[發明專利]用于檢查蛋的方法和系統有效
| 申請號: | 201580077995.4 | 申請日: | 2015-03-24 |
| 公開(公告)號: | CN107430109B | 公開(公告)日: | 2021-05-14 |
| 發明(設計)人: | 加夫瑞爾·艾達爾;埃里亞胡·沙洛姆·霍夫曼;亞伊爾·奧爾·艾達爾 | 申請(專利權)人: | 利弗艾格(2015)有限公司 |
| 主分類號: | G01N33/08 | 分類號: | G01N33/08 |
| 代理公司: | 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262 | 代理人: | 楊明釗;陸建萍 |
| 地址: | 以色列*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 檢查 方法 系統 | ||
1.一種用于在孵化系統中在孵化期期間監測孵化器中多個蛋的狀態和發育的方法,所述孵化系統包括用于容納所述多個蛋的殼體并使用至少一個托盤支撐所述多個蛋,所述方法包括:
在所述孵化期期間監測所述多個蛋的每個蛋的輻射響應以基于指示所測量的輻射響應的相應的測量數據片識別所述多個蛋的每個蛋中的活胚的存在,
其中所述方法的特征在于所述多個蛋的每個蛋的所述輻射響應的所述監測包括在所述孵化系統中設置監測系統,所述監測系統包括:
光學單元,所述光學單元被配置且可操作以在輻射檢測的透射和反射模式的任一者或兩者中以非接觸方式對所述多個蛋進行光學測量,所述光學單元以以下配置中的至少一種位于所述殼體內:在所述至少一個托盤上方、在所述至少一個托盤下方或在所述至少一個托盤內部,并且被配置且可操作以提供指示在所述孵化期期間的所述每個蛋的所述輻射響應的測量數據;以及
控制單元,所述控制單元被配置且可操作以分析所述測量數據并且識別所述每個蛋中的所述活胚的存在,所述分析包括識別所述每個蛋的所述輻射響應的強度變化的預定的動態,以及基于所述強度變化的所識別的預定的動態監測在相應的蛋中正在發育的胚胎的發育階段,所述輻射響應的所述強度變化的所述預定的動態包括以下中的至少一者:在所述孵化期的不同時間間隔的所述強度變化的頻率的改變、所述強度變化的一定頻率的出現和消失、在一定頻率處變化的強度的幅度的改變。
2.根據權利要求1所述的方法,還包括利用與所述測量數據片對應的位置數據,使得多個測量數據片的每個測量數據片對應于所述孵化器中不同部位的至少一個不同的蛋的測量輻射響應,由此能夠獲得所述輻射響應的強度變化的動態的圖。
3.根據權利要求1或2所述的方法,其中,所述測量數據接收自存儲裝置。
4.根據權利要求1或2所述的方法,其中,對所述測量數據的所述分析包括:分析指示在所述孵化期的最長7天的初始時間間隔內監測的所述輻射響應的第一測量數據,以及在識別出所述輻射響應的所述強度變化的指示所述每個蛋中的活胚的預定的第一模式時,生成指示該預定的第一模式的、允許進行所述孵化期的相繼的時間間隔的所述監測的數據。
5.根據權利要求4所述的方法,其中,所述測量數據的所述分析包括分析指示在所述相繼的時間間隔期間被監測的所述輻射響應的第二測量數據,以識別出所述輻射響應的強度變化中的預定動態,以選擇性地在所述相繼的時間間隔的第一時間窗口之后停止監測,或者在所述相繼的時間間隔的另外第二時間窗口期間繼續進行監測。
6.根據權利要求4所述的方法,其中,所述第一測量數據中的所述輻射響應的所述強度變化的所述預定的第一模式包括0.1-1Hz范圍內的變化頻率,以及其中,所述預定的第一模式指示所述每個蛋中存在的胚胎在約6天至約11天的年齡內。
7.根據權利要求4所述的方法,包括分析指示在所述相繼的時間間隔期間被監測的所述輻射響應的第二測量數據,以識別出所述輻射響應的以在2-4Hz的頻率范圍內的頻率的強度變化。
8.根據權利要求5所述的方法,其中,所述第二測量數據的所述分析包括與所述初始時間間隔的強度變化的頻率相比,識別在所述相繼的時間間隔的所述第一時間窗口期間的強度變化的頻率的改變,以及與所述相繼的時間間隔的所述第一時間窗口的所述輻射響應的所述幅度相比,識別在所述第二時間窗口期間所述輻射響應的至少所述幅度的變化。
9.根據權利要求7所述的方法,其中,所述第二測量數據的所述分析包括識別從所述孵化期的第11天的、頻率在2-4Hz的范圍內的所述強度變化的幅度的持續增加。
10.根據權利要求1或2所述的方法,包括通過以下操作來提供指示每個蛋的所述輻射響應的所述測量數據:用來自光源的預定光譜范圍的電磁輻射照射所述每個蛋,在所述光學單元的檢測單元處檢測來自所述每個蛋的所述輻射響應,檢測到的輻射響應由來自蛋內部的輻射形成;以及生成指示所檢測到的輻射響應的所述相應的測量數據片。
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