[發(fā)明專利]多色熒光分析裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201580073959.0
• 申請日: 2015-02-02
• 公開（公告）號: CN107209120B
• 公開（公告）日: 2020-05-15
• 發(fā)明（設計）人: 加藤宏一;莊司智廣;高橋智;前川彰
• 申請（專利權）人: 株式會社日立高新技術
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 北京銀龍知識產(chǎn)權代理有限公司 11243
• 代理人: 金成哲;宋春華

1.一種多色熒光分析裝置，檢測利用照射激發(fā)光而從試樣含有的具有不同的熒光波長的多種熒光色素中發(fā)出的熒光，

上述多色熒光分析裝置的特征在于，具備：

照射部，其向上述試樣照射具有互不相同的多個激發(fā)波長帶的激發(fā)光；

第一光纖板，其與上述試樣的至少一部分抵接，從第一入射部接受含有利用照射上述激發(fā)光而從上述試樣發(fā)出的熒光的光，并進行導光，并且從與上述第一入射部相反的一側的第一射出部射出上述光；

第二光纖板，其從第二入射部接受從上述第一射出部射出的光，并進行導光，并且從與上述第二入射部相反的一側的第二射出部射出上述光；

單一的電介體多層膜干涉濾光片，其設于上述第二射出部的端面上，透射上述熒光的至少一部分且透射不含上述激發(fā)波長帶的多個透射波長帶的光；以及

二維檢測部，其設置成緊貼在上述電介體多層膜干涉濾光片，對透射了上述電介體多層膜干涉濾光片的光進行檢測。

2.根據(jù)權利要求1所述的多色熒光分析裝置，其特征在于，

權利要求1所述的電介體多層膜干涉濾光片是第一電介體多層膜干涉濾光片，

照射部具有光源和第二電介體多層膜干涉濾光片，該第二電介體多層膜干涉濾光片從上述光源發(fā)出的光中使具有預定的激發(fā)波長帶的激發(fā)光選擇性地透射。

3.根據(jù)權利要求2所述的多色熒光分析裝置，其特征在于，

第一電介體多層膜干涉濾光片的透射波長帶中的滿足光的透射率(α₁)比預定值(α)小的關系的上升波長(λ_1i)、和第二電介體多層膜干涉濾光片的透射波長帶中的滿足光的透射率(α₂)比上述預定值(α)小的關系的下降波長(λ_2j)滿足下記式(1)表示的關系，

[式1]

式(1)中，i及k分別是1以上的整數(shù)，θ_max是向第一電介體多層膜干涉濾光片入射的光的最大入射角，n_eff是第一電介體多層膜干涉濾光片的實際折射率。

4.根據(jù)權利要求3所述的多色熒光分析裝置，其特征在于，

預定值(α)是0.1％。

5.根據(jù)權利要求3所述的多色熒光分析裝置，其特征在于，

第一電介體多層膜干涉濾光片的實際折射率(n_eff)是1.5以上且2.2以下。

6.根據(jù)權利要求4所述的多色熒光分析裝置，其特征在于，

第一電介體多層膜干涉濾光片的實際折射率(n_eff)是1.5以上且2.2以下。

7.根據(jù)權利要求3～6中任一項所述的多色熒光分析裝置，其特征在于，

向第一電介體多層膜干涉濾光片入射的光的最大入射角(θ_max)是30°。

8.根據(jù)權利要求1～6中任一項所述的多色熒光分析裝置，其特征在于，

構成第二光纖板的光纖的外徑比構成第一光纖板的光纖的外徑小。

9.根據(jù)權利要求7所述的多色熒光分析裝置，其特征在于，

構成第二光纖板的光纖的外徑比構成第一光纖板的光纖的外徑小。

10.根據(jù)權利要求3～6中任一項所述的多色熒光分析裝置，其特征在于，

依次照射各激發(fā)波長帶的激發(fā)光。

11.根據(jù)權利要求3～6中任一項所述的多色熒光分析裝置，其特征在于，

同時照射至少具有兩個激發(fā)波長帶的激發(fā)光。

12.根據(jù)權利要求1～6中任一項所述的多色熒光分析裝置，其特征在于，

試樣是含有熒光色素的DNA斷片，用于上述DNA斷片的堿基序列的分析。