[發明專利]葡萄糖測量設備和方法

有效

• 申請號: 201580071340.6
• 申請日: 2015-10-28
• 公開（公告）號: CN107106081B
• 公開（公告）日: 2021-04-09
• 發明（設計）人: 趙成濟;金光福;鄭善太;趙在桀;趙徹浩;李承旼;李錠建;鄭仁朝
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: A61B5/08
• 分類號: A61B5/08;A61B5/097;A61B5/145;A61B5/1455
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 于翔;曾世驍

公開了一種葡萄糖測量設備包括：壓力測量器，測量施加于對象的壓力；近紅外線(NIR)輻射器，如果所測量的壓力大于或等于預設值，則將NIR輻射到所述對象；NIR接收器，接收從所述對象反射的NIR、散射的NIR和穿透所述對象的NIR中的至少一個；分析器，基于所接收的NIR測量血糖水平。

技術領域

本公開總體上涉及一種葡萄糖測量設備和方法，更具體地，涉及一種使用紅外線(IR)技術的無創葡萄糖測量設備和方法。

背景技術

有創葡萄糖測量設備被用于通過例如針或注射器從用戶抽取血液以便測量血糖水平。因此，當使用有創葡萄糖測量設備時，用戶往往感受到身體疼痛。此外，如果有創葡萄糖測量設備未被消毒，則用戶可能感染病菌、病毒或細菌。

然而，當使用無創葡萄糖測量設備時，用戶往往感受不到任何身體疼痛。無創葡萄糖測量設備的示例包括使用例如IR、電磁場、呼出氣或貼片的葡萄糖測量設備。

使用IR的葡萄糖測量設備通過向用戶輻射具有多個波長的IR，并分析用戶對所輻射的IR的響應來測量血糖水平。然而，由于除了葡萄糖以外的其它成分受IR影響，因此難以精確地測量血糖水平。此外，由于由諸如外部壓力的因素引起的誤差，難以通過使用IR的葡萄糖測量設備有效地測量血糖水平。

因此，本領域需要一種通過使用無創方法用戶不會感受到任何疼痛，并且精確且有效地測量血糖水平的葡萄糖測量設備和方法。

發明內容

技術問題

使用IR的葡萄糖測量設備通過向用戶輻射具有多個波長的IR，并分析用戶對所輻射的IR的響應來測量血糖水平。然而，由于除了葡萄糖以外的其它成分受IR影響，因此難以精確地測量血糖水平。此外，由于由諸如外部壓力的因素引起的誤差，難以通過使用IR的葡萄糖測量設備有效地測量血糖水平。

因此，本領域需要一種通過使用無創方法用戶不會感受到任何疼痛，并且精確且有效地測量血糖水平的葡萄糖測量設備和方法。

技術方案

根據本公開的一方面，一種葡萄糖測量設備，包括：壓力測量器，測量施加于對象的壓力；近紅外線(NIR)輻射器，如果測量到的壓力大于或等于預設值，則向所述對象輻射NIR；NIR接收器，接收從所述對象反射的NIR、散射的NIR以及穿透所述對象的NIR中的至少一個；分析器，基于所接收到的NIR測量血糖水平。

有益效果

因此，本公開的實施例的一方面是提供一種使用紅外線(IR)的葡萄糖測量設備和方法。

本公開的實施例的另一方面是提供一種減小由于除了葡萄糖之外的內部成分引起的噪聲和外部壓力而產生的誤差的紅外葡萄糖測量設備以及通過使用所述設備測量葡萄糖的方法。

其它方面將在下面的描述中被部分地闡述，并且部分地將從描述中變得顯而易見，或者可以通過實踐所提供的示例性實施例來得知。

附圖說明

從以下結合附圖對實施例的描述中，本公開的上述和/或其它方面、特征和優點將變得顯而易見并且更容易理解，其中：

圖1示出了應用了本公開的使用IR的葡萄糖測量方法的原理；

圖2示出了根據本公開的實施例的由葡萄糖測量設備輻射的NIR的波長；

圖3A和圖3B示出了當測量葡萄糖時由于外部壓力而產生的誤差；

圖4A和4B示出了根據本公開的實施例的葡萄糖測量設備的結構；

圖5示出了根據本公開的另一實施例的葡萄糖測量設備的結構；

圖6A、圖6B和圖6C示出了根據本公開的實施例的向對象輻射NIR的葡萄糖測量設備的操作；