[發明專利]基于對統計指標的同時分析制造部件的方法

有效

• 申請號: 201580069869.4
• 申請日: 2015-12-04
• 公開（公告）號: CN107111305B
• 公開（公告）日: 2020-04-17
• 發明（設計）人: 奧利維爾·法瑞;阿諾德·凱姆貝弗特;帕斯卡爾·考汀;尼古拉斯·哈杜安;查爾斯·克拉爾特·德·朗加范特
• 申請（專利權）人: 賽峰飛機發動機公司
• 主分類號: G05B19/418
• 分類號: G05B19/418
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270
• 代理人: 徐川;姚開麗

1.一種基于對多個表示部件的特征尺寸的不同的統計指標的同時分析來制造所述部件的方法，所述部件由制造裝置生產，其中，

每個統計指標是根據測量的多個部件的特征尺寸的平均值μ和標準偏差σ計算的，每個統計指標與第一參考值以及大于所述第一參考值的第二參考值相關聯，定義為：

驗證集，包括其中所述統計指標大于或等于所述第二參考值的對(μ；σ)；

制裁集，包括其中所述統計指標小于或等于所述第一參考值的對(μ；σ)；以及

控制集，包括其中所述統計指標介于所述第一參考值和所述第二參考值之間的對(μ；σ)；

定義了以下集合：

總驗證集，對應于每個統計指標的不同驗證集的集合相關的組合；

總制裁集，對應于每個統計指標的不同制裁集的集合相關的組合；

總控制集，包括沒有包含在所述總驗證集和所述總制裁集中的對(μ；σ)；

從所述制造裝置生產的部件中提取包含多個部件的樣品，測量所述樣品中的每個部件的特征尺寸，并為所提取的樣品計算所測量的特征尺寸的平均值μ_m和標準偏差σ_m；

確定包含所測量的特征尺寸的平均值μ_m和標準偏差σ_m的對屬于所述總驗證集、所述總制裁集和所述總控制集中的哪一個總集合，并且根據以這種方式確定的總集合進行所述制造。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述確定包含所測量的特征尺寸的平均值μ_m和標準偏差σ_m的對所屬的總集合是在視覺上完成的，其中：

所述包含所測量的特征尺寸的平均值μ_m和標準偏差σ_m的對表示在調節圖形(μ；σ)上，所述調節圖形(μ；σ)具有作為橫坐標的平均值μ和作為縱坐標的表示尺寸的標準偏差σ，在所述調節圖形上顯示了：

圖形驗證區，包括所述總驗證集的對(μ；σ)；

圖形制裁區，包括所述總制裁集的對(μ；σ)；

圖形控制區，包括所述總控制集的對(μ；σ)；

根據所述對所在的圖形區域確定總相關集。

3.根據權利要求2所述的方法，其中，在不同時刻提取多個樣品，包含有為所述樣品測量的特征尺寸的平均值μ_m和標準偏差σ_m的不同對根據所提取的樣品的時間而變化，該不同對在所述調節圖形(μ；σ)上表示。

4.根據權利要求2或3所述的方法，其中，所述調節圖形(μ；σ)顯示在監控器上。

5.根據權利要求1-3任一所述的方法，其中，所述總驗證集對應于每個統計指標的不同的驗證集的交集，以及所述總制裁集對應于每個統計指標的不同的制裁集的并集。

6.根據權利要求1-3任一所述的方法，其中，所述總驗證集對應于每個統計指標的不同驗證集的并集，以及所述總制裁集對應于每個統計指標的不同制裁集的交集。

7.根據權利要求1-3任一所述的方法，其中，分析分別稱為第一統計指標、第二統計指標和第三統計指標的三個不同的統計指標，其中，

所述總驗證集對應于所述第一統計指標的驗證集與所述第二統計指標的驗證集和所述第三統計指標的驗證集之間的交集的并集；以及

所述總制裁集對應于所述第一統計指標的驗證集與所述第二統計指標的驗證集和所述第三統計指標的驗證集的并集之間的交集。

8.根據權利要求7所述的方法，其中，

所述第一統計指標是由下式定義的第一能力指標Cpk：

所述第二統計指標是由下式定義的第二能力指標Cp：

所述第三統計指標是由下式定義的定心系數Cc：

其中：

TS是測量的特征尺寸的較大的公差；

TI是測量的特征尺寸的較小的公差。

9.根據權利要求1-3任一所述的方法，其中，

如果確定包含所測量的特征尺寸的平均值μ_m和標準偏差σ_m的對屬于所述總驗證集，則不修改部件的制造條件；

如果確定包含所測量的特征尺寸的平均值μ_m和標準偏差σ_m的對屬于所述總制裁集，則停止部件的制造；

如果確定包含所測量的特征尺寸的平均值μ_m和標準偏差σ_m的對屬于所述總控制集，則通過調整所述制造裝置的調節參數來調整部件的制造條件。