[發明專利]在減少控制的情況下基于對統計指標的分析來制造部件的方法

有效

• 申請號: 201580071954.4
• 申請日: 2015-12-04
• 公開（公告）號: CN107209502B
• 公開（公告）日: 2019-10-18
• 發明（設計）人: 奧利維爾·法瑞;阿諾德·凱姆貝弗特;帕斯卡爾·考汀;尼古拉斯·哈杜安;查爾斯·克拉爾特·德·朗加范特
• 申請（專利權）人: 賽峰飛機發動機公司
• 主分類號: G05B19/418
• 分類號: G05B19/418
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270
• 代理人: 姚開麗;楊雅

1.一種基于對代表部件的特征尺寸的至少一個統計指標的分析來制造部件的群體的方法，該部件由制造設備生產，根據該方法：

a)從由所述制造設備生產的所述部件中選取包括n個部件的樣本；

b)對所述樣本中的每個部件的所述特征尺寸進行測量，并針對所述樣本計算所述統計指標的測量值；

c)相對于關于所述特征尺寸的規范來計算不合格部件的比例的數學期望，所述計算是根據所選取樣本的所述統計指標的測量值和所述樣本中的部件數量n來進行的，還在單邊風險α下計算所述統計指標的置信區間，其中α在0與1之間，所述計算是根據所選取樣本的所述統計指標的測量值和所述樣本中的所述部件數量n來進行的；

d)將所計算的不合格部件的比例的數學期望與不合格部件的比例的閾值進行比較，還將所計算的置信區間的下限與所述統計指標的、與所述不合格部件的比例的閾值對應的閾值進行比較；

e)根據步驟d)的比較結果來調節部件的制造，使得：

當所計算的置信區間的下限高于所述統計指標的所述閾值時，不修改部件的制造流程；

當所計算的置信區間的下限低于所述統計指標的所述閾值且針對所述樣本計算的所述不合格部件的比例的數學期望高于所述不合格部件的比例的閾值時，對所述制造設備的調節參數進行調整和/或增加樣本的后續取樣期間所取樣的部件數量；

當針對所述樣本計算的所述不合格部件的比例的數學期望低于所述不合格部件的比例的閾值時，停止所述部件的制造流程。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述至少一個統計指標是由下述公式限定的能力指數Cpk：

其中：

μ為在所選取樣本中的部件上測量的所述特征尺寸的平均值；

σ為在所選取樣本中的部件上測量的所述特征尺寸的標準偏差；

TS為所測量的特征尺寸的上容差限；

TI為所測量的特征尺寸的下容差限。

3.根據權利要求2所述的方法，其中，在步驟c)處，假設所述部件的群體遵循正態法則，并進行以下計算：

c1)根據下述公式來計算所述不合格部件的比例的逆分布函數G_ppm，所述不合格部件存在通過僅知道所述樣本的n個部件的所述特征尺寸的能力指數的測量值而被接受的風險：

其中α∈[0，1]，并且z_α表示標準正態法則的第α百分位值；

c2)通過根據α將所述逆分布函數G_ppm在0與1之間進行積分來計算所述不合格部件的比例的數學期望。

4.根據權利要求2所述的方法，其中，在步驟c)處，假設所述部件的群體遵循正態法則，并且通過計算所述不合格部件的比例的概率密度來確定所述不合格部件的比例的數學期望，其中：

認為在整個群體中存在X₀ ppm的不合格部件的風險對應于由以下公式所給出的能力指數：

基于根據所述樣本的n個部件的所述特征尺寸的能力指數的測量值所計算的置信區間的百分位p來確定所述不合格部件的比例的概率密度，p是根據下述公式計算的：

5.根據權利要求2所述的方法，其中，在步驟c)處，假設所述部件的群體遵循正態法則，并進行以下計算：

c1)假設隨機變量在自由度n-1下遵循學生氏法則，并且隨機變量在自由度n-1下按照χ²的法則分布，根據在所述樣本的n個部件上測量的特征尺寸的平均值和標準偏差來模擬實際群體的多個繪圖，其中μ和σ分別為所述群體的所述特征尺寸的實際平均值和實際標準偏差；然后

c2)針對每個模擬的繪圖來計算不合格部件的比例，并且關于所有模擬的繪圖來計算所述不合格部件的比例的平均值，從而由此得出所述不合格部件的比例的數學期望。

6.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，其中，所述部件的制造流程對應于具有確定數量N₀個部件的批次，其中：

在步驟a)處，取樣以形成樣本的所述部件數量n小于所述批次中的部件數量N₀；

在步驟c)處，還通過下述方式來計算所述批次中不合格部件的比例的平均值：對所述樣本中經測量合格的部件的數量以0值進行加權，對所述樣本中經測量不合格的部件的數量以所計算的數學期望值進行加權，以及對所述批次中未在所述樣本中取樣的部件的數量以所計算的數學期望值進行加權；

在步驟d)處，將所述批次中不合格部件的比例的平均值與所述不合格部件的比例的閾值進行比較；

在步驟e)處，根據步驟d)的比較結果，接受或拒絕該批次所生產的部件。