[發明專利]半導體X射線檢測器

有效

• 申請號: 201580077787.4
• 申請日: 2015-04-07
• 公開（公告）號: CN108271415B
• 公開（公告）日: 2019-03-05
• 發明（設計）人: 曹培炎
• 申請（專利權）人: 深圳幀觀德芯科技有限公司
• 主分類號: G01T1/16
• 分類號: G01T1/16;G01T1/17;G01T1/24;G01N23/083;A61B6/03
• 代理公司: 深圳市六加知識產權代理有限公司 44372
• 代理人: 羅水江

1.一種適合檢測X射線的裝置，其包括：

X射線吸收層，其包括電極；

第一電壓比較器，其配置成將所述電極的電壓與第一閾值比較；

第二電壓比較器，其配置成將所述電壓與第二閾值比較；

計數器，其配置成記錄所述X射線吸收層所吸收的X射線光子的數目；

控制器；

其中所述控制器配置成從所述第一電壓比較器確定所述電壓的絕對值等于或超出所述第一閾值的絕對值的時間啟動時間延遲；

其中所述控制器配置成在所述時間延遲期間啟動所述第二電壓比較器；

其中所述控制器配置成如果所述第二電壓比較器確定所述電壓的絕對值等于或超出所述第二閾值的絕對值則促使所述計數器記錄的數目增加一。

2.如權利要求1所述的裝置，其進一步包括電連接到所述電極的電容器模組，其中所述電容器模組配置成從所述電極收集載流子。

3.如權利要求1所述的裝置，其中所述控制器配置成在所述時間延遲的開始或終止時啟動所述第二電壓比較器。

4.如權利要求1所述的裝置，其進一步包括電壓表，其中所述控制器配置成促使所述電壓表在所述時間延遲終止時測量電壓。

5.如權利要求4所述的裝置，其中所述控制器配置成基于在所述時間延遲終止時測量的電壓的值來確定X射線光子能量。

6.如權利要求1所述的裝置，其中所述控制器配置成使所述電極連接到電接地。

7.如權利要求1所述的裝置，其中所述電壓的變化率在所述時間延遲終止時大致為零。

8.如權利要求1所述的裝置，其中所述電壓的變化率在所述時間延遲終止時大致為非零。

9.如權利要求1所述的裝置，其中所述X射線吸收層包括二極管。

10.如權利要求1所述的裝置，其中所述X射線吸收層包括硅、鍺、GaAs、CdTe、CdZnTe或其組合。

11.如權利要求1所述的裝置，其中所述裝置不包括閃爍體。

12.如權利要求1所述的裝置，其中所述裝置包括像素陣列。

13.如權利要求1所述的裝置，其中所述控制器配置成在所述時間延遲開始時停用所述第一電壓比較器。

14.如權利要求1所述的裝置，其中所述控制器配置成在所述時間延遲終止時或在所述第二電壓比較器確定所述電壓的絕對值等于或超出所述第二閾值的絕對值時或在中間的時間停用所述第二電壓比較器。

15.一種檢測X射線的系統，其包括如權利要求1所述的裝置以及X射線源，其中所述系統組態成對人的胸部或腹部進行X射線放射攝影。

16.一種檢測X射線的系統，其包括如權利要求1所述的裝置以及X射線源，其中所述系統組態成對人的口腔進行X射線放射攝影。

17.一種貨物掃描或非侵入式檢查(N I I)系統，其包括如權利要求1所述的裝置以及X射線源，其中所述貨物掃描或非侵入式檢查(N I I)系統組態成使用背散射X射線來形成圖像。

18.一種貨物掃描或非侵入式檢查(N I I)系統，其包括如權利要求1所述的裝置以及X射線源，其中所述貨物掃描或非侵入式檢查(N I I)系統組態成使用透射通過所檢查物體的X射線來形成圖像。

19.一種全身掃描器系統，其包括如權利要求1所述的裝置以及X射線源。