[發明專利]質譜分析裝置、質譜分析方法以及質譜分析用程序有效
| 申請號: | 201580083149.3 | 申請日: | 2015-09-15 |
| 公開(公告)號: | CN108027346B | 公開(公告)日: | 2020-06-02 |
| 發明(設計)人: | 小栗將照 | 申請(專利權)人: | 株式會社島津制作所 |
| 主分類號: | G01N27/62 | 分類號: | G01N27/62 |
| 代理公司: | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 譜分析 裝置 方法 以及 程序 | ||
提供一種質譜分析裝置,其具備:存儲部(41),其針對多個目標化合物保存有規定了MRM轉變和執行時段的MRM測定條件;施加電壓候選值決定部(42),其基于分析員的輸入,針對多個MRM轉變中的各個MRM轉變決定多個施加電壓候選值;預測定次數決定部(43),其基于分析員的輸入決定為了多個MRM轉變的施加電壓值的優化而執行的預測定的次數;單位測定分割部(45),其以使執行時間的重復最少的方式將與多個MRM轉變和多個施加電壓候選值的全部組合相對應的多個單位測定分割為與預測定相同數量的組;以及預測定執行文件制作部(47),其制作多個組各自所對應的預測定執行文件。
技術領域
本發明涉及分析通過色譜儀彼此分離的多個目標化合物的質譜分析裝置,尤其涉及用于優化多重反應監視(MRM)測定的條件的質譜分析方法以及質譜分析用程序。
背景技術
用于進行試樣中所含的目標化合物的鑒定或定量的質譜分析的方法中,有被稱為MS/MS分析(串聯分析)的方法。例如使用具有篩選前體離子的前級質譜分離部、使前體離子斷裂并生成產物離子的碰撞室等斷裂部以及篩選產物離子的后級質譜分離部的質譜分析裝置(串聯四極桿型質譜分析裝置等)來進行MS/MS分析。
MS/MS分析的測定之一有MRM測定。在MRM測定中,分別將通過前級質譜分離部和后級質譜分離部的離子的質荷比固定,測定特定的前體離子所對應的特定的產物離子的強度。該前體離子與產物離子的組被稱為MRM轉變。在MRM測定中,利用前后兩級的質譜分離部去除源自非測定對象的化合物或雜質的離子以及未電離的中性粒子,因此能夠以高S/N比得到離子強度信號。
由于這種特長,因此MRM測定例如用于像從土壤采集的試樣或源自生物體的試樣那樣包含多個目標化合物的試樣的分析。在分析包含多個目標化合物的試樣的情況下,使用將色譜儀(氣相色譜儀或液相色譜儀)和具有上述構成的質譜分析裝置組合而成的色譜質譜聯用儀。將試樣中所含的多個目標成分利用色譜儀的柱在時間上分離,導入至質譜分析裝置,逐個進行MRM測定。
在色譜質譜聯用儀中的MRM測定中,分析員在質譜分析軟件上分別輸入該多個目標化合物各自所對應的一個至多個MRM轉變和執行使用了各MRM轉變的MRM測定的時段,來決定一系列測定的內容(方法),制作記載有它們的測定執行文件(方法文件)。另外,對于各個測定條件(MRM轉變與執行時間的組合),賦予用于識別它們的名稱(事件名稱)。圖1中示出將50種目標化合物分別利用兩個MRM轉變進行測定的情況的方法的一例。
根據斷裂能量的大小,前體離子的斷裂的方式不同。但是,在上述方法文件中,斷裂部的離子斷裂能量的大小為預先決定的值(預定值),沒有設定為能夠利用所設定的各MRM轉變以最高靈敏度檢測產物離子的斷裂能量的值。因此,為了以高靈敏度測定目標化合物,而需要針對各MRM轉變優化斷裂能量的大小(例如參照專利文獻1、2)。此外,在斷裂部為碰撞室的情況下,斷裂能量一般被稱為碰撞能量(CE)。
在能夠取得作為目標化合物的純物質的標準試樣時,能夠將該標準試樣直接導入至質譜分析裝置,依次變更CE值并決定以最高靈敏度檢測產物離子的CE值。但是,難以取得從土壤采集的試樣或源自生物體的試樣中所含的目標化合物的標準試樣。在這種情況下,使用色譜質譜聯用儀,按圖3中示出的步驟優化CE值。
首先,將在質譜分析軟件上制作出的上述方法文件(將其稱為“母方法文件”。)以csv格式等規定文件格式輸出(步驟S101),用電子制表軟件等讀取。然后,將構成母方法文件中記載的方法(將其稱為“母方法”。)的、使用了各個MRM轉變的測定(將其稱為“母事件”。)分割為多個組(步驟S102),制作分別對應于各組的方法(將其稱為“子方法”。)(步驟S103)。
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