[發(fā)明專利]檢測(cè)裝置及護(hù)理機(jī)器人有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201580077854.2 | 申請(qǐng)日: | 2015-03-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107430012B | 公開(公告)日: | 2019-10-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 野村英明;五十棲丈二 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社富士 |
| 主分類號(hào): | G01D5/249 | 分類號(hào): | G01D5/249;A61G5/00 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219 | 代理人: | 穆德駿;謝麗娜 |
| 地址: | 日本愛(ài)知*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測(cè) 裝置 護(hù)理 機(jī)器人 | ||
1.一種檢測(cè)裝置,具備:
基準(zhǔn)部件;
移動(dòng)部件,相對(duì)于所述基準(zhǔn)部件進(jìn)行相對(duì)移動(dòng);
增量編碼器,每當(dāng)所述移動(dòng)部件相對(duì)于所述基準(zhǔn)部件相對(duì)移動(dòng)了規(guī)定量時(shí),使計(jì)數(shù)值增減;
驅(qū)動(dòng)源,基于所述增量編碼器的所述計(jì)數(shù)值,對(duì)所述基準(zhǔn)部件與所述移動(dòng)部件的相對(duì)移動(dòng)進(jìn)行驅(qū)動(dòng);
擋塊,配置在所述基準(zhǔn)部件與所述移動(dòng)部件中的一方,且具備將相鄰的狹縫的分離距離及所述狹縫自身的間隙寬度中的至少一方形成為多種的多個(gè)狹縫;
傳感器,配置在所述基準(zhǔn)部件與所述移動(dòng)部件中的另一方,檢測(cè)有無(wú)所述狹縫;
計(jì)數(shù)位置取得部,在所述移動(dòng)部件相對(duì)于所述基準(zhǔn)部件進(jìn)行相對(duì)移動(dòng)的情況下,基于所述傳感器的檢測(cè)結(jié)果,取得與所述相鄰的狹縫的分離距離或所述狹縫自身的間隙寬度對(duì)應(yīng)的計(jì)數(shù)開始位置及計(jì)數(shù)結(jié)束位置;及
狀態(tài)檢測(cè)部,取得從所述計(jì)數(shù)開始位置到所述計(jì)數(shù)結(jié)束位置的所述計(jì)數(shù)值的增減數(shù),基于所取得的所述計(jì)數(shù)值的增減數(shù)來(lái)檢測(cè)所述移動(dòng)部件的狀態(tài)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其中,
所述計(jì)數(shù)位置取得部取得與所述相鄰的狹縫的分離距離對(duì)應(yīng)的所述計(jì)數(shù)開始位置及所述計(jì)數(shù)結(jié)束位置,
所述狀態(tài)檢測(cè)部預(yù)先存儲(chǔ)有計(jì)數(shù)數(shù)值-位置關(guān)系數(shù)據(jù),所述計(jì)數(shù)數(shù)值-位置關(guān)系數(shù)據(jù)設(shè)定所述相鄰的狹縫的分離距離所對(duì)應(yīng)的所述計(jì)數(shù)值的增減數(shù)與所述移動(dòng)部件的相對(duì)位置之間的關(guān)系,
所述狀態(tài)檢測(cè)部取得從所述計(jì)數(shù)開始位置到所述計(jì)數(shù)結(jié)束位置的所述計(jì)數(shù)值的增減數(shù),
所述狀態(tài)檢測(cè)部基于所取得的所述計(jì)數(shù)值的增減數(shù)和所述計(jì)數(shù)數(shù)值-位置關(guān)系數(shù)據(jù),來(lái)檢測(cè)當(dāng)前的所述移動(dòng)部件的相對(duì)位置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其中,
所述計(jì)數(shù)位置取得部取得與所述狹縫自身的間隙寬度對(duì)應(yīng)的所述計(jì)數(shù)開始位置及所述計(jì)數(shù)結(jié)束位置,
