的測定結(jié)果。

例如專利文獻1中記載了如下一種方法：在將離子阱與飛行時間質(zhì)譜分析器組合得到的離子阱飛行時間質(zhì)譜分析裝置(下面稱為IT-TOFMS)中進行高精度的質(zhì)量校正，該離子阱能夠保持離子，并且能夠選擇所保持的離子、通過CID進行裂解操作。

在該IT-TOFMS中，在將源自測定對象試樣的各種離子和源自標(biāo)準試樣的離子一起捕捉到離子阱之后，僅使源自測定對象試樣的各種離子中的具有特定的質(zhì)荷比的離子以及源自標(biāo)準試樣的離子殘留在離子阱內(nèi)，將其它離子從離子阱內(nèi)排除。之后，通過選擇性地激勵殘留的源自測定對象試樣的離子來促進通過CID進行的裂解，生成源自測定對象試樣的產(chǎn)物離子。其間，源自標(biāo)準試樣的離子繼續(xù)保持在離子阱內(nèi)。然后，將源自測定對象試樣的產(chǎn)物離子和源自標(biāo)準試樣的離子從離子阱排出并導(dǎo)入到飛行時間質(zhì)譜分析器，對各個離子的飛行時間進行測定?；谟纱说玫降脑醋詷?biāo)準試樣的離子的飛行時間或者根據(jù)該飛行時間求出的實測的質(zhì)荷比值，來校正源自測定對象試樣的產(chǎn)物離子的質(zhì)荷比。

這樣，在IT-TOFMS中，能夠不將源自標(biāo)準試樣的離子裂解而將其保持在離子阱內(nèi)，同時選擇性地僅使源自測定對象試樣的離子裂解，因此能夠同時對源自測定對象試樣的產(chǎn)物離子和源自標(biāo)準試樣的非裂解的離子進行質(zhì)譜分析，由此能夠進行高精度的質(zhì)量校正。與此相對，在使離子在通過碰撞室時裂解的串聯(lián)型質(zhì)譜分析裝置中，無法同時對源自測定對象試樣的產(chǎn)物離子和源自標(biāo)準試樣的非裂解的離子進行質(zhì)譜分析。專利文獻1中還記載了以下內(nèi)容：在Q-TOF型質(zhì)譜分析裝置中，不能進行如上述的IT-TOFMS那樣的利用內(nèi)部標(biāo)準法的質(zhì)量校正。

專利文獻1：日本特開2005-181236號公報

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明要解決的問題