[發明專利]檢測錯誤邊界觸摸輸入的方法和設備有效
| 申請號: | 201580074002.8 | 申請日: | 2015-06-26 |
| 公開(公告)號: | CN107231814B | 公開(公告)日: | 2021-02-05 |
| 發明(設計)人: | M·約翰遜;馬庫斯·安德烈亞松;O·莫林;A·桑德布拉德;O·索恩;M·米德霍特 | 申請(專利權)人: | 索尼公司 |
| 主分類號: | G06F3/044 | 分類號: | G06F3/044;G06F3/041 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 呂俊剛;師瑋 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 錯誤 邊界 觸摸 輸入 方法 設備 | ||
1.一種檢測錯誤邊界觸摸輸入的方法,所述方法包括:
在具有觸摸屏顯示器的設備(100)處,對與所述觸摸屏顯示器相關聯的電容式觸摸傳感器陣列(125)的行(420、520)和列(430、510)執行互電容掃描,以確定所述設備(100)的所述觸摸屏顯示器上的物體的位置;
選擇所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的所述行(420、520)的子集和所述列(430、510)的子集;基于所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的所述互電容掃描,確定所述物體是否被識別為接近所述觸摸屏顯示器的邊界(115);
如果所述物體被識別為接近所述觸摸屏顯示器的所述邊界(115),則對所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的所選擇的行(420、520)的子集和所選擇的列(430、510)的子集執行自電容掃描;
分析所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的所選擇的行和/或所選擇的列的測量到的自電容,將觸摸輸入(155、160)分類為與表示意外觸摸輸入或錯誤觸摸輸入的觸摸位置或形狀相關聯,以確定所述自電容掃描的結果;
基于所述自電容掃描的所述結果,識別所述觸摸屏顯示器上的所述意外觸摸輸入或所述錯誤觸摸輸入;以及
使所述設備(100)忽略在所述觸摸屏顯示器上識別出的所述意外觸摸輸入或所述錯誤觸摸輸入。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,所述設備(100)的觸摸面板(105)包括表面(110),所述表面進一步包括由邊界(115)包圍的觸摸表面(120),并且所述電容式觸摸傳感器陣列(125)被布置在所述觸摸表面(120)下方。
3.根據權利要求1所述的方法,其中,對所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的行(420、520)和列(430、510)執行所述互電容掃描包括:
測量在所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的所述行(420、520)中的每一行與所述列(430、510)中的每一列的交叉點處形成的相應平行板電容器(175)的電容(150),并且
其中,對所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的所選擇的行(420、520)的子集和所選擇的列(430、510)的子集執行所述自電容掃描包括:
向所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的所選擇的行(420、520)的子集的每一行和所選擇的列(430、510)的子集的每一列施加電壓,并且測量所選擇的行(420、520)的子集的每一行和所選擇的列(430、510)的子集的每一列上的對地電流,以確定相應的電容變化。
4.根據權利要求1所述的方法,其中,選擇所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的所述行(420、520)的所述子集和所述列(430、510)的所述子集包括:
基于所述設備(100)被縱向取向還是橫向取向,選擇所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的所述行(420、520)的所述子集和所述列(430、510)的所述子集;或
基于所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的分辨率,選擇所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的所述行(420、520)的所述子集和所述列(430、510)的所述子集;或
基于所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的所述互電容掃描的結果,選擇所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的所述行(420、520)的所述子集和所述列(430、510)的所述子集;或
基于與所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的所述互電容掃描相關聯的測量信號強度,選擇所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的所述行(420、520)的所述子集和所述列(430、510)的所述子集。
5.根據權利要求1所述的方法,所述方法還包括:
確定與所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的所述互電容掃描相關聯的信號強度;
確定所述信號強度是否大于信號強度閾值;以及
如果所述信號強度大于信號強度閾值,則對所述電容式觸摸傳感器陣列(125)的所選擇的行(420、520)的子集和所選擇的列(430、510)的子集執行所述自電容掃描。
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