[發明專利]一種飛行時間質譜儀

有效

• 申請號: 201580076595.1
• 申請日: 2015-11-26
• 公開（公告）號: CN107251187B
• 公開（公告）日: 2019-05-31
• 發明（設計）人: 戴安娜·卡莉尼娜;約翰·艾莉森;卡洛琳·布倫
• 申請（專利權）人: 克雷托斯分析有限公司
• 主分類號: H01J49/04
• 分類號: H01J49/04;H01J49/06;H01J49/40;H01J49/16
• 代理公司: 上海華誠知識產權代理有限公司 31300
• 代理人: 肖華

1.一種飛行時間質譜儀，其特征在于，包括：

離子源，所述離子源包括：

第一電極，其中所述第一電極包括用于支撐樣品的樣品板；以及

與所述第一電極相隔開的第二電極，所述第二電極中形成有孔；

樣品板載體，所述樣品板安裝在所述樣品板載體上；

機構，所述機構被配置為相對于離子光軸橫向移動所述樣品板載體，以相對于所述離子光軸橫向偏移所述樣品板載體，并且因此相對于所述離子光軸橫向偏移所述樣品板，其中所述離子光軸在所述第一電極和所述第二電極之間延伸，并穿過所述第二電極中的所述孔；

其中所述離子源被配置為對所述第一電極和所述第二電極施加電壓以在所述第一電極和所述第二電極之間的引出區域中產生引出電場，以在所述質譜儀在使用時，通過所述第二電極中的所述孔從所述引出區域引出離子；

其中防護物被形成于所述第一電極和/或所述第二電極上，其中所述防護物為形成在所述第一電極和所述第二電極中的一個電極的表面上的凸起的元件，所述元件面向所述第一電極和所述第二電極中的另一個電極，以使所述防護物向所述第一電極和第二電極中的所述另一個電極延伸，其中所述防護物被配置為當所述質譜儀在使用時，抑制在所述第一電極的邊緣和所述第二電極的邊緣之間形成的電場透入所述第一電極和所述第二電極之間的所述引出區域，以在當所述樣品板相對于所述離子光軸橫向偏移時，抑制所述引出區域中的所述引出電場的變化。

2.根據權利要求1所述的飛行時間質譜儀，其特征在于，所述防護物圍繞在所述第一電極和第二電極之間延伸的軸。

3.根據權利要求1所述的飛行時間質譜儀，其特征在于，所述第一電極包括在所述第一電極中形成的孔。

4.根據權利要求1所述的飛行時間質譜儀，其特征在于，所述防護物的面向內的表面向外與所述第一和第二電極之間延伸的軸以至少在所述第二電極中形成的所述孔的寬度的距離間隔。

5.根據權利要求1所述的飛行時間質譜儀，其特征在于，所述防護物的面向外的表面向外與所述第一和第二電極之間延伸的軸以至少在所述第二電極中形成的所述孔的寬度的1.5倍的距離間隔。

6.根據權利要求1所述的飛行時間質譜儀，其特征在于，所述防護物被形成于所述第二電極上，二級防護物被形成于所述第二電極上，其中所述二級防護物被配置為抑制電場通過在所述第二電極中形成的所述孔透入所述第一電極和所述第二電極之間的所述區域，其中所述二級防護物圍繞所述孔。

7.根據權利要求6所述的飛行時間質譜儀，其特征在于，所述防護物的高度比所述二級防護物的高度大。

8.根據權利要求1所述的飛行時間質譜儀，其特征在于，所述防護物在所述第二電極上被形成，并且所述防護物的面向內的表面向外與所述第二電極和所述第二電極中形成的所述孔之間的邊界以足夠小的距離相隔開，以使當所述樣品板載體的中心處于相對于所述離子光軸的最大的被允許的橫向偏移時，當沿著離子光軸觀察時，所述防護物的所述面向內的表面保持在所述第一電極的外部邊界內。

9.根據權利要求1所述的飛行時間質譜儀，其特征在于，所述離子源包括激光器，所述激光器用于通過向樣品發射光以電離所述樣品板上支撐的樣品。

10.根據在前的權利要求中的任意一項所述的飛行時間質譜儀，其特征在于，所述離子源為MALDI離子源。