[發(fā)明專利]觸控面板單元在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201580070132.4 | 申請日: | 2015-12-02 |
| 公開(公告)號: | CN107148606A | 公開(公告)日: | 2017-09-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 徳原彌生;金子雅博;谷津信夫;高橋耕平;李瀛;越村克明;梁楚锜;北原美希 | 申請(專利權(quán))人: | 富士通電子零件有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/041 | 分類號: | G06F3/041 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標(biāo)事務(wù)所11038 | 代理人: | 孫蕾 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 面板 單元 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本公開的一個側(cè)面涉及觸控面板(touch panel)單元。
背景技術(shù)
觸控面板設(shè)置在平板(tablet)終端等裝置的顯示器的前面,是一種介由顯示器上所顯示的用戶界面可進行裝置的操作或信息的輸入的輸入裝置,并應(yīng)用在各種各樣的用途中。
作為這樣的觸控面板,廣為周知的有電阻膜式觸控面板和靜電容式觸控面板。就電阻膜式觸控面板而言,形成了透明導(dǎo)電膜的上部電極基板和下部電極基板相對設(shè)置,通過向上部電極基板施力,各透明導(dǎo)電膜相互接觸,由此可進行施力位置的檢測。
電阻膜式觸控面板大致可分為4線型和5線型。就4線型而言,在上部電極基板或下部電極基板的一個上設(shè)置了X軸電極,而在另一個上則設(shè)置了Y軸電極(例如,專利文獻1)。另外,就5線型而言,在下部電極基板上設(shè)置了X軸電極和Y軸電極,而上部電極基板則發(fā)揮用于檢測電壓的探測器(probe)的功能(例如,專利文獻2)。
另外,在靜電容式觸控面板中,通過對手指等接近觸控面板時在觸控面板的透明電極等中流動的電流進行檢測,可實施位置檢測。
此外,還公開了一種對具有上述那樣的不同特征的電阻膜式觸控面板和靜電容式觸控面板進行了積層(層疊)的結(jié)構(gòu)的觸控面板(例如,專利文獻3、4)。
[現(xiàn)有技術(shù)文獻]
[專利文獻]
[專利文獻1]特開2004-272722號公報
[專利文獻2]特開2008-293129號公報
[專利文獻3]實用新案登錄第3132106號公報
[專利文獻4]實用新案登錄第3139196號公報
[專利文獻5]特開2010-73071號公報
[專利文獻6]特開平10-320119號公報
發(fā)明內(nèi)容
[發(fā)明要解決的課題]
然而,就靜電容式觸控面板而言,由于是通過靜電容量耦合(靜電容耦合)進行位置檢測的,所以使用者不需按壓觸控面板而僅是進行觸摸就可對其位置進行檢測,但是卻無法對絕緣體所接觸的位置進行檢測。另外,在電阻膜式觸控面板中,盡管可與按壓觸控面板的物體的材質(zhì)無關(guān)地進行位置檢測,但是為了對作為上部電阻膜的透明導(dǎo)電膜和作為下部電阻膜的透明導(dǎo)電膜之間的接觸位置進行檢測,需要以預(yù)定的力對觸控面板進行按壓。
在市場上所販賣的平板終端中,主要使用了靜電容式觸控面板,所以不能進行絕緣體的接觸位置的檢測。
另外,就專利文獻3、4記載的對靜電容式觸控面板和電阻膜式觸控面板進行了積層的觸控面板而言,由于其具有特殊的結(jié)構(gòu),所以目前難以將其安裝在市場上所銷售的平板終端上。
為此,需要一種可使市場上所銷售的平板終端具有靜電容式觸控面板和電阻膜式觸控面板這兩者的技術(shù)。
[用于解決課題的手段]
根據(jù)本公開的一個側(cè)面,提供一種可安裝在信息終端上的觸控面板單元。所述觸控面板單元具有面板蓋和設(shè)置在所述面板蓋上的第1觸控面板。所述觸控面板單元被構(gòu)成為可安裝在所述信息終端上,以使所述第1觸控面板位于所述信息終端的第2觸控面板之上,所述第1觸控面板和所述第2觸控面板的接觸位置檢測方式不同。
[發(fā)明效果]
根據(jù)本公開的一個側(cè)面,能夠提供一種可使市場上所銷售的平板終端具有靜電容式觸控面板和電阻膜式觸控面板這兩者的觸控面板單元。
附圖說明
[圖1A]平板終端的俯視圖
[圖1B]平板終端的側(cè)視圖
[圖2]第1實施方式的觸控面板單元的斜視圖
[圖3]第1實施方式的觸控面板單元和平板終端的斜視圖
[圖4]第1實施方式的觸控面板單元和平板終端的斜視圖
[圖5]第2實施方式的觸控面板單元的結(jié)構(gòu)圖
[圖6]第2實施方式的觸控面板單元和平板終端的斜視圖
[圖7]第2實施方式的觸控面板單元和平板終端的截面圖
[圖8A]圖7的觸控面板單元和平板終端的局部放大圖
[圖8B]圖7的觸控面板單元和平板終端的局部放大圖
[圖9]第2實施方式的變形例的觸控面板單元的說明圖
[圖10]第3實施方式的觸控面板單元和平板終端的斜視圖
[圖11]第3實施方式的觸控面板單元和平板終端的斜視圖
[圖12]第3實施方式的觸控面板單元和平板終端的側(cè)視圖
[圖13]第3實施方式的觸控面板單元和平板終端的側(cè)視圖
[圖14]第3實施方式的變形例的觸控面板單元的斜視圖
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于富士通電子零件有限公司,未經(jīng)富士通電子零件有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201580070132.4/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F3-00 用于將所要處理的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變成為計算機能夠處理的形式的輸入裝置;用于將數(shù)據(jù)從處理機傳送到輸出設(shè)備的輸出裝置,例如,接口裝置
G06F3-01 .用于用戶和計算機之間交互的輸入裝置或輸入和輸出組合裝置
G06F3-05 .在規(guī)定的時間間隔上,利用模擬量取樣的數(shù)字輸入
G06F3-06 .來自記錄載體的數(shù)字輸入,或者到記錄載體上去的數(shù)字輸出
G06F3-09 .到打字機上去的數(shù)字輸出
G06F3-12 .到打印裝置上去的數(shù)字輸出





