[發明專利]用于在輪胎制造工序中檢測輪胎上的缺陷的方法和設備有效
| 申請號: | 201580074725.8 | 申請日: | 2015-12-18 |
| 公開(公告)號: | CN108093647B | 公開(公告)日: | 2019-03-05 |
| 發明(設計)人: | S·蒙蒂;V·巴拉爾迪尼;F·雷戈利 | 申請(專利權)人: | 倍耐力輪胎股份公司 |
| 主分類號: | G01M17/02 | 分類號: | G01M17/02;G06T7/00 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038 | 代理人: | 秦振 |
| 地址: | 意大*** | 國省代碼: | 意大利;IT |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 樣本圖像 圖像 輪胎 邊緣圖像 樣本 方法和設備 輪胎制造 邊緣識別 傾斜光源 照射表面 檢測 照射 分析 | ||
1.一種用于在輪胎制造工序中檢測輪胎上的缺陷的方法(200),所述方法包括:
a)接收(202)基本無缺陷的參照輪胎的表面部分的參照圖像(Iref);
b)提供(203)待分析的樣本輪胎;
c)用傾斜光源照射(204)樣本輪胎的表面部分;
d)獲取(205)樣本輪胎的被照射表面部分的樣本圖像(Icmp);
e)從所述參照圖像和所述樣本圖像中提取(207)邊緣并且分別產生:邊緣參照圖像(Iref_edg),所述邊緣參照圖像包括包含在所述參照圖像中的邊緣;和邊緣樣本圖像(Icmp_edg),所述邊緣樣本圖像包括包含在所述樣本圖像中的邊緣;
f)進行所述邊緣參照圖像(Iref_edg)的所述邊緣的擴大(208)并且由其產生擴大的邊緣參照圖像(Iref_edg_dl);
g)相對于所述擴大的邊緣參照圖像(Iref_edg_dl)比較(209)所述邊緣樣本圖像(Icmp_edg),并且產生具有可能缺陷的邊緣圖像(Iedg_pd),所述具有可能缺陷的邊緣圖像包括包含在所述邊緣樣本圖像中、但不包含在所述擴大的邊緣參照圖像中的邊緣;
h)將包含在所述具有可能缺陷的邊緣圖像中的邊緣識別為可能缺陷。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,所述方法還包括:
i)從所述具有可能缺陷的邊緣圖像(Iedg_pd)中選擇(210)第一邊緣(C’D1),在所述邊緣樣本圖像(Icmp_edg)中識別對應于所選擇的第一邊緣的第一對應邊緣,并且驗證所述邊緣樣本圖像(Icmp_edg)中第二邊緣的至少一個部分的存在,其中,所述第二邊緣的一部分位于所述第一對應邊緣的至少一個部分附近;
j)產生(211)具有恢復的可能缺陷的邊緣圖像(Iedg_pd-r),所述具有恢復的可能缺陷的邊緣圖像包括所述具有可能缺陷的邊緣圖像的邊緣而且還包括被識別的第二邊緣;
k)針對所述具有可能缺陷的邊緣圖像的其它第一邊緣重復(213)前述步驟i)至j);
l)將包含在所述具有恢復的可能缺陷的邊緣圖像中的邊緣識別(214)為缺陷。
3.根據權利要求2所述的方法,其中,在步驟i)中,計算所述第一對應邊緣和所述第二邊緣的接近度包括:
-通過測量屬于所述第一對應邊緣的點和屬于所述第二邊緣的點之間的距離而測量多個距離;
-識別所測量的多個距離之中的最小距離;
并且其中,在步驟i)中,如果所述最小距離小于或者等于距離閾值,則進行所述第二邊緣的存在的所述驗證。
4.根據權利要求3所述的方法,其中,步驟i)包括:
i1)使被限定為基本垂直于所考慮的邊緣的平均方向的方向的取向與所述邊緣樣本圖像的每個第一對應邊緣相關聯;
i2)使被限定為基本垂直于所考慮的邊緣的平均方向的方向的取向與所述邊緣樣本圖像的每個第二邊緣相關聯;
i3)驗證所述第一對應邊緣的取向是否基本平行于所選擇的第二邊緣的取向;
并且其中,如果步驟i3)中的驗證是肯定的,則執行步驟j)中的所述產生。
5.根據權利要求2至4中的任一項所述的方法,其中,所述方法在步驟k)之后還包括以下步驟:
-接收所述具有恢復的可能缺陷的邊緣圖像;
-在所述具有恢復的可能缺陷的邊緣圖像中識別非缺陷元素的存在;
-消除被識別的非缺陷元素。
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