[發(fā)明專利]非接觸受電裝置的溫度估計裝置和溫度估計方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201580078378.6
• 申請日: 2015-04-07
• 公開（公告）號: CN107580742B
• 公開（公告）日: 2019-01-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 尾崎美智央
• 申請（專利權(quán)）人: 日產(chǎn)自動車株式會社
• 主分類號: H02J50/90
• 分類號: H02J50/90;H02J7/00;H01F38/14
• 代理公司: 北京林達劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種非接觸受電裝置的溫度估計裝置，估計受電裝置的受電線圈周圍溫度，該受電裝置利用受電線圈以非接觸方式接收由送電線圈發(fā)送的電力，該溫度估計裝置的特征在于，具備：

送電側(cè)損耗電力獲取部，其獲取所述送電線圈的損耗電力；

位置偏移量獲取部，其獲取所述送電線圈與所述受電線圈之間的間隙及所述送電線圈與所述受電線圈之間的平面上的位置偏移量，基于根據(jù)所述間隙及所述平面上的位置偏移量求出的、所述送電線圈與所述受電線圈之間的相對位置關(guān)系來確定校正系數(shù)；以及

溫度估計部，其基于預(yù)先設(shè)定的受電裝置的發(fā)熱量及所述送電線圈的損耗電力來估計所述受電線圈周圍溫度，

其中，在所述送電線圈與所述受電線圈的位置關(guān)系相對于正常的位置關(guān)系發(fā)生了位置偏移的情況下，所述溫度估計部通過將所述送電線圈的損耗電力乘以所述校正系數(shù)，來變更所述送電線圈的損耗電力對于溫度上升的貢獻度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸受電裝置的溫度估計裝置，其特征在于，

所述位置偏移量獲取部基于所述校正系數(shù)與所述間隙的平方成反比例且相對于所述平面上的位置偏移量而線性地變化的關(guān)系，來確定校正系數(shù)，

所述溫度估計部基于所述受電裝置的發(fā)熱量及由于所述送電線圈的損耗電力所引起的所述受電線圈的上升溫度，來估計所述受電線圈周圍溫度。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的非接觸受電裝置的溫度估計裝置，其特征在于，

還具備耦合系數(shù)獲取部，該耦合系數(shù)獲取部獲取所述送電線圈與所述受電線圈之間的耦合系數(shù)，

所述位置偏移量獲取部基于所述平面上的位置偏移量及所述耦合系數(shù)來獲取所述間隙。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的非接觸受電裝置的溫度估計裝置，其特征在于，

所述位置偏移量獲取部獲取X軸方向的位置偏移量及與所述X軸正交的Y軸方向的位置偏移量來作為平面上的位置偏移量，并且基于所述間隙通過下式來運算所述校正系數(shù)，

C＝(a·Lx+b·Ly+c)/G²

其中，C為所述校正系數(shù)，a、b、c為規(guī)定系數(shù)，G為送電線圈與受電線圈之間的間隙，Lx為X軸方向的位置偏移量，Ly為Y軸方向的位置偏移量。

5.一種非接觸受電裝置的溫度估計方法，用于估計受電裝置的受電線圈周圍溫度，該受電裝置利用受電線圈以非接觸方式接收由送電線圈發(fā)送的電力，

該溫度估計方法的特征在于，

獲取所述送電線圈的損耗電力；

獲取所述送電線圈與所述受電線圈之間的間隙及所述送電線圈與所述受電線圈之間的平面上的位置偏移量，基于根據(jù)所述間隙及所述平面上的位置偏移量求出的、所述送電線圈與所述受電線圈之間的相對位置關(guān)系來確定校正系數(shù)；

基于預(yù)先設(shè)定的受電裝置的發(fā)熱量及所述送電線圈的損耗電力來估計所述受電線圈周圍溫度，

并且，在所述送電線圈與所述受電線圈的位置關(guān)系相對于正常的位置關(guān)系發(fā)生了位置偏移的情況下，通過將所述送電線圈的損耗電力乘以所述校正系數(shù)，來變更所述送電線圈的損耗電力對于溫度上升的貢獻度。