[發(fā)明專利]半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201580077872.0 | 申請(qǐng)日: | 2015-05-01 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107690703B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-07-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 永嶋賢史;加藤竜也;坂本渉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 東芝存儲(chǔ)器株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L27/11524 | 分類號(hào): | H01L27/11524;H01L27/11556;H01L27/1157;H01L27/11582;H01L29/788;H01L29/792 |
| 代理公司: | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11287 | 代理人: | 楊林勛 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 存儲(chǔ) 裝置 | ||
本發(fā)明的實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置具備:多根半導(dǎo)體柱,在第1方向延伸,且沿相對(duì)于所述第1方向交叉的第2方向排列;兩條配線,在所述第2方向延伸,且在相對(duì)于所述第1方向及所述第2方向交叉的第3方向上,設(shè)置于所述多根半導(dǎo)體柱的兩側(cè);及電極膜,配置于各所述半導(dǎo)體柱與各所述配線之間。所述兩條配線能夠相互獨(dú)立驅(qū)動(dòng)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明的實(shí)施方式涉及一種半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置。
背景技術(shù)
以往,NAND閃存是通過(guò)平面結(jié)構(gòu)的微細(xì)化使集成度增加,而降低位成本(bitcost)。然而,因伴隨微細(xì)化,寫(xiě)入/刪除窗口縮小,且可蓄積于各存儲(chǔ)單元的電子數(shù)減少,因此平面結(jié)構(gòu)的微細(xì)化越來(lái)越接近極限。因此,近年來(lái),提出有沿上下方向積層存儲(chǔ)單元的技術(shù)。然而,這種積層型存儲(chǔ)裝置的問(wèn)題在于動(dòng)作的可靠性。
背景技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本專利特開(kāi)2013-182949號(hào)公報(bào)
發(fā)明內(nèi)容
[發(fā)明所要解決的問(wèn)題]
實(shí)施方式的目的在于提供一種動(dòng)作可靠性高的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置。
[解決問(wèn)題的技術(shù)手段]
實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置具備:多根半導(dǎo)體柱,在第1方向延伸,且沿相對(duì)于所述第1方向交叉的第2方向排列;兩條配線,在所述第2方向延伸,且在與所述第1方向及所述第2方向交叉的第3方向上,設(shè)置于所述多根半導(dǎo)體柱的兩側(cè);及電極膜,配置于各所述半導(dǎo)體柱與各所述配線之間。所述兩條配線能夠相互獨(dú)立驅(qū)動(dòng)。
附圖說(shuō)明
圖1是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的立體圖。
圖2是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的俯視圖。
圖3是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的剖視圖。
圖4是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的示意性電路圖。
圖5中的5(a)及5(b)是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的部分放大剖視圖。
圖6是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制造方法的立體圖。
圖7是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制造方法的立體圖。
圖8是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制造方法的立體圖。
圖9是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制造方法的立體圖。
圖10是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制造方法的立體圖。
圖11是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制造方法的立體圖。
圖12是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制造方法的剖視圖。
圖13是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制造方法的立體圖。
圖14是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制造方法的立體圖。
圖15是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制造方法的立體圖。
圖16是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制造方法的剖視圖。
圖17是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制造方法的立體圖。
圖18是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制造方法的立體圖。
圖19是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制造方法的立體圖。
圖20是表示第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制造方法的立體圖。
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- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門(mén)適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門(mén)適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
- 動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)管理裝置及方法
- 一種存儲(chǔ)方法、服務(wù)器及存儲(chǔ)控制器
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