[發明專利]切片中的沿著一維延伸的磁共振指紋識別

有效

• 申請號: 201580073305.8
• 申請日: 2015-10-30
• 公開（公告）號: CN107106039B
• 公開（公告）日: 2020-08-11
• 發明（設計）人: T·E·阿姆托爾;M·I·多內瓦;P·柯肯;J·庫普;P·博爾納特
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: A61B5/00
• 分類號: A61B5/00;A61B5/055;G01R33/483;G01R33/50
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 劉瑜;王英

1.一種用于采集來自成像區（108）內的對象（118）的磁共振數據（142）的磁共振成像系統（100），其中，所述磁共振成像系統包括：

-磁體（104），其用于在所述成像區內生成主磁場；

-磁場梯度生成器（110、112），其用于在所述成像區內生成梯度磁場，其中，所述梯度磁場與預定方向對齊；

-存儲器（134、136），其用于存儲機器可執行指令（150、152、154）、預先計算的磁共振指紋識別詞典（144）和脈沖序列指令（140），其中，所述脈沖序列指令令所述磁共振成像系統根據磁共振指紋識別技術來采集所述磁共振數據，其中，所述磁共振指紋識別技術將所述磁共振數據編碼為切片（125），其中，所述預先計算的磁共振指紋識別詞典包含針對一組預定物質的、響應于所述脈沖序列指令的執行計算的磁共振信號的列表；

-處理器（130），其用于控制所述磁共振成像系統，其中，對所述機器可執行指令的執行令所述處理器：

?通過利用脈沖序列指令控制所述磁共振成像系統來采集（300）所述磁共振數據；

?將所述磁共振數據劃分成（302）一組切片；

?通過比較針對所述一組切片中的每一個的所述磁共振數據與所述預先計算的磁共振指紋識別詞典來計算（304）所述一組切片中的每一個內的所述一組預定物質中的每一種的豐度；并且

?通過根據沿著所述預定方向的位置標繪所述一組切片中的每一個內的所述一組預定物質中的每一種的豐度來計算（306）磁共振指紋圖表。

2.根據權利要求1所述的磁共振成像系統，其中，所述脈沖序列包括一系列脈沖重復（402、404），其中，所述一系列脈沖重復中的每個脈沖重復具有隨機持續時間、來自持續時間的分布的預先選定的持續時間、或偽隨機持續時間，其中，每個脈沖重復包括選自翻轉角的分布的射頻脈沖（406）以旋轉磁自旋，并且其中，每個脈沖重復包括采樣事件（410），在所述采樣事件中，所述磁共振信號在所述脈沖重復結束之前的預定時間處被采樣預定持續時間，其中，所述磁共振數據在所述采樣事件期間被采集。

3.根據權利要求2所述的磁共振成像系統，其中，所述脈沖序列的每個脈沖重復包括在所述射頻脈沖與所述采樣事件之間的第一時間中點處被執行以重新聚焦所述磁共振信號的第一180度RF脈沖（408），并且其中，所述脈沖序列的每個脈沖重復包括在所述采樣事件與下一個脈沖重復的開始之間的第二時間中點處被執行的第二180度RF脈沖（409）。

4.根據權利要求1、2或3所述的磁共振成像系統，其中，通過比較針對所述一組切片中的每一個的所述磁共振數據與所述預先計算的磁共振指紋識別詞典來計算所述一組切片中的每一個內的預定組織類型中的每一種的豐度是通過以下來執行的：

-將所述磁共振數據的每個磁共振信號表達為來自所述一組預定物質中的每一種的信號的線性組合，并且

-通過使用最小化技術求解所述線性組合來確定所述一組預定物質中的每一種的豐度。

5.根據權利要求1所述的磁共振成像系統，其中，對所述指令的執行還令所述處理器將所述磁共振指紋圖表繪制在顯示介質上。

6.根據權利要求5所述的磁共振成像系統，其中，對所述指令的執行還令所述處理器將對象的表示（206）疊加到所述磁共振指紋圖表的所述繪制上。

7.根據權利要求6所述的磁共振成像系統，其中，對所述指令的執行還令所述處理器使用以下中的任一項在對所述磁共振指紋圖表的所述繪制中對齊所述對象的所述表示：使用所述表示與沿著所述預定方向的位置之間的預先定義的關系，以及將所述一組預定物質中的至少一種的豐度與由所述對象的所述表示指示的解剖位置進行匹配。