[發(fā)明專利]用于確定密封件被破壞的時間的方法和系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201580075205.9 | 申請日: | 2015-12-10 |
| 公開(公告)號: | CN107205882B | 公開(公告)日: | 2020-09-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | I·J·福斯特 | 申請(專利權(quán))人: | 艾利丹尼森零售信息服務(wù)公司 |
| 主分類號: | A61J1/03 | 分類號: | A61J1/03;A61J7/04;B65D55/02 |
| 代理公司: | 北京紀凱知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11245 | 代理人: | 王永偉;趙蓉民 |
| 地址: | 美國馬*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 確定 密封件 破壞 時間 方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明提供了用于確定密封容器的密封件何時被破壞或篡改(tampered with)的系統(tǒng)和方法。其可以包括密封容器,該密封容器具有將容器的內(nèi)部與外部環(huán)境隔開的密封件。電路的環(huán)境敏感性導(dǎo)體被安置于密封容器的內(nèi)部中。該導(dǎo)體具有電學(xué)性能,所述電學(xué)性質(zhì)具有作為時間和暴露于外部環(huán)境的函數(shù)以可預(yù)測的方式變化的已知初始值。因此,破壞密封件和將導(dǎo)體暴露于環(huán)境導(dǎo)致導(dǎo)體的電學(xué)性能改變。在確定電學(xué)性能的當前值時,可以將初始值和數(shù)值隨時間的預(yù)期變化結(jié)合使用,以便確定密封件被破壞的時間。
發(fā)明領(lǐng)域
本主題涉及用于確定容器、包裝或類似物上的密封件(seal)何時被破壞或以其它方式篡改的系統(tǒng)和技術(shù)。更具體地,本主題涉及使用環(huán)境敏感性材料來確定容器、包裝或類似物上的密封件何時被破壞或以其它方式篡改。
對于眾多應(yīng)用中的任何一種,保持使用密封容器或環(huán)境是常見的。例如,藥物或管制物質(zhì)材料(controlled substance material)經(jīng)常被提供在密封容器中,如吸塑包裝(blister pack),其可具有多個單獨的密封小室(cell),必須將所述小室破壞才能獲得一定劑量的藥物。能夠確定小室上的密封件何時被破壞可能是有利的,例如,受試者可以在醫(yī)生或醫(yī)療護理提供者的指令下在特定時間攝取一定劑量的藥物。如果受試者不在醫(yī)生或醫(yī)療護理提供者控制下的設(shè)施(例如,醫(yī)院或療養(yǎng)院)內(nèi),醫(yī)生或醫(yī)療護理提供者可能難以知道受試者是否在適當?shù)臅r間攝取藥物。因此,在這種情況下,有利的是,提供可用于確定特定密封件何時被破壞的系統(tǒng)和方法。
本主題的幾個方面可以在以下描述和請求保護的裝置和系統(tǒng)中單獨或一起體現(xiàn)。這些方面可單獨或與本文所述的主題的其它方面結(jié)合使用,并且這些方面在一起的描述并不意在排除單獨使用這些方面或單獨地或以不同的組合來請求保護這些方面,如在所附權(quán)利要求中所提出的。
一方面,用于確定密封容器的密封件何時被破壞的系統(tǒng)包括密封容器和電路。密封容器包括將容器的內(nèi)部與外部環(huán)境隔開的密封件。電路中的環(huán)境敏感性導(dǎo)體被安置在密封容器的內(nèi)部。導(dǎo)體具有帶已知初始值的電學(xué)性能,其作為時間和暴露于外部環(huán)境的函數(shù)以可預(yù)測的方式變化。在密封件已被破壞之后,可以利用電學(xué)性能的當前值確定密封件被破壞以及導(dǎo)體暴露于外部環(huán)境的時間。
另一方面,用于確定密封容器的密封件何時被破壞的系統(tǒng)包括密封容器和電路。密封容器包括將容器的內(nèi)部與外部環(huán)境隔開的密封件。電路中的環(huán)境穩(wěn)定性導(dǎo)體和環(huán)境敏感性導(dǎo)體被安置在密封容器的內(nèi)部。環(huán)境敏感性導(dǎo)體具有帶已知初始值的電學(xué)性能,其作為時間和暴露于外部環(huán)境的函數(shù)以可預(yù)測的方式而變化。在密封件已被破壞之后,可以利用電學(xué)性能的當前值確定密封件被破壞以及環(huán)境敏感性導(dǎo)體被暴露于外部環(huán)境的時間。
又一方面,確定密封容器的密封件何時被破壞的方法包括提供具有將位于容器內(nèi)部的環(huán)境敏感性導(dǎo)體與外部環(huán)境隔開的密封件的密封容器。導(dǎo)體具有帶已知初始值的電學(xué)性能,其作為時間和暴露于外部環(huán)境的函數(shù)以可預(yù)測的方式而變化。密封件被破壞,從而將導(dǎo)體暴露于外部環(huán)境,并允許電學(xué)性能的值變化。然后根據(jù)電學(xué)性能的當前值和初始值確定密封件被破壞的時間。
本發(fā)明的其它特征和優(yōu)勢通過以下詳細描述對本領(lǐng)域技術(shù)人員是明顯的。但是,應(yīng)理解多種實施方式和具體實施例的詳細描述通過示例的方式提供而無限制,同時表明本發(fā)明的優(yōu)選和其它實施方式。本發(fā)明范圍內(nèi)的很多變化和改動可在不脫離其精神的情況下實施,并且本發(fā)明包括了所有此類改動。
通過參考下面對本發(fā)明的目前優(yōu)選示例性實施方式的更詳細的描述結(jié)合附圖,將更全面地理解和領(lǐng)會本發(fā)明的這些以及其它目的和優(yōu)點,其中:
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