所述狀態(tài)檢測(cè)部預(yù)先存儲(chǔ)有計(jì)數(shù)數(shù)值-位置關(guān)系數(shù)據(jù),所述計(jì)數(shù)數(shù)值-位置關(guān)系數(shù)據(jù)設(shè)定所述狹縫自身的間隙寬度所對(duì)應(yīng)的所述計(jì)數(shù)值的增減數(shù)與所述移動(dòng)部件的相對(duì)位置之間的關(guān)系,
所述狀態(tài)檢測(cè)部取得從所述計(jì)數(shù)開始位置到所述計(jì)數(shù)結(jié)束位置的所述計(jì)數(shù)值的增減數(shù),
所述狀態(tài)檢測(cè)部基于所取得的所述計(jì)數(shù)值的增減數(shù)和所述計(jì)數(shù)數(shù)值-位置關(guān)系數(shù)據(jù),來(lái)檢測(cè)當(dāng)前的所述移動(dòng)部件的相對(duì)位置。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測(cè)裝置,其中,
基于所述移動(dòng)部件的相對(duì)位置的原點(diǎn)和所述計(jì)數(shù)值來(lái)控制所述驅(qū)動(dòng)源,
所述狀態(tài)檢測(cè)部基于當(dāng)前的所述移動(dòng)部件的相對(duì)位置來(lái)設(shè)定所述原點(diǎn)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的檢測(cè)裝置,其中,
基于所述移動(dòng)部件的相對(duì)位置的原點(diǎn)和所述計(jì)數(shù)值來(lái)控制所述驅(qū)動(dòng)源,
所述狀態(tài)檢測(cè)部基于當(dāng)前的所述移動(dòng)部件的相對(duì)位置來(lái)設(shè)定所述原點(diǎn)。
6.根據(jù)權(quán)利要求2~5中任一項(xiàng)所述的檢測(cè)裝置,其中,
所述狀態(tài)檢測(cè)部具備:
當(dāng)前位置檢測(cè)部,基于所取得的所述計(jì)數(shù)值的增減數(shù)和所述計(jì)數(shù)數(shù)值-位置關(guān)系數(shù)據(jù),來(lái)檢測(cè)當(dāng)前的所述移動(dòng)部件的相對(duì)位置;
控制位置算出部,基于所述移動(dòng)部件的相對(duì)位置的原點(diǎn)和控制所述驅(qū)動(dòng)源所使用的所述增量編碼器的累計(jì)計(jì)數(shù)值,來(lái)算出當(dāng)前的所述移動(dòng)部件的相對(duì)位置;及
比較部,對(duì)由所述當(dāng)前位置檢測(cè)部檢測(cè)出的當(dāng)前的所述移動(dòng)部件的相對(duì)位置與由所述控制位置算出部算出的當(dāng)前的所述移動(dòng)部件的相對(duì)位置進(jìn)行比較。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會(huì)社富士,未經(jīng)株式會(huì)社富士許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201580077854.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:用于使用無(wú)線電力發(fā)射機(jī)檢測(cè)磁通量場(chǎng)特性的裝置及相關(guān)方法
- 下一篇:磁致伸縮位移測(cè)量設(shè)備和用于運(yùn)行磁致伸縮位移測(cè)量設(shè)備的方法
- 同類專利
- 專利分類
G01D 非專用于特定變量的測(cè)量;不包含在其他單獨(dú)小類中的測(cè)量?jī)蓚€(gè)或多個(gè)變量的裝置;計(jì)費(fèi)設(shè)備;非專用于特定變量的傳輸或轉(zhuǎn)換裝置;未列入其他類目的測(cè)量或測(cè)試
G01D5-00 用于傳遞傳感構(gòu)件的輸出的機(jī)械裝置;將傳感構(gòu)件的輸出變換成不同變量的裝置,其中傳感構(gòu)件的形式和特性不限制變換裝置;非專用于特定變量的變換器
G01D5-02 .采用機(jī)械裝置
G01D5-12 .采用電或磁裝置
G01D5-26 .采用光學(xué)裝置,即應(yīng)用紅外光、可見光或紫外光
G01D5-42 .采用流體裝置
G01D5-48 .采用波或粒子輻射裝置
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





