[發明專利]耳蝸植入系統有效
| 申請號: | 201580082258.3 | 申請日: | 2015-08-18 |
| 公開(公告)號: | CN107847739B | 公開(公告)日: | 2022-01-14 |
| 發明(設計)人: | V·哈馬赫爾;P·J·博伊爾 | 申請(專利權)人: | 領先仿生公司 |
| 主分類號: | A61N1/36 | 分類號: | A61N1/36 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 周家新 |
| 地址: | 瑞士*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 耳蝸 植入 系統 | ||
提供一種耳蝸植入系統,其包括:用于提供輸入音頻信號的麥克風布置結構(20);用于從所述輸入音頻信號生成聽覺神經刺激信號的聲音處理器(24);可植入的刺激組件(12),所述可植入的刺激組件包括電極陣列(19),所述電極陣列(19)將植入患者的耳蝸中,以根據所述聽覺神經刺激信號來電刺激耳蝸;以及電極遷移監測單元(54),所述電極遷移監測單元包括用于響應于耳蝸的刺激地捕捉所述電極陣列的電極(18)處誘發的ECAP信號的單元(58),所述耳蝸的刺激是通過向電極施加聽覺神經刺激信號而產生的,所述電極遷移監測單元還包括用于存儲捕捉的ECAP信號和/或從捕捉的ECAP信號算得的ECAP數據的儲存單元(60)、用于通過比較當前捕捉的ECAP信號和/或和從當前捕捉的ECAP信號算得的ECAP數據與所存儲的之前捕捉的ECAP信號和/或從之前捕捉的ECAP信號算得的ECAP數據來檢測電極相對于耳蝸的遷移的電極遷移檢測單元(62)、以及用于在所述電極遷移檢測單元檢測到電極遷移的情況下輸出警示信號的單元(64),其中,電極遷移監測單元適于定期地重復ECAP信號的捕捉以及ECAP信號和/或ECAP數據的比較。
技術領域
本發明涉及一種耳蝸植入系統包括麥克風布置結構、聲音處理器和可植入的刺激組件,刺激組件包括將植入患者的耳蝸的電極陣列。
背景技術
耳蝸植入(CI)系統的正確運行要求電極陣列在通過手術植入耳蝸后相對于耳蝸保持在期待的位置處,以使得每個電極可以在期待的刺激部位處刺激耳蝸。在理想情況下,每個電極的位置在植入后保持不變。
然而,在植入后可能由于各種原因而出現電極遷移(或退出或擠出):可能在耳蝸內存在電極陣列的拉伸(尤其發生在筆直的電極陣列設計的情況下),在電極引線上可能具有彈簧效應,頭骨可能生長(尤其在患者是兒童的情況下),或可能在電極周圍形成鞘(sheath)從而將電極推出,等等。通常而言,這種術后的電極陣列遷移是向外的,但是在一些情況下也會觀察到向內遷移。遷移的量通常位于1至5個電極接觸部的范圍內。存在一些表明電極遷移的出現已經增加的指示,這是因為已經可以采用薄的且相對較短的側壁電極陣列設計,這種設計不會像早期的具有較大直徑的電極陣列那樣“緊密地”坐置于鼓階中。
盡管醫師嘗試通過適當地固定電極引線來降低電極遷移的風險,但是仍可能在甚至手術后的數月后或數年后發生電極遷移。通常,電極遷移通過術后成像來檢測,其中,所述術后成像是針對患者由于聲音品質和/或語音理解的突然降級所導致的抱怨而實施的。這種成像要求兒科患者的鎮靜和影像學調查。
電極遷移在下述情況下是尤為有問題的:患者是不能報告聲音感知的嬰兒或年幼的兒童,從而可能一直無法發現電極遷移直至觀察到延遲的語音獲取或其它聽覺缺陷。
在檢測到電極遷移時,患者可以被再次調裝,確信位于耳蝸外的電極接觸部可以被關斷,或者可以執行修正手術。
對CI患者中電極遷移的可能性和檢測的研究呈現于以下文章:《ElectrodeMigration in Cochlear Implant Patients:Not an Exception》,作者是K.S.van derMarel等人,Audiol.Neurotol.2012;17(5),第275-281頁;和《Electrode migration aftercochlear implant surgery:more common than expected》,作者是A.Dietz等人,EurArch Otorhinolaryngol.2015;DOI 10.1007/s00405-015-3716-4。
US 8,527,058 B2涉及一種CI系統,該CI系統能夠測量電極的阻抗以自動地根據當前測得的電極阻抗來調節信號處理參量和/或以向患者輸出警示、比如借助于LED或圖形界面的視覺警示、可聽到的嗶嗶聲或者文字短消息,以使得患者或其他人員意識到患者可能需要去診所以根據阻抗變化重新調節刺激參量。
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