[發(fā)明專利]用于球形本體的超聲檢驗設備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201580080602.5
• 申請日: 2015-06-01
• 公開（公告）號: CN107949787B
• 公開（公告）日: 2021-02-05
• 發(fā)明（設計）人: M.懷特;S.F.埃爾莫斯;B.佩德森
• 申請（專利權）人: 西門子公司;日食科學產(chǎn)品公司
• 主分類號: G01N29/04
• 分類號: G01N29/04;G01N29/275;G01N29/28
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 董均華;傅永霄

1.一種球形本體檢驗設備（1），包括：

支撐布置結(jié)構（10、101)，實現(xiàn)為在檢驗過程期間支撐球形本體（2）；

探針布置結(jié)構，包括多個UT探針（11A、11B、11C），所述多個UT探針（11A、11B、11C）繞所述球形本體（2）布置，使得由所述UT探針（11A、11B、11C）發(fā)射的超聲波（W_L、W_T）行進通過所述球形本體（2），以便將所述球形本體（2）的表面處的共同的測試點（P）作為目標；以及

位移裝置（100、110），用于產(chǎn)生所述球形本體（2）和所述探針布置結(jié)構之間的至少一個相對旋轉(zhuǎn)位移（R₂、R₁₁），

其中，所述探針布置結(jié)構包括被保持以便發(fā)射超聲脈沖的第一UT探針（11C），所述超聲脈沖在所述共同的測試點（P）處進入和離開所述球形本體（2）并且作為縱向波（W_L）通過所述球形本體（2），

其中，所述探針布置結(jié)構包括被保持以便發(fā)射超聲脈沖的至少一個另外的UT探針（11A、11B），所述超聲脈沖在折射后作為橫向波（W_T）通過所述球形本體（2）到達所述共同的測試點（P）。

2.如權利要求1所述的檢驗設備，其中，所述位移裝置包括實現(xiàn)為繞所述球形本體（2）的第一軸線（X）旋轉(zhuǎn)所述球形本體（2）的旋轉(zhuǎn)裝置（100、101）和/或?qū)崿F(xiàn)為繞所述球形本體（2）的第二軸線（Y）旋轉(zhuǎn)所述探針布置結(jié)構的探針位移裝置（110）。

3.如權利要求2所述的檢驗設備，其中，所述第一軸線（X）和所述第二軸線（Y）是通過所述球形本體（2）的中心（C）的正交的軸線（X、Y），使得連續(xù)的測試點（P）描述所述球形本體（2）上的恒向線（L）。

4.如權利要求3所述的檢驗設備，包括控制器（12），所述控制器（12）實現(xiàn)為控制所述球形本體（2）的旋轉(zhuǎn)速率和/或所述探針位移裝置（110）的旋轉(zhuǎn)速率。

5.如權利要求1所述的檢驗設備，其中，所述另外的UT探針（11A、11B）被保持以便相對于所述球形本體（2）的中心軸線（W）成預定的入射角度（θ₁），以實現(xiàn)期望的折射角度（θ₂）。

6.如權利要求1-4中任一項所述的檢驗設備，其中，UT探針（11A、11B、11C）包括具有焦距（F）的聚焦的UT探針（11A、11B、11C），所述UT探針（11A、11B、11C）被保持為距所述球形本體（2）基本對應于所述UT探針（11A、11B、11C）的所述焦距（F）的距離。

7.如權利要求1-4中任一項所述的檢驗設備，所述探針布置結(jié)構包括一組配合的UT探針（11A、11B、11C）。

8.如權利要求1-4中任一項所述的檢驗設備，包括采集單元（13），用于記錄被所述UT探針（11A、11B、11C）檢測的反射的超聲脈沖。

9.如權利要求1-4中任一項所述的檢驗設備，包括分析單元（14），用于分析記錄的超聲脈沖（130、131、132），以便確定所述球形本體（2）中的異常（20、21、22）的存在。

10.如權利要求1-4中任一項所述的檢驗設備，被實現(xiàn)用于在浸沒槽（15）中使用